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HN300电缆故障测试仪 电缆故障测试仪 HN300系列 地埋电缆电缆故障测试仪价格实惠
用于35kV及以下不同等级、不同截面、不同介质及材质的电力电缆的各类故障,包括:开路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻闪络性故障。可配合高压设备实现传统电缆故障测试的低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法。 全中文操作软件和使用界面,子菜单方式和文字提示实现人机互动。工业级10.4寸彩色触摸液晶屏显示,全中文操作软件和使用界面,子菜单方式和文字提示实现人机互动。示波记录仪隔离测试示波记录仪从仪器板卡着手,各输入通道之间相互绝缘隔离,可程度确保在强干扰、多参考电压等复杂环境下的测试,同时隔离板卡精度能够达到,同时隔离板卡精度可以达到0.3%,0.03%,远高于市面上较为普遍的八位ADC示波器2%的精度。多通道测试在测试中,通道数往往非常重要,比如三相输入,三相输出的变频器,六相电压电流就需要十二个通道,一般的示波器通常只有4个通道,无法满足需求,目前主流的应对方法是,使用4通道示波器,电压差分和电流各两个,每次测量两相电流电压,而后再测试其他相,如此一来,就不能保证测试的同步性,从而造成了很大的误差,示波记录仪可选配8个卡槽,可根据需求选配不同卡槽,轻松变为八通道,十六通道的高精度隔离示波器,保证测试的同步性,**性,准确性,为电源测试领域提供强有力的保障。

技术参数
1. 采样方法:低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法
2. 采样速率:200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz
3. 脉冲宽度:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs
4. 波速设置:交联、聚氯、油浸纸、不滴油和未知类型自设定
5. 冲击高压:35kV及以下
6. 测试距离:<60km,盲区≤1m
7. 分 辨 率:1m
8. 测试精度:1m
9. 显示方式:工业级10.4寸彩色触摸液晶屏
单芯片集成的趋势使得手持设备变的小巧而可靠,并具备了多种功能。现在的驱动器的尺寸已经小于1mm3,但仍然能提供高质量、无明显干扰的输出信号。除了半导体制造技术的进步之外,小尺寸的芯片和表面贴装芯片的流行也意味着更多的高科技元件能做成的体积。表面贴装芯片比过孔式模型有更多的优势,比如能用取放机器进行简单的自动组装,在节省空间的双面电路板设计方面提供更多的灵活性。采用较少的元件是另一个节省空间和能量的趋势,它能使便携设备在变小的同时延长了电池寿命。
四、工作原理
本产品采用的是时域反射(TDR)原理,即对电缆发射一电脉冲,电脉冲将在电缆中匀速传输,当遇到电缆阻抗发生变化的地方(故障点),电脉冲将产生反射。测距主机将电脉冲的发射和反射的变化以时域形式通过液晶屏显示出来,通过屏幕上的波形可直接判读故障距离。
① 开关按键:按下自锁接通电源,再按解锁断开电源。开机2分钟无任何操作时,屏幕将变暗进入屏保节能状态。石英晶体的化学成分是化硅,可以用做振荡电路,是利用它的压电效应。当交变电压施加于石英晶片时,晶片将随交变电压的频率产生周期性的机械振动;同时,机械振动在晶片产生电荷而形成交变电流。一般来说,这种机械振动的振幅很小,而振动频率很稳定。但当外加信号源的频率与晶体的固有频率相等时,晶体便发生共振,此时晶体外电路的交变电流也,这个现象称为石英晶体的压电谐振。因为晶体振荡电路的频率稳定性很好,所以广泛应用于电子系统中,为其提供基准时钟。
② 充电端口:用于连接充电器,给电池充电。
③ 中值旋钮:顺时针旋动中值向上走动;逆时针旋动中值向下走动。(需采样刷新才有变化)大;逆时针旋动幅度减小。(需采样刷新才有变化)
⑤ 采样端口:四芯座,用于连接采样线。使用传感器的测试小技巧来完成测试可以把原边导线多绕几圈,通过增加一次侧的匝数,来改变输入输出的变比,比如,霍尔传感器IT1000-S变比为1:1000,原边导线多绕5圈,此时,输入输出的实际变比为1:200,并在功率计上更改变比值,这样测量的电流值为1A*1%*200=2A,相比原来的10A,上升了一个台阶,按照此道理,可以再多绕几圈,可以测量的电流值将进一步缩小。上面讲解的两种方法都是可取的,有条件的话当然选用PATV-33,所能测量的电流更小。
⑥ 触摸式彩色液晶屏:详见“工作界面介绍”。
按“ ”键,弹出采样方式选择子菜单。子菜单中包括:“低压脉冲”、“闪络方法”和“速度测量”。仪器开机默认“低压脉冲”,根据测试需要,可选择相应的采样方式,再按“采样方式”键退出。
按“ ”键,弹出脉冲宽度选择子菜单。子菜单中包括7个选项,分别为:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根据测试距离选择合适的脉宽,按对应的子菜单键可以对脉冲宽度进行选择,仪器开机默认0.2μs,再按“脉宽”键退出此项功能。注意:在高压闪络法测试中此项不做选择。
相位噪声指标对于当前的射频微波系统、移动通信系统、雷达系统等电子系统影响非常明显,将直接影响系统指标的优劣。该项指标对于系统的研发、设计均具有指导意义。相位噪声指标的测试手段很多,如何能够的测量该指标是射频微波领域的一项重要任务。随着当前接收机相位噪声指标越来越高,相应的测试技术和测试手段也有了很大的进步。同时,与相位噪声测试相关的其他测试需求也越来越多,如何准确的进行这些指标的测试也愈发重要。