产品详情
  • 产品名称:冲击耐压试验装置 HNCJ系列 超低频耐压试验装置生产厂家

  • 产品型号:HNDL
  • 产品厂商:华能
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简单介绍:
适用于JP柜,配电箱温升试验,电力系统技术人员检验电流互感器保护装置及二次回路电流试验。也可用于开关,电缆、直流电流传感器和其它电器设备作电流负载试验及温升试验。冲击耐压试验装置 HNCJ系列 超低频耐压试验装置生产厂家
详情介绍:

HNCJ系列雷电冲击电压发生装置
冲击耐压试验装置 HNCJ系列 超低频耐压试验装置生产厂家冲击耐压试验装置 HNCJ系列 超低频耐压试验装置生产厂家产品简介:

冲击电压发生器主要用于电力设备等试品进行雷电冲击电压全波、雷电冲击电压截波和操作冲击电压波的冲击电压试验,检验绝缘性能。冲击电压发生器一种模仿雷电及操作过电压等冲击电压的电源装置。主要用于绝缘冲击耐压及介质冲击击穿、放电等试验中。

适用范围:变压器、电抗器、互感器及其它高压电器、高压晶闸管阀SVC(HVDC)、电力电缆、各类高压绝缘子、套管等试品的标准雷电冲击,雷电截断波,操作冲击及用户要求的非标准冲击波的各类冲击电压试验。一套设备就可产生多种试验波形(标准的和非标准的波形,用户提出来的波形)。 适用领域:质检鉴定计量检测监督机构,电力设备制造厂,铁路通信,航天和航天飞行器,科研单位,大专院校以及气象等部门的防雷和雷电试验。电子元器件的降额等级可以参考《标准——元器件降额准则GJB/Z35-93》,一般可分成三个降额等级:Ⅰ级降额:I级降额是的降额,适用于设备故障将会危及**,导致任务失败和造成严重经济损失的情况。Ⅱ级降额:工作应力减小对元器件可靠性增长有明显效益,适用于设备故障会使工作任务降级,或需支付不合理的维修费用。Ⅲ级降额:Ⅲ级降额是的降额,相对来说元器件成本也较低。适用于设备故障对工作任务的完成只有小的影响,或可迅速、经济地加以修复。

 

产品别称:冲击电压发生器,雷电冲击电压发生器试验装置,雷电冲击电流发生器,电压发生器试验装置

MOS管种类和结构MOSFET管是FET的一种(另一种是JFET),可以被制造成增强型或耗尽型,P沟道或N沟道共4种类型,但实际应用的只有增强型的N沟道MOS管和增强型的P沟道MOS管,所以通常提到NMOS,或者PMOS指的就是这两种。右图是这两种MOS管的符号。至于为什么不使用耗尽型的MOS管,不建议刨根问底。对于这两种增强型MOS管,比较常用的是NMOS。原因是导通电阻小且容易制造。所以开关电源和马达驱动的应用中,一般都用NMOS。冲击耐压试验装置 HNCJ系列 超低频耐压试验装置生产厂家
HN
CJ-V 雷电冲击电压发生装置产品特征

 

1、回路电感小,并采取带阻滤波措施,在大电容量负载下能产生标准冲击波,负载能力大。

 

2、电压利用系数高,雷电波和操作波分别不低于85%80%

 

3、调波方便,操作简单,同步性能好,动作可靠。按照存储芯片MicroSD卡供电要求的范围:2.7V-3.6V;不允许超出此范围,否则,芯片在不稳定的电压下工作会有比较大的风险,甚至会对卡片的正常工作带来影响。需要考虑的是示波器的设置,究竟是否需要进行20MHZ的带宽限制?详细的使用环境如下图所示:如何去测试“高频开关电源”噪声IPAD刚引出来的那个端口可以当做电源的源端,而通过后端的外围模块后在末端进行测试的时候,电源通过了一段PCB走线,包括一些芯片回路,应该存在高频的噪声,如果采用20MHZ的带宽限制,实际上是将原本属于模块的噪声给滤掉了,为此,我们进行了对比测试进行验证:步,我先验证IPAD的供电端在工作时的输出,如下图:通过直接验证IPAD的输出口的电压,保证源端的供电是正常的;通过测试,我们发现在源端测量的电压值在3.4V(500MHZ带宽测量)左右,峰峰值29mV,是非常稳定的供电;可以排除源端供电的问题,接下来,我们直接在通过整个模块后在MicroSD卡的供电脚SDVCC对电行测量,如下图:当我们在图片上的点进行测试的时候,发现在高频开关电源上有相当大的噪声,使得电压超出了规范要求的范围,值达到了3.814V,峰峰值达854mV;但当我们将示波器设置为20MHZ带宽的时候,高频开关电源变的非常好,完全在供电要求的范围内;正如在本文开头描述的,在本次高频开关电源测试过程中,已经不是高频开关电源纹波测量,而应该是噪声。冲击耐压试验装置 HNCJ系列 超低频耐压试验装置生产厂家冲击耐压试验装置 HNCJ系列 超低频耐压试验装置生产厂家冲击耐压试验装置 HNCJ系列 超低频耐压试验装置生产厂家冲击耐压试验装置 HNCJ系列 超低频耐压试验装置生产厂家

 

4、采用恒流充电自动控制技术,自动化程度高,抗干扰能力强。

 


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