产品名称：青岛华能专业定制 熔断器测试仪 厂家直供

HNWDL-8000温升三相大电流发生器 青岛华能专业定制 熔断器测试仪 厂家直供

又称：大电流温升试验设备，大电流温升试验系统，大电流温升试验装置

功能简介：

     HNWDL-10000温升三相大电流发生器主要用于母线槽，开关，开关柜和其它电器设备作电流负载试验及温升试验。

功能特点：

1）内置高配置工控机，采用可编程控制器西门子S730PLC作为中心处理器，对交流信号进行实时扫描,实现监测和闭环控制，并设计设置管理，只有获得相应操作权限的人员，才能进行某些功能的操作。”红外热像仪可以通过蝙蝠的热特征来实现蝙蝠的监测。蝙蝠是夜行动物，通常在黄昏时离开白天的栖息地，这是在行动中捕捉蝙蝠的理想时刻。由于红外热像仪探测的是热量，而不是光线，因此研究人员可以在夜间研究蝙蝠，而夜间正是蝙蝠活跃的时段。由于其视觉特性，热成像技术还可与智能软件相结合，智能软件能够计数和识别蝙蝠并执行智能运动跟踪。PPUR研究小组成员在洞穴前的泻湖里，黄昏前时刻，这时是红外热像仪捕捉离开洞穴的蝙蝠的理想时刻。

2）进口PC机15英寸真彩大液晶触摸工业平板电脑操作，采用支持现场总线技术的智能型传感器，实现数据传送的全数字化，显示操作单元选用了触摸式彩色液晶显示屏，全中文菜单，界面清晰直观，操作简单方便。测试无需外接任何辅助设备，全自动控制，式操作，快捷、简单、方便

3）本仪器测试方法有全自动测试与手动测试两种方法，只需设置简单的试验电流与时间即可。带有自动稳流系统，配有4个USB口，轻松U盘、打印机等多种设备。并以通过鼠标接口直接操作。提供RS232和RS485两种通讯接口选择，可与后台计算机连接，通过RS232接口可以直接与电脑PC机通讯，可以打印曲线，提供电脑通讯软件；实现数据和温度曲线打印；在精密测试测量行业，测量准确度(精度)是仪器本身的灵魂，是仪器重要的指标之一，但不同的仪器其准确度有不同的表达方式，因此只有理解了仪器的精度指标后才能更好地指导我们进行测量。在测试测量过程中，受测量仪器硬件本身、测量条件或测量方法的影响，测量得到的结果(测量值)与真实值之间有一定的差异，这个差异就是测量误差，测量误差可能包含与测量值成比例的误差，也可能包含与测量值无关的固定误差。

4）只需设置好目标电流即可，无需人工监控，仅需设定测试、电流和步长，省去手动调压、人工记录、描绘曲线等烦琐劳动，减小劳动强度，提高工作效率也可工作结束后把数据读到电脑上查看即可。

5）有超过限定值自动报功能具有可靠的过热、过流、过压及短路自我保护功能。交流调压装置保护应采用微机自动保护控制和机械微动限位开关双重保护，确保恒流电源正常工作，提高产品的**性、可靠性。

传感器可以被用来测量物理量。根据测量的物理量不同，传感器可以分成温度传感器、流量传感器、压力传感器等很多种类。但是所有传感器工作原理都是基于物理定律，如果出现了新的现象或在特定物质中，在某方面出现了奇异的效应，就可以利用这些现象和效应来研制传感器。经常被用来制作传感器的物理现象和效应有霍尔效应、多普勒效应、压阻效应、应变效应等。但是并不是所有研制出来的传感器都能够使用，因为传感器要满足可靠性的要求，为了从传感器的输出信号中得到被测量的原始信息，如果传感器不稳定，那么对同样的输入信号，其输出信号就不一样，则传感器会给出错误的输出信号，使传感器的作用失灵。

主要技术指标：电流值由客户根据需要确定

型号		HNWDL-8000A
大输出电流		交流单相8000A  3组
电路方式		电动柱式调压器
交流输入	相线	3Φ4W +G
	电压	380V±10%，50Hz±2%三相四线
	输入电流	834A
输出	相线	1Φ2W +G
	开路电压	0-20V自动转换
	电流	AC  0-8000A连续可调   准度：0.5
	稳流准度	输出电流≤±0.2%
	输出端子	接线端子
	保护	电子电路快速侦测过电压、过电流、过高温自动跳脱保护及告装置 非测试状态电压为零，电流为零

青岛华能专业定制 熔断器测试仪 厂家直供半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。