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HNDL800 JP柜 配电箱温升试验系统 青岛华能生产全自动配电箱温升试验装置 诚信服务
用于箱变,配电箱额定电流温升试验。温升试验装置技术性能需满足根据GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等试验标准对开关柜进行试验的要求。下文将从技术种类、产业机遇及国内代表性企业近况等方面对产业进行一个简单的介绍。封装技术有哪些?封装的分类方式有多种,如以封装组合中芯片数目为依据可以分为单芯片封装和多芯片封装;以材料为依据可以分为高分子材料类和陶瓷类;以器件和电路板连接方式为依据可以分为引脚插入型和表面贴装型;以引脚分别为依据可以分为单边引脚、双边引脚、四边引脚、底部引脚等。封装技术历经多年发展,常见的类型有如下几种:BGA(BallGridArraye):球栅阵列封装,表面贴装型封装之一,是在封装体基板的底部制作阵列焊球作为电路的I/O端与PCB板互接,由美国Motorola公司开发。
1.2 技术参数要求
恒流输出电流:AC范围 0到额定电流,连续可调, 且该输出电流为真有效值(指负载被试开关柜及相关标准规定的试验附件, 可输出的电流有效值, 电流稳定输出时间应满足工作时间要求)
输出波形:标准正弦波
输出频率: 50Hz (+5%, -2%)
输出电压:0-6V,且连续可调
工作时间:大电流输出不少于24小时
输出相数:三相 多路
一个捕获周期包括采样时间和死区时间,模拟信号通过ADC采样量化变转为数字信号同时存储,整个采样存储过程的时间称为采样时间。示波器必须对存储的数据进行测量运算显示等处理,才能开始下一次的采样,这段时间称为死区时间。死区时间内,示波器并没有进行波形采集。一个捕获周期完成就会进入下一个捕获周期。捕获周期的倒数就是波形刷新率,如.1中所示,波形刷新率=1/(Tacq+Tdeat)。.1示波器采样过程示意图影响波形刷新率的因素有哪些?采样时间和死区时间如.1中所示,波形刷新率为Tacq(采样时间)和Tdeat(死区时间)的倒数,其中采样时间由示波器屏幕的采样窗格决定,用水平时基档位乘以水平方向格数,当水平时基确定后,采样时间就会固定。
具备供电电源三相输入电压、输入电流显示功能
具备试验过程记录功能(持续记录输出电压、输出电流相关数据)
具备试验结果自动计算功能
具备传输后编辑报告生成功能
具备全自动测试与手动测试两种方法,全自动测试时只需简单设置试验电流、时间、记录步长即可,带自动稳流系统。系统跟踪目标电流,自动调整、平衡三相输出电压、电流,并可自动记录电流、电压数据,。
1.3 恒流源配置列表:(按照客户具体需求配置)
序号 |
名称 |
数量 |
1 |
3回路三相0-100A电流调节器 |
1 |
2 |
3回路三相0-400A电流调节器 |
1 |
3 |
3回路三相0-630A电流调节器 |
1 |
4 |
3回路三相0-800A电流调节器 |
1 |
