产品名称：变频式互感器测试仪 电流互感器现场测试仪 全自动互感器试验台

振铃现象持续的时间由群延时图显示。是该滤波器的频域/时域综合图。显示了每个分离倍频程的中心频率的波长。二者有何相关？由于声速约为1英尺/毫秒（ft/ms），每个倍频程的中心频率波长大约等同于一周期所需时间。波长的概念以十分形象的方式显示声波与时间和空间有关，而滤波器的响应也是如此。群延时（GD）与滤波器的频率波长成正比关系，频率越低，群延时越长。单从名称来看，似乎指的是信号通过滤波器所造成的延时，这有点误导人。
HN10A互感器特性综合测试仪变频式互感器测试仪 电流互感器现场测试仪 全自动互感器试验台

功能简介：

测试互感器：PT、CT（保护类、计量类）、伏安特性（励磁特性）曲线、自动给出点值、自动给出5%和10%的误差曲线、变比测量、比差测量、相位（角差）测量、极性判断、一次通流测试、交流耐压测试、二次负荷测试、二次绕组测试、铁心退磁等设计的多功能现场试验仪器。

技术参数：

1、工作电源：AC220V±10% 、50Hz

2、设备输出：0～2500Vrms， 5Arms（20A峰值）

3、大电流输出：0～1000A

4、二次绕组电阻测量范围：0.1～50Ω

5、二次绕组电阻测量准度：≤0.5%、分辨力0.01

6、二次实际负荷测量范围：5～300VA

7、二次实际负荷测量准度：≤0.5%±0.1VA没考虑现在应用广泛的多级，多片摆线轮，多曲柄轴的传动精度的影响。在误差上只考虑到了针齿直径的影响、及参数对回转误差、扭转振动的影响关系。但并未考虑其双级、多片摆线齿轮、多个曲柄轴的结构中。使用此几何方法计算是比较困难的。之后日本的研究员日高照晃就开始了这方面的研究。主要考虑了多级传动，多摆线齿轮传动和多曲柄轴结构。并采用了一种质量弹簧的等价模型理论。构造了摆线行星齿轮结构的回转传动误差的数学模型。

软件使用说明 

11.1 将配套光盘放入计算机光驱中，解压“软件”至C盘根目录。

11.2，安装“wic_x86_chs.exe”文件，其次，安装“dotNetFx40_Full_x86_x64.exe”软件，默认安装地址即可。

11.3安装完毕后，打开“伏安特性”文件夹，选择打开“VATeXing.exe”操作软件，如图38即为上位机操作软件。

11.4在“VATeXing.exe”操作软件中，下方选择互感器种类“CT”或“PT”，应用语言“中文”或“英文”。

11.5如需生成报告格式文件，必须载入试验结果数据，具体操作方法如下：

a）、将存储试验数据的U盘连接至计算机。

b）、在图38中选择打开“选择文件”，出现图39操作窗口，在图39中可根据需要载入所需文件。

c）、试验结果数据说明：以“A”为开头的数据为励磁特性结果数据，以“B”为开头的数据为变比极性结果数据，以“C”为开头的数据为负荷结果数据，以“D”为开头的数据为直阻结果数据。以“E”为开头的数据为角差比差结果数据，以“T”为开头的数据为暂态结果数据。

11.6 载入数据结束后，选择“确定”出现图40界面，在此界面右上方设置相应参数后，选择“生成误差曲线”则完成所有试验结果的载入。

11.7 载入完成后，可根据需要选择“保存”或打印结果数据。

11.8  选择“保存”选项，则以WORD的形式显示结果如图41。

11.9  如需继续加载试验结果数据，请先上次载入的数据。

HN12A变频式互感器综合仪（CT/PT仪）

功能简介：

1 励磁特性试验

2 变比试验

3 相位和极性试验

4 CT一次电流及负荷时的比差、角差测量

5 CT二次绕组电阻测量

6 CT二次回路负荷测量

7 CT暂态特性测试与

8 CT升流试验

9 测量校核型号的CT、PT，包括保护CT、计量CT、TP级暂态CT、励磁饱和电压达到40KV的CT、变压器套管CT、各电压级PT等.

10 点电压/电流、10%(5%)误差曲线、准确限值系数、仪表保安系数、二次时间常数、剩磁系数、准确级、饱和和不饱和电感等CT、PT参数的测量.

自动给出点电压/电流、 10％误差曲线、 5％误差曲线、准确限值系数（ALF）、 仪表保安系数（FS）、 二次时间常数(Ts)、剩磁系数(Kr)、准确级、饱和和不饱和电感等参数。

技术参数：

输出电压：0~180V (RMS)
■ 输出电流：0~12A，峰值36A
■ 电压测量：准确度 ±0.1%
■ CT变比测量范围：1~30000
■ PT变比测量范围：1~30000变频式互感器测试仪 电流互感器现场测试仪 全自动互感器试验台如果示波器没有足够大的存储深度，则再高的采样率也无法充分发挥价值。ZDS454Plus标配512Mpts存储深度，哪怕面对4GSa/s的采样率，也能存储长达128ms的波形。“真正意义”测量如果不能对所有存储深度的每一个波形都进行测量，存储深度的价值也就是“波形不失真”这一基本要求而已，却无法更进一步地去自动挖掘出波形中存在的异常。只有具备“真正意义”参数测量统计功能，512Mpts的海量数据的价值才能被挖掘，否则如果只测其中的一个周期，海量的数据有何意义？不同于传统示波器只测一个周期，或通过抽样减少数据量再测量的模式，ZDS454Plus通过FPGA全硬件并行处理，基于原始采样率和512Mpts全存储深度，对每一帧波形每一周期进行测量统计，可在几百毫秒内实现对512Mpts数据的“真正意义”参数测量，测试项目可达51种，并且支持24种参数同时显示。