产品名称：绝缘油介质损耗及体积电阻率测试仪

有报道指出，光纤光栅传感器已成功检测了频率为.1Hz～2Hz，大小为1-9e的岩石和地表动态应变。在航天器及船舶中的应用先进的复合材料抗疲劳、抗腐蚀性能较好，而且可以减轻船体或航天器的重量，对于快速航运或飞行具有重要意义，因此复合材料越来越多地被用于制造航海工具(如飞机的机翼)。为衡量船体的状况，需要了解其不同部位的变形力矩、剪切压力、甲板所受的抨击力，普通船体大约需要1个传感器，因此波长复用能力极强的光纤光栅传感器于船体检测。
HN7030A变压器绝缘油介质损耗测试仪

用于绝缘油等液体绝缘介质的介质损耗因数和直流电阻率的测量，内部集成了介损油杯、温控仪、温度传感器、介损测试电桥、交流试验电源、标准电容器、高阻计、直流高压源等主要部件。，该仪器应用先进的测控技术,全自动完成升温、控温、高速数据采样、运算、显示、打印及存储等过程.

技术指标

测 量 范 围： 电容量       5pF～200pF
              相对电容率   1.000～30.000
              介质损耗因数 0.00001～100
直流电阻率    2.5 MΩm～20 TΩm
测 量 准 度： 电容量       ±(1%读数+0.5pF)
              相对电容率   ±1%读数
              介质损耗因数 ±(1%读数+0.0001)
              直流电阻率   ±10%读数
分  辨   率： 电容量       0.01pF
              相对电容率   0.001
              介质损耗因数 0.00001
测  温 范 围： 0～125℃
温度测量误差： ±0.5℃
交流实验电压： 500～2200V  连续可调，频率50Hz
直流试验电压： 0～500V     连续可调绝缘油介质损耗及体积电阻率测试仪上面句话一说出来，很多人就认识到问题出在哪了。相信没有哪一个实验是使用同一个东西来验证自己的正确性。校准件的厂商通常提供专门的校验件，以便用户进行验证校准结果的正确性。若没有校验件，建议使用另外一套校准件或者自己保留一个已知特性的适配器/转接器/衰减器进行验证。不要用手拧校准件力矩扳手是校准件的标配，通常手册中也会介绍力矩扳手的使用方法。力矩扳手也是“定标”过的产品，能保证校准件与仪器/电缆接触面到达“恰到好处”的接触。

感谢您选择了绝缘油介质损耗及体积电阻率测试仪！为方便您尽早尽快地熟练操作本仪器，我们特随机配备了内容详实的操作手册，从中您可以获取有关产品介绍、使用方法、仪器性能以及**注意事项等诸多方面的信息。

在次使用仪器之前，请务必仔细阅读本操作手册，并按本手册对仪器进行操作和维护，这会有助于您更好的使用该产品，并且可以延长该仪器的使用寿命。

在编写本手册时，虽然我们本着科学和严谨的态度进行了工作，并认为本手册中所提供的信息是正确和可靠的。然而，智者千虑必有一失，本手册也难免会有错误和疏漏之处。如果您发现了手册中的错误，请务必于百忙之中抽时间，尽快设法告知我们，并烦请监督我们迅速改正错误！本公司全体职员将不胜感激！我们离物联网时代越来越近，搭配5G通讯的催化下，穿戴式装置已走向你我的身边。世界各大电子消费性厂商纷纷的投入相关领域，如ApplSamsun华为等。低功耗、能产品也不断的推出，如眼镜、手表、衣服……除此之外，也利用高科技从事智能化监控，常见的如心率、血压、步率……量测挑战穿戴式装置对厂商来说除了功能够先进与实用来取得消费者的喜爱外，面临另一挑战就是如何使穿戴式装置能体积极小化与长时间使用。

本公司保留对仪器使用功能进行改进的权力，如发现仪器在使用过程中其功能与操作手册介绍的不一致，请以仪器的实际功能为准。我们希望本仪器能使您的工作变得轻松、愉快，愿您在繁忙的工作之中体会到办公自动化的轻松而美好的感觉！在过去十几年中，对电动车行业来说，是迅猛发展的阶段。但近年来，市场形势低迷，产能扩张减速，电动车行业正在进入调整阶段。但与此同时，另外一个新兴产业——智能平衡车行业却蓬勃发展，在乃至都呈燎原之势。平衡车是什么？在平衡车还没有普及开来，况且人们脑海中印象深刻的电动摩托车，电动自行车正大行其道的这么一个时代里，大多数人对于什么是平衡车这个概念还是比较模糊的，或者至少大多数人还未真正的接触过平衡车。

注意事项

1.遵守高压试验**工作规程。

2.因仪器内部有高压及高温，在工作过程中，禁止打开油杯罩。

3.仪器在使用过程中要可靠接地。

4.要注意仪器使用环境的清洁。

5.油杯安装和清洗应严格按规定进行，否则将造成油杯放电，致使仪器无法正常工作。

6.管损坏，必须更换相同规格管。先测试出可控硅的峰值电压，将电线正负极连接至K两极，接地线接至室内主接地上，逐渐升压，测试其漏电流数值。进行漏电测试后，逐渐升压，观测漏电流，当数值超过其额定峰值电压后，可控硅被击穿，但采用此方法可能会破坏其PN结，并且只能测试其是否导通，而不能测试其导通是否良好，故不再采用此法进行测试。摇表测试法用摇表对可控硅进行测量，参照之前使用的漏电检测法。为防止摇表法测试过程中击穿或损坏可控硅，改变摇表操作方法，即要对摇表电压和转速进行控制，两笔端链接K极对其进行测试。