
- 联系人 : 车高平 肖吉盛
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单芯片集成的趋势使得手持设备变的小巧而可靠,并具备了多种功能。现在的驱动器的尺寸已经小于1mm3,但仍然能提供高质量、无明显干扰的输出信号。除了半导体制造技术的进步之外,小尺寸的芯片和表面贴装芯片的流行也意味着更多的高科技元件能做成的体积。表面贴装芯片比过孔式模型有更多的优势,比如能用取放机器进行简单的自动组装,在节省空间的双面电路板设计方面提供更多的灵活性。采用较少的元件是另一个节省空间和能量的趋势,它能使便携设备在变小的同时延长了电池寿命。
HN7080A变压器综合测试系统华能 变压器综合试验台 变压器特性综合试验系统 操作说明
两种操作模式:自动模式、按钮模式,且两种操作模式自动互锁;
自动化程度高,具有一键启动可自动完成空载试验、负载试验、变比测量、直流电阻测量、工频试验、感应试验;
集成度高、功能齐全,满足10kV、20kV、35kV、110kV、220kV、330kV、500kV等不同电压等级电力变压器和特种变压器出厂试验、型式试验、试验;
试验项目:
空载损耗测量、空载电流百分比(自动换算到额定电压下数值);
负载损耗测量、阻抗电压百分比(自动换算到额定电流参考温度下数值);
绕组直流电阻快速测量;
变比组别自动测量(电压比测量,连接组标号试验);
外施耐压试验(工频耐压试验);
感应耐压试验(倍频倍压试验);
绝缘电阻测量;
雷电冲击试验;
绝缘油试验(击穿电压、闪点、酸值、体积电阻率、水分等);
局部放电试验;
温升试验;
可完成10kV、20kV、35kV、110kV、220kV、330kV、500kV及特种变压器的出厂试验、型式试验和试验;华能 变压器综合试验台 变压器特性综合试验系统 操作说明测试原理地线漂移:利用电源不断抬高DUT的GND,测试总线通讯正常时,DUT所允许的地线漂移。地线丢失:使DUT单掉地,测试1分钟内DUT是否仍然正常工作。电源丢失:使DUT单丢失电源,测试总线是否受到干扰,重接电源后DUT是否能恢复通讯。CAN线中断:测试在CAN_H断开1分钟,重连后DUT是否能恢复通讯。CAN_L断开1分钟,重连后DUT是否能恢复通讯。CAN_H和CAN_L同时断开1分钟,重连后DUT是否能恢复通讯。