产品名称：远见 青岛华能HN6000 介质损耗测试仪 三相变比组别测试仪

Simplelink传感器控制器是的16位处理单元(CPU)核心，在活动模式、待机模式和启动耗能阶段均只消耗极低功率。如图2所示，该传感器控制器包括模拟和数字外围设备，它们专为实现功率而进行了优化。利用这些外围设备和2MHz时钟模式，使得该控制器非常适合感应式测量应用，从而实现功率：，基于感应式测量原则，可以在100Hz时达到低至3.9μA的平均电流消耗值。欲了解详情，请参阅流量表应用示例，阅读“采用CC13x2R无线MCU的单芯片流量表解决方案。
HN6000A四通道变频抗干扰高压介质损耗测试仪  远见 青岛华能HN6000 介质损耗测试仪 三相变比组别测试仪

   该仪器可用正、反接线方法测量不接地或直接地的高压电器设备。可以测量电容式电压互感器的tg及主电容C1、C2电容量。适用于电力行业中变压器、互感器、套管、电容器、避雷器等设备的介损测量。

抗干扰介损自动测试仪 技术参数
    1、准确度：
    Cx: ±（读数×1%+1pF）
    tg: ±（读数×1%+0.00040）
    2、抗干扰指标： 变频抗干扰，在200%干扰下仍能达到上述准确度
    3、电容量范围：
    内施高压： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV
    外施高压： 3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV
    分辨率： 更高0.001pF，4位有效数字
    4、tg范围： 不限，分辨率0.001%，电容、电感、电阻三种试品自动识别。
    5、试验电流范围：10μA～1A
    6、内施高压： 
    设定电压范围：0.5～10kV
    输出电流：200mA
    升降压方式： 连续平滑调节
    试验频率：
    45、50、55、60、65Hz单频     
    45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自动双变频无论是实验室环境还是生产车间，都需要采用更的半导体测试方法。半导体测试是NI的战略重点。我们正在扩展我们的软件平台和PXI功能，以帮助芯片制造商应对他们面临的挑战，这一点通过NI的PXISMU可以完全体现出来。”由于其高吞吐量、高性价比和占地面积小，NI的半导体测试系统(STS)正在快速应用到芯片生产中。全新的PXIe-4163SMU则进一步增强了这些功能，它能提供更高的直流通道密度，使多站点应用具有更高的并行性，以及在生产中提供实验室级别的测量质量。
    频率准度： ±0.01Hz
    7、外施高压：
    正接线时试验电流1A，工频或变频40-70Hz
    反接线时试验电流10kV/1A，工频或变频40-70Hz
    8、CVT自激法低压输出：输出电压3～50V，输出电流3～30A远见 青岛华能HN6000 介质损耗测试仪 三相变比组别测试仪对于极性大、脂溶性差物质,在YWGCl8柱上不易保留,用十二烷基磺酸钠作为离子对试剂,降低其极性,延长柱上的保留时间,取得较好的分离较果。将液相色谱和质谱这两个强有力的技术在线连接在一起,经过三十年的发展已成为一项较为成熟的手段,但是它从形成伊始就存在着问题:从液相色谱流进质谱时,流动相的变化、溶剂的组成、高温高压离子化的问题制约着这种联用技术发展,大气压离子化接口具有去除溶剂和离子化的双重功效,它的引入,使得该技术在各个领域得到了广泛的应用。