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HN6000A四通道变频抗干扰高压介质损耗测试仪 HN60四通道介质损耗测试仪 华能有源变压器容量特性测试仪 变压器直流电阻测试仪
该仪器可用正、反接线方法测量不接地或直接地的高压电器设备。可以测量电容式电压互感器的tg及主电容C1、C2电容量。适用于电力行业中变压器、互感器、套管、电容器、避雷器等设备的介损测量。
抗干扰介损自动测试仪 技术参数
1、准确度:
Cx: ±(读数×1%+1pF)
tg: ±(读数×1%+0.00040)
2、抗干扰指标: 变频抗干扰,在200%干扰下仍能达到上述准确度
3、电容量范围:
内施高压: 3pF~60000pF/10kV 60pF~1μF/0.5kV
外施高压: 3pF~1.5μF/10kV 60pF~30μF/0.5kV
分辨率: 更高0.001pF,4位有效数字
4、tg范围: 不限,分辨率0.001%,电容、电感、电阻三种试品自动识别。
5、试验电流范围:10μA~1A
6、内施高压:
设定电压范围:0.5~10kV
输出电流:200mA
升降压方式: 连续平滑调节
试验频率:
45、50、55、60、65Hz单频
45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自动双变频系统描述AOI是检测PCB表面图形品质(如表面缺陷、断路和短路)的设备,用于生产过程中半成品品质检测,是高精密单层印制板,尤其是多层印制板加工的关键技术。测试系统集光学、精密机械、识别诊断算法和计算机技术于一体。检测时,机器通过电荷耦合器件(CCD)或自动扫描PCB,采集图像后送与计算机处理,再与数据库中的标准数据比较,查出PCB上缺陷,用显示器或自动标识系统显示或标识缺陷,供维修人员修理。项目产品清单主控设备:研祥EPI整机IPC-685E该主控设备的主板是一款采用IntelG41芯片组,支持IntelLGA775封装双核、四核E53、E84、Q94等系列CPU的高性能平台;支持2条8/166M的DDR3内存条,总容量支持4GB;板载1个1/1/1Mbps网络接口;支持VGA+VGA双显示功能;支持4个SATA接口;USB2.接口、2个串口(其中1个支持RS-232/RS-422/RS-485)、1个并口等丰富的I/O接口。
频率准度: ±0.01Hz
7、外施高压:
正接线时试验电流1A,工频或变频40-70Hz
反接线时试验电流10kV/1A,工频或变频40-70Hz
8、CVT自激法低压输出:输出电压3~50V,输出电流3~30AHN60四通道介质损耗测试仪 华能有源变压器容量特性测试仪 变压器直流电阻测试仪测试方法:由于客户测试的心率测试模块可以外接蓝牙做及时监控记录,因此使用精密电源IT6412供电,串接一台高精度电表做为电流量测比对,以此来量测关机泄漏电流与待机功耗,工作电流与功耗等参数指标。4电子器件测试——磁保持继电器测试磁保持继电器的老化测试,就是重复让产品断开和闭合,进行老化测试。脉冲波形:+4.5V,5msV,5ms-4.5V,5msV,5ms。测试磁保持继电器的吸合电压和释放电压。