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HN08B变压器变比测试仪

1、真正三相测试:单相电源输入,内部数字合成三相标准正弦波信号源,通过高保真功率放大器,产生三相测试电源(失真度小于0.1%、对称度优于0.05%)输出,测试结果具有更好的等效性,不会出现组别误判等现象。
2、功能强大:既可进行单相测量,又可实现三相绕组的自动测试,单相、三相均可测量极性,相角,一次完成测量AB、BC、CA三相的变比值、相角值、误差、分接位置、分接值等参数,可自动识别组号。
3、相角测量功能:准确测量高、低压侧之间的相位角,可以对非整点的变压器进行变比和角度的测量。另外一种常见于ARM芯片,我们知道ARM芯片采用统一的编程接口SWD接口,某些ARM芯片会提供两个AP(AccessPort),通过关闭访问内部空间的AP可以达到加密的目的。而如果想解锁,就要访问另一条AP,这条AP只可以访问一个寄存器,通过写入该寄存器特定的数据就可以将芯片重置为默认状态。还有一种加密方式和上面类似,只不过采用了两个编程接口,而不是同一编程接口的两条AP。总之,加密就是让你无法读取芯片数据,而又可以通过擦除再次升级固件。
4、六角图显示功能:测试结果以数字和六角矢量图显示,直观的看出变压器连接组别情况。
5、盲测功能:无需选择接线方式,无需选择接线组别,测量Y/△、△/Y变压器无需外部短接,可根据选择的测试内容自动切换接线方式。完全可以对没有铭牌的变压器进行变比和组号的测量。
6、分接测试:能快速测量在各分接开关位置的变比及变比误差,额定变比只需输入一次,不必反复输入就能计算出各分接位置的变比误差。
7、同时具有匝数比测量和运行电压变比测量两种功能,运行变比能更真实的反映变压器在实际运行的情况下,电压变比的实际数值。
8、抗振性好:**接插件的使用增强了抗振性能。
9、 采用5.6寸高彩液晶屏,显示数据效果和矢量图效果直观细腻。
10、 本仪器所用的测试源是数字合成的标准正弦数字源,失真度小于0.1%,不受工作电源质量的影响。因此。汽车零部件的涡流探伤仪无损检测技术也越来越受到厂家和研究者的关注。目前,在汽车零部件的检测中,使用广泛的无损检测方法是涡流探伤仪超声检测法。在涡流探伤仪超声探伤中使用多的是A型超声波探伤仪。它采用A型超声显示,具有设备简单价格便宜的优点,能对缺陷和定量,在生产检验中得到广泛应用,但是其探伤结果存在不直观、无记录、探伤难、人为因素多等缺点,严重影响检测可靠性。由于计算机技术和电子器件的不断发展,使涡流探伤仪超声波信号的数字化采集和成为可能,波形能够记录保存,涡流探伤仪超声检测正向数字信号处理及成像方向发展。
11、携带方便:体积小,重量轻。
12、内置高容量锂离子充电电池,现场无需任何电源即可完成测试工作,一次充满可以连续进行800次以上的测量。
二、技术指标
1、变比测量范围:0.8~10000。
2、测量速度快:1分钟内完成三相测试。
3、测量精度: 高压侧电压的测量精度0.05%
低压侧电压的测量精度0.1%
相角测量精度:0.1°
变比测量精度 0.1%(0.8-3000)
0.2%(3000-10000)
根据用户要求可订制全量程0.1级的设备
4、携带方便、适合野外作业。
5、重量:3Kg时序的一致性和稳定性,一直以来都是业界难题。在某产品测试过程中,工程师反馈偶尔会出现数据异常,经过系统性的,致远电子测试团队推测可能是ADC芯片的SPI通信总线的时序存在偶发异常,但由于异常出现概率很低,该如何对SPI通信总线偶发的时序问题进行呢?下文为你ZLG致远电子的时序一致性测试方案。搭建测试环境SPI总线测试点位于主机的主板底部,时钟频率大约为33MHz,属高频信号,所以对的端接方式比较讲究;为了方便测试,如所示,用将测试点引出,的地线也从前端自绕线引出,这样可以提高信号完整性,减少示波器采样对时序过程的影响。
三、工作原理框图
仪器由主机和配件箱两部分组成,其中主机是仪器的核心,所有的电气部分都在主机内部,其主机采用手持式注塑机箱,坚固耐用,配件箱用来放置测试导线及工具。
仪器左侧上部是变比测试插头,高压侧,低压侧端子。左侧下方是彩色液晶屏,右侧下部是标准30键的控制键盘;在仪器的右侧上部是打印机、接地端子、充电口、USB接口、RS232接口、工作开关。
键盘共有30个键,分别为:存储、查询、设置、切换、↑、↓、←、→、软开关、退出、回车、自检、帮助、数字1、数字2(ABC)、数字3(DEF)、数字4(GHI)、数字5(JKL)、数字6(MNO)、数字7(PQRS)、数字8(TUV)、数字9(WXYZ)、数字0、小数点、#、辅助功能建F1、F2、F3、F4、F5。
各键功能如下:
↑、↓、←、→键:光标移动键;在主菜单中用来移动光标,使其指向某个功能菜单,按确认键即可进入相应的功能;在参数设置功能屏下上下键用来切换当前选项,左右键改变数值。数显仪表被测参数大多被转换成微弱的低电平电压信号,并经长距离传送到数显表,因此除有用的信号外,还会有些干扰信号夹杂其中,会影响数显仪表测量结果的正确性。干扰源在仪表内、外部都有可能存在。如在数显表外部,大功率用电设备、电网可能成为干扰源。而在数显表内部,变压器、线圈、继电器、电源线等可能成为干扰源。数显仪表产生干扰的途径信号源与仪表之间的导线、内部配线通过磁耦合在电路中形成干扰。在大功率变压器、交流电机、电力线的周围空间都存在有很强的交流磁场,而闭合回路处在这种变化的磁场中将产生电动势。