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  • 产品名称:蓄电池活化仪 整组蓄电池放电仪 蓄电池循环放电测试仪 HN1016B

  • 产品型号:HNDL
  • 产品厂商:华能
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简单介绍:
冲击测试系统系应用于诸如电力变压器、比成器、高压开关及电力电缆等高压器材的冲击电压试验。此种测试系依据相关的国际标准规范执行全波(full)或截断(chopped) 的闪电突波(L.I)蓄电池活化仪 整组蓄电池放电仪 蓄电池循环放电测试仪 HN1016B
详情介绍:

HN1015A蓄电池充放电,活化测试仪 蓄电池活化仪 整组蓄电池放电仪 蓄电池循环放电测试仪 HN1016B

蓄电池活化仪 整组蓄电池放电仪 蓄电池循环放电测试仪 HN1016B

具有对蓄电池组进行内阻测试、容量评估功能。具有对蓄电池组多项指标性能进行在线监测的功能:在电池组处于在线放电、均充、浮充状态下,可对电池组以及每个单体电池进行实时在线监测,监测内容包括:电池整组电压、每一节单体电池电压、电池组充放电电流、电池组监测时间、电池组充放电容量等指标。

主机接线说明

2.5.1接线、拆线原则

测试前接线时应按照“先仪器,后电池”的顺序进行接线,即:先接仪器端的连线,后接电池端的连线。

测试完毕,用户拆线时应按“先电池、后仪器”的顺序进行拆线,即先拆电池端的连线,后拆仪器端的连接。

2.5.2 放电电缆的连接

放电电缆线将测试仪的“放电电流接口”与电池组并接。

注:“正”(红色)接电池组正极,“负”(黑色)接电池组负极。 严禁接反!

2.5.3 整组电压采集线的连接

用整组电压采集线将测试仪“整组电压”与电池组正、负极并接。

注:整组电压线的“正”(红色夹子)接电池组正极,“负”(黑色夹接电池组负极。  严禁接反!

2.5.4 连接测试仪供电220V电源线。当采用直流供电时不接。

场效应管为什么需要从9A变成5A性能更可靠,场效应管的损耗通常来自导通损耗与开关损耗两种,但在高频小电流条件下以开关损耗为主,由于9A的场效应管在工艺上决定了其栅极电容较大,需要较强的驱动能力,在驱动能力不足的情况下导致其开关损耗急剧上升,特别在高温情况下由于热耗散不足,导致结点温度超标引发失效。如果在满足设计裕量的条件下换成额定电流稍小的场管以后,由于两种场管在导通内阻上并不会差距太大,且导通损耗在高频条件下相比开关损耗来说几乎可以忽略不计,这样一来5A的场管驱动起来就会变得容易很多,开关损耗降下去了,使用5A场管在同样的温度环境下结点温度降低在可控范围,自然就不会再出现热耗散引起的失效了,当然遇到这种情况增强驱动能力也是一个很好的办法。蓄电池活化仪 整组蓄电池放电仪 蓄电池循环放电测试仪 HN1016B

2.6电量采集(选配)

测试仪工作于在线监测时,电量采集器用于监测电池组的充放电电流。

测试仪工作于放电测试时,电量采集器用于测户设备的放电电流。

电量采集器指示方向为电池组充电电流方向,请勿接反

2.7并机接线(选配)

必须具备两台仪器。

每台仪器分别连接好测试线。

将两台仪器通过RS485接口连接一起。

半导体生产流程由晶圆制造,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆制造和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT(WaferAcceptanceTest)测试,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),对Wafer划片槽(ScribeLine)测试键(TestKey)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定,CMOS的电容,电阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据,测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT测试机台上,由WATRecipe自动控制测试位置和内容,测完某条TestKey后,ProbeCard会自动移到下一条TestKey,直到整片Wafer测试完成。蓄电池活化仪 整组蓄电池放电仪 蓄电池循环放电测试仪 HN1016B


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