- 联系人 : 车高平 肖吉盛
- 联系电话 : 0532-88365027
- 传真 : 0532-88319127
- 移动电话 : 13608980122
- 地址 : 青岛南京路27号
- Email : 88365027@163.com
- 邮编 : 266700
- 公司网址 : http://www.88365027.com
- MSN : 88365027@163.com
- QQ : 1265377928
HN1015A蓄电池充放电，活化测试仪 蓄电池充放电测试仪 整组蓄电池放电仪 蓄电池循环放电仪 来电咨询
具有对蓄电池组进行内阻测试、容量评估功能。具有对蓄电池组多项指标性能进行在线监测的功能：在电池组处于在线放电、均充、浮充状态下，可对电池组以及每个单体电池进行实时在线监测，监测内容包括：电池整组电压、每一节单体电池电压、电池组充放电电流、电池组监测时间、电池组充放电容量等指标。
主机接线说明
2.5.1接线、拆线原则
l 测试前接线时应按照“先仪器，后电池”的顺序进行接线，即：先接仪器端的连线，后接电池端的连线。
l 测试完毕，用户拆线时应按“先电池、后仪器”的顺序进行拆线，即先拆电池端的连线，后拆仪器端的连接。
2.5.2 放电电缆的连接
l 放电电缆线将测试仪的“放电电流接口”与电池组并接。
l 注：“正”（红色）接电池组正极，“负”（黑色）接电池组负极。 严禁接反！
2.5.3 整组电压采集线的连接
l 用整组电压采集线将测试仪“整组电压”与电池组正、负极并接。
l 注：整组电压线的“正”（红色夹子）接电池组正极，“负”（黑色夹接电池组负极。 严禁接反！
2.5.4 连接测试仪供电220V电源线。当采用直流供电时不接。
LED日光灯电源发热到一定程度会导致烧坏，关于这个问题，也见到过有人在行业论坛发过贴讨论过。本文将从芯片发热、功率管发热、工作频率降频、电感或者变压器的选择、LED电流大小等方面讨论LED日光灯电源发热烧坏MOS管技术。芯片发热本次内容主要针对内置电源调制器的高压驱动芯片。假如芯片消耗的电流为2mA，300V的电压加在芯片上面，芯片的功耗为0.6W，当然会引起芯片的发热。驱动芯片的电流来自于驱动功率MOS管的消耗，简单的计算公式为I=cvf（考虑充电的电阻效益，实际I=2cvf，其中c为功率MOS管的cgs电容，v为功率管导通时的gate电压，所以为了降低芯片的功耗，必须想办法降低v和f.如果v和f不能改变，那么请想办法将芯片的功耗分到芯片外的器件，注意不要引入额外的功耗。
2.6电量采集（选配）
l 测试仪工作于在线监测时，电量采集器用于监测电池组的充放电电流。
l 测试仪工作于放电测试时，电量采集器用于测户设备的放电电流。
l 电量采集器指示方向为电池组充电电流方向，请勿接反
2.7并机接线（选配）
l 必须具备两台仪器。
l 每台仪器分别连接好测试线。
l 将两台仪器通过RS485接口连接一起。
在我们平时的仿真模拟测试过程中，经常会需要信号源输出一些仿真现场实际情况的非标准波形，如现场波形，编码误触发波形，**气囊碰撞展开激励信号等等。对于此类波形通常都需要用函数耦合甚至只能现场捕获复现。而这种要求对于大多数仅能产生标准波形的函数信号源来说就显得力不从心。而对于此类波形要求，采用具有连续采样的任意波形就可以轻松搞定。我们就演示利用RIGOL的具有连续采样功能的DG1Z任意波形发生器和DS1Z数字示波器分三步即可模拟生成任意波。
