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安规测试仪检定装置有以下几种 直流电阻测试仪校验仪 数字高压表 HN系列 绝缘电阻测试仪校验仪 可定制

依据JJG1005—2005《电子式绝缘电阻表检定规程》、JJG622—1997《绝缘电阻表(兆欧表)检定规程》,用于检定电子式绝缘电阻表的示值误差、跌落电压、短路电流。
电压分两档:0~500V 0~5000V -10000V
短路电流:0~2mA 0~20mA
电阻0-200G-1T-10T应用HD系列红外测温仪可以有效地克服以上缺点。该仪表具有较高的测量精度(可达±0.5%),而且既能象热电耦一样输出电信号,进行自动记录和控制,又具有使用寿命长(五年以上)、操作简单、人为误差小等优点。HT系列红外测温仪是高温隧道窑理想的测温仪表。HT系列红外测温仪在隧道窑应用中,根据用户使用要求的不同,常用的有单点测温和多点切换测温二种方案。分别介绍如下:单点测温系统:每个测温点采用一个和一台仪表箱组成,测温单元进行温度采集。
HN8062A接地电阻表校验装置
用于检定JJG336-2004《接地电阻表检定规程》所适用的我目前生产的型号的模拟式、数字式接地电阻表以及进口的同类仪表,也可做普通电阻箱使用,具有调节范围宽,使用方便,造型美观等优点。一般地讲,奇次谐波引起的危害比偶次谐波更多更大。在平衡的三相系统中,由于对称关系,偶次谐波已经被消除了,只有奇次谐波存在。对于三相整流负载,出现的谐波电流是6n±1次谐波,11119等,变频器主要产生7次谐波。“谐波”一词起源于声学。有关谐波的数学在18世纪和19世纪已经奠定了良好的基础。傅里叶等人提出的谐波方法至今仍被广泛应用。电力系统的谐波问题早在20世纪20年代和30年代就引起了人们的注意。
HN8063A耐电压测试仪校验装置
1、测量准度:
电压:1000v 2500v 5000v 10000v 30000v
准度:1级 0.5级 0.2级分布式光纤温度传感系统是一种用于实时测量空间温度场分布的传感系统,实质上是分布光纤拉曼(Raman)光子传感器(DOFRPS)系统,它是近年来发展起来的一种用于实时测量空间温度场的光纤传感系统。本文拟在简要阐述分布式光纤监测技术和分布式光纤温度监测技术及其校准原理的基础上,对分布式光纤传感温度测试系统性能标定方法进行介绍,为该系统在工程结构监测中的应用提供借鉴。原理介绍1.分布式光纤监测技术光纤光时域反射(OTDR)原理当激光脉冲在光纤中传输时,由于光纤中存在折射率的微观不均匀性,会产生瑞利散射,在时域里,激光脉冲在光纤中所走过的路程为2L,可表示为2L=V×t式中:V——光在光纤中传播的速度,可表示为V=cn,其中c为真空中的光速,n为光纤的折射率;t——入射光经背向散射返回到光纤入射端所需的时间。
HN8065A型泄漏电流测试仪检定装置
一、性能特点
1、源、表测量范围:
电压源(AC,DC):电压:250V、50V、5V
电流源(AC,DC):20mA、2mA
频率计:10-100Hz传感器种类及品种繁多,原理也各式各样。其中电阻应变式传感器是被广泛用于电子秤和新型机构的测力装置,其精度和范围度是根据需要来选定的过高的精度要求对某种使用也无太大意义,过宽的范围度也会使测量精度降低,而且会造成成本过高及增加工艺上的困难,应根据测量对象的要求,恰当地选择精度和范围度是至关重要的。但无论何种条件、场合使用的传感器,均要求其性能稳定,数据可靠,经久耐用。为此,在研究高精度传感器的同时,必须重视可靠性和稳定性的研究。
HN8066A型接地导通电阻测试仪检定装置
2、一次额定电流:25A、2.5A。(大30A、3A)
3、电阻四盘连续带电可调。
4、直接指示一次电流值,可做交直流大电流标准表用。即使尖峰频率高于器件的额定带宽,也需要在器件的输入端进行滤波以解决此问题。其他应用,如DC-DC转换器和电源应用也可能需要在电流检测放大器的输入端进行滤波。所示为建议的输入滤波原理图。.输入滤波补偿小于1mΩ的分流电阻的并联电感,以及任何应用中的高频噪声由于滤波电阻的增加电阻和它们之间的相关电阻失配会对增益、共模比(CMRR)和VOS产生不利影响,所以输入滤波是复杂的。对VOS的影响部分还归咎于输入偏置电流。
HN8068A型回路电阻测试仪,直流电阻测试仪检定装置
2 一次额定电流:
1A、10A、100A、200A、300A、600A
3 电阻盘0、1、2、3……20带电可调。
4 直接指示一次电流值,可做直流大电流标准表用。
直流电阻测试仪校验仪 数字高压表 HN系列 绝缘电阻测试仪校验仪 可定制3672系列功能选件-矢量混频/变频器件测量应用软件的操作步骤说明:矢量混频/变频器件测试软件是3672系列矢量网络仪测试功能选件之一,集变频器件的变频损耗或增益、端口输入/输出功率(正向及反向)、驻波、相位及群时延等参数测量于一体的测试软件。其主要特点包括:1.测量过程需使用一个参考混频器进行表征。测试参数,相比于标量混频器测试增加了相位及群时延等参数的测试功能。充分利用内置双激励源配置,一个用于提供射频测量激励信号,另一个则被用于提供本振信号,无需额外信号源提供本振信号,节约了测试成本,同时,避免了不同仪器之间的同步配置。