产品名称：接地电阻测试仪校验装置 耐压测试仪校验仪 HN系列 兆欧表检定装置 规格齐全

安规测试仪检定装置有以下几种 接地电阻测试仪校验装置 耐压测试仪校验仪 HN系列 兆欧表检定装置 规格齐全

HN8061A

依据JJG1005—2005《电子式绝缘电阻表检定规程》、JJG622—1997《绝缘电阻表（兆欧表）检定规程》,用于检定电子式绝缘电阻表的示值误差、跌落电压、短路电流。
电压分两档：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路电流：0～2mA    0～20mA
电阻0-200G-1T-10T仪商解析：无线通信的世界，干扰是不受欢迎的东西，干扰永远是无线通信领域中的不速之客。它导致噪声、通话中断、通信受到干扰。虽然越来越多的网络内置了干扰检测功能，但通常效果不大。为解决干扰这个棘手问题，有效的方案是使用频谱仪，用以测量和识别干扰源。识别和检测微弱的干扰信号。不管干扰信号多么难以捉摸，实时频谱仪都能胜任。搜寻干扰频率在搜寻干扰时，个挑战是确定是否可以测量干扰信号。一般来说，受扰接收机很容易确定，这也是个要查看的地方。

HN8062A接地电阻表校验装置

用于检定JJG336-2004《接地电阻表检定规程》所适用的我目前生产的型号的模拟式、数字式接地电阻表以及进口的同类仪表，也可做普通电阻箱使用，具有调节范围宽，使用方便，造型美观等优点。20世纪80年始，非制冷红外焦平面阵列探测器在美国支持下发展起来的，在1992年研发完成后才对布。初期技术路线包括德州仪器研制的BST热释电探测器和霍尼韦尔研制的氧化钒（VOx）微测辐射热计探测器。后来由于热释电技术本身的一些局限性，微测辐射热计探测器逐渐胜出。2009年，L-3公司终宣布停止继续生产热释电探测器。之后，法国的CEA/LETI以及德州仪器公司又分别研制了非晶硅（a-Si）微测辐射热计探测器。

HN8063A耐电压测试仪校验装置

1、测量准度： 

电压：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

准度：1级  0.5级  0.2级接于公共连接点的每个用户引起该点负序电压不平衡度允许值一般为1.3%，短时不超过2.6%。公用电网谐波GB/T14549--93《电能质量-公用电网谐波》中规定：6～220kV各级公用电网电压(相电压)总谐波畸变率是0.38kV为5.0%，6～10kV为4.0%，35～66kV为3.0%，110kV为2.0%；用户注入电网的谐波电流允许值应保证各级电网谐波电压在限值范围内，所以国标规定电能质量仪的各级电网谐波源产生的电压总谐波畸变率是：0.38kV为2.6%，6～10kV为2.2%，35~66kV为1.9%，110kV为1.5%。

HN8065A型泄漏电流测试仪检定装置

一、性能特点

1、源、表测量范围：

       电压源（AC，DC）：电压：250V、50V、5V

       电流源（AC，DC）：20mA、2mA

       频率计：10-100Hz具有省电、性能稳定、体积小、承载能力大，比一般电磁继电器性能优越的特点。根据继电器的型号不同，可以是交流电压，也可以是直流电压。下面我们主要介绍一款需要直流电压供电的磁保持继电器的测试方法。IT64系列LIST功能IT64系列是四象限电源，具有list功能，可按照程序所编的电压电流值输出。单通道输出功率15W，电压可达±6V，电流±1A，双极性双范围输出。LIST功能实测案例以下是测试要求：磁保持继电器的老化测试，就是重复让产品断开和闭合，进行老化测试。

HN8066A型接地导通电阻测试仪检定装置

2、一次额定电流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、电阻四盘连续带电可调。

4、直接指示一次电流值，可做交直流大电流标准表用。热像仪每秒记录一次温度。数据图形是图像中所有像素的平均值。数据直方图虽然显示得更清楚，但大部分的数据点都位于36.8?C至37?C之间。记录的宽温度范围是从36.6?C至37.2?C。我们来看下这个数据，所有像素平均值的预期精度可能达到0.5?C。有些人可能甚至会声称FLIRA325sc等使用相同探测器的其他热像仪的精度为±1?C。不过，也有些人可能会辩称，上面图形显示的是所有像素的平均值，可能并不能代表个别的像素。

HN8068A型回路电阻测试仪，直流电阻测试仪检定装置

2 一次额定电流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 电阻盘0、1、2、3……20带电可调。

4 直接指示一次电流值,可做直流大电流标准表用。

接地电阻测试仪校验装置 耐压测试仪校验仪 HN系列 兆欧表检定装置 规格齐全MOX传感器MCM设备的组成。测试系统需求为了测试这些设备，测试系统需要具备以下功能和属性：测试/校准MOX传感器的时间可能需要几十分钟。由于需要在真空和目标气体“浸泡”传感器，所以需要很长的“soak”时间。显然，使用大型、高性能的半导体测试仪，在soak期间需要闲置一段时间，这样不能有效的利用这些昂贵的资源。所以，解决方案必须具有较低的初始资本成本。测试吞吐量很重要。由于驻留时间长，因此系统必须支持非常大的并行测试能力，这样才能将soak时间内分摊到多个设备上DUT负载板必须位于一个可以对气体浓度进行控制的封闭环境中。