产品名称：直流电阻测试仪校验仪 耐电压测试仪校验仪 HN系列 接地导通测试仪检定装置 生产厂家

安规测试仪检定装置有以下几种 直流电阻测试仪校验仪 耐电压测试仪校验仪 HN系列 接地导通测试仪检定装置 生产厂家

HN8061A

依据JJG1005—2005《电子式绝缘电阻表检定规程》、JJG622—1997《绝缘电阻表（兆欧表）检定规程》,用于检定电子式绝缘电阻表的示值误差、跌落电压、短路电流。
电压分两档：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路电流：0～2mA    0～20mA
电阻0-200G-1T-10TMOS管种类和结构MOSFET管是FET的一种(另一种是JFET)，可以被制造成增强型或耗尽型，P沟道或N沟道共4种类型，但实际应用的只有增强型的N沟道MOS管和增强型的P沟道MOS管，所以通常提到NMOS，或者PMOS指的就是这两种。右图是这两种MOS管的符号。至于为什么不使用耗尽型的MOS管，不建议刨根问底。对于这两种增强型MOS管，比较常用的是NMOS。原因是导通电阻小且容易制造。所以开关电源和马达驱动的应用中，一般都用NMOS。

HN8062A接地电阻表校验装置

用于检定JJG336-2004《接地电阻表检定规程》所适用的我目前生产的型号的模拟式、数字式接地电阻表以及进口的同类仪表，也可做普通电阻箱使用，具有调节范围宽，使用方便，造型美观等优点。当号信号被脉冲调制后，信号的频率谱密度会发生变化，为经脉冲调制后的频率谱。频率谱特性按脉冲重复频率PRF(pulseRepetitionFrequency)为等间隔的离散频谱，频谱形状为sinx/x幸格函数。脉宽的倒数为过零点的位置。图连续波经脉冲调制后的功率谱1.1脉宽和脉冲重复频率对相位噪声的影响下图水平位置表示脉冲重复频率PRF保持不变，而改变脉冲宽度τ脉冲频率谱的变化情况，垂直位置表示脉冲宽度τ保持不变，而改变脉冲重复频率PRF脉冲频率谱的变化情况。

HN8063A耐电压测试仪校验装置

1、测量准度： 

电压：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

准度：1级  0.5级  0.2级WSSX-483双金属温度计是一种常用的现场检测仪表，可以直接测量生产过程中-8℃-+5℃范围内液体、蒸汽和气体介质温度，具有测量、性能稳定、可靠性高等优点。本文主要来介绍一下WSSX-483双金属温度计产品知识，希望可以帮助到大家。WSSX-483双金属温度计简介WSSX-483双金属温度计带有电接触装置一即机械电接点。当被测介质温度变化时，自由端上的细轴及转向传动机构带动指针及动触点转动，在标度盘上指示出温度的变化值，当其与定触点(上、下限定触点)接触或断开时的瞬时，使电路系统中的继电器及接触器动作，以达到自动控制和报警目的，应符合JB/T8831998标。

HN8065A型泄漏电流测试仪检定装置

一、性能特点

1、源、表测量范围：

       电压源（AC，DC）：电压：250V、50V、5V

       电流源（AC，DC）：20mA、2mA

       频率计：10-100Hz热像仪每秒记录一次温度。数据图形是图像中所有像素的平均值。数据直方图虽然显示得更清楚，但大部分的数据点都位于36.8?C至37?C之间。记录的宽温度范围是从36.6?C至37.2?C。我们来看下这个数据，所有像素平均值的预期精度可能达到0.5?C。有些人可能甚至会声称FLIRA325sc等使用相同探测器的其他热像仪的精度为±1?C。不过，也有些人可能会辩称，上面图形显示的是所有像素的平均值，可能并不能代表个别的像素。

HN8066A型接地导通电阻测试仪检定装置

2、一次额定电流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、电阻四盘连续带电可调。

4、直接指示一次电流值，可做交直流大电流标准表用。从事件表我们看到，帧CAN-FD的位置在-12.479ms，也就是在内存数据的开端，已经达到了全内存。当然这种功能强大的全内存也是受一定条件约束的，我们在下面的内容中会提到。系统会判断情况新特性是基于保持原来速度，尽量拓宽范围的思想设计出来的。这意味着，对于大数据量的，是基于一定比例的样本点抽取后进行的(用于的数据量越少，越快)。系统会根据抽点的情况，与协议的特点(波特率等)比较，判断是否存在风险(错误或不能的风险)。

HN8068A型回路电阻测试仪，直流电阻测试仪检定装置

2 一次额定电流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 电阻盘0、1、2、3……20带电可调。

4 直接指示一次电流值,可做直流大电流标准表用。

直流电阻测试仪校验仪 耐电压测试仪校验仪 HN系列 接地导通测试仪检定装置 生产厂家时间交错技术可使用多个相同的ADC（文中虽然仅讨论了ADC，但所有原理同样适用于DAC的时间交错特性），并以比每一个单数据转换器工作采样速率更高的速率来处理常规采样数据序列。简单说来，时间交错（IL）由时间多路复用M个相同的ADC并联阵列组成。如图1所示。这样可以得到更高的净采样速率fs（采样周期Ts=1/fs），哪怕阵列中的每一个ADC实际上以较低的速率进行采样（和转换），即fs/M。举例而言，通过交错四个10位/100MSPSADC，理论上可以实现10位/400MSPSADC。