产品名称：接地电阻表检定装置 高精度交直流电流表 HN系列 绝缘电阻表校验装置 可定制

安规测试仪检定装置有以下几种 接地电阻表检定装置 高精度交直流电流表 HN系列 绝缘电阻表校验装置 可定制

HN8061A

依据JJG1005—2005《电子式绝缘电阻表检定规程》、JJG622—1997《绝缘电阻表（兆欧表）检定规程》,用于检定电子式绝缘电阻表的示值误差、跌落电压、短路电流。
电压分两档：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路电流：0～2mA    0～20mA
电阻0-200G-1T-10T社会**防范系统是一个特大型、综合性非常强的管理系统，不仅需要满足治安管理、城市管理、交通管理、应急指挥、犯罪追踪等需求，而且还要兼顾灾难事故预警、**生产监控等方面对图像监控的需求。在监控领域，可见光监控设备固然扮演着极其重要的角色，但是由于不可避免的昼夜交替以及恶劣气候的影响，在一定程度上限制了可见光监控设备的正常发挥，而红外热成像监控产品正好弥补了这一缺失，其特别适合高**级别区域的入侵防范。

HN8062A接地电阻表校验装置

用于检定JJG336-2004《接地电阻表检定规程》所适用的我目前生产的型号的模拟式、数字式接地电阻表以及进口的同类仪表，也可做普通电阻箱使用，具有调节范围宽，使用方便，造型美观等优点。PID（PotentianInducedDegradation）是一种电势诱导衰减现象，是指组件长期在高电压下使得玻璃，封装材料之间存在漏电流，大量电荷聚集在电池表面。使得电池表面的钝化效果恶化，导致填充因子（FF），短路电流（Isc），开路电压（Voc）降低，使得组件的性能低于设计标准，发电能力也随之下降。2010年，NREL和Solon证实了无论组件采取何种技术的P型晶硅电池，组件在负偏压下都有PID的风险。

HN8063A耐电压测试仪校验装置

1、测量准度： 

电压：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

准度：1级  0.5级  0.2级在工企业中应用的称重仪表性能指标通常用准确度(又称精度)、变差、敏锐度来形貌。仪表工校验仪表通常也是调校准确度，变差和敏锐度三项。变差是指称重仪表被测变量(可明白为输入信号)屡次从差别倾向抵达同一数值时，仪表指示值之间的差值，大约说是仪表在外界条件稳定的环境下，被测参数由小到大革新(正向特性)和被测参数由大到小革新(反向特性)不划一的水平，两者之差即为仪表变差。牢靠性称重控制仪表牢靠性是化工企业仪表工所寻求的另一慌张性能指标。

HN8065A型泄漏电流测试仪检定装置

一、性能特点

1、源、表测量范围：

       电压源（AC，DC）：电压：250V、50V、5V

       电流源（AC，DC）：20mA、2mA

       频率计：10-100Hz测量工作使用的仪器设备很多，每种仪器设备在使用时都有许多不利因素影响其测量值的准确性。本文仅对两种常规仪器（洛氏硬度计、布氏硬度计）在使用时，容易被检测人员忽略的一些较常见的影响因素进行针对性，并提出了解决办法。粗糙度的影响及解决办法我们知道，用台式硬度计测量布氏硬度时，硬度计的压头是钢球压头，在一定的压力下被测表面而得到一个圆形压痕，再用读数显微镜测量圆形压痕的直径，然后在布氏硬度表中查找相应的硬度值，即被测试样的硬度值，而被测表面的粗糙度直接影响硬度测量值的准确性。

HN8066A型接地导通电阻测试仪检定装置

2、一次额定电流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、电阻四盘连续带电可调。

4、直接指示一次电流值，可做交直流大电流标准表用。热像仪精度规格与不确定性方程式或许大家会注意到，大多数红外热像仪的数据规格手册上的精度规格会显示为±2℃或读数的2%。这仪规格数据基于广泛采用的名为“平方和根值”（RSS）不确定技术结果。这里需要说明的是，目前所讨论的计算值有效的条件是只有当热像仪用于实验室或户外短距离范围(20米以内)。由于大气吸收因素，还有影响程度较小的发射率因素，距离变长会增加测量值的不确定性。当红外热像仪的研发工程师在实验室条件下对大部分现代的红外热像仪系统采用“平方和根值”的方法时，所得结果近似为±2?C或2%—因此成为热像仪规格参数中使用的合理精度率。

HN8068A型回路电阻测试仪，直流电阻测试仪检定装置

2 一次额定电流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 电阻盘0、1、2、3……20带电可调。

4 直接指示一次电流值,可做直流大电流标准表用。

接地电阻表检定装置 高精度交直流电流表 HN系列 绝缘电阻表校验装置 可定制因此我们常常把样品放在高电压、大电流、高湿度、高温、较大气压等条件下进行测试，然后根据样品的失效机理和模型来推算产品在正常条件下的寿命。可靠性是对产品耐久力的测量，我们主要典型的IC产品的生命周期可以用一条浴缸曲线来表示。冷热冲击试验用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温、低温的连续环境下所能忍受的程度，适用电工、电子产品、半导体、电子线路板、金属材料等材料在温度急剧变化环境下的适应性。在研制阶段可用于发现产品设计和工艺缺陷，在有些情况下也可用于环境应力筛选，剔除产品的早期故障。