产品名称：厂家供应 冲击电压试验装置 电缆交流耐压试验装置 交直流分压器

HNCJ系列雷电冲击电压发生装置
厂家供应 冲击电压试验装置 电缆交流耐压试验装置 交直流分压器产品简介：

联系人车高平13608980122/15689901059冲击电压发生器主要用于电力设备等试品进行雷电冲击电压全波、雷电冲击电压截波和操作冲击电压波的冲击电压试验，检验绝缘性能。冲击电压发生器一种模仿雷电及操作过电压等冲击电压的电源装置。主要用于绝缘冲击耐压及介质冲击击穿、放电等试验中。

但在CAN总线的工业自动化应用中，由于设备的互通互联的需求越来越多，所以需要一个开放的、标准化的高层协议：这个协议支持CAN厂商设备的互用性、互换性，能够实现在CAN网络中提供标准的、统一的系统通讯模式，提供设备功能描述方式，执行网络管理功能。其中包括：l应用层(Applicationlayer)：为网络中每一个有效设备都能够提供一组有用的服务与协议。l通讯描述(Communicationprofile)：提供配置设备、通讯数据的含义，定义数据通讯方式。

冲击测试系统系应用于诸如电力变压器、比成器、高压开关及电力电缆等高压器材的冲击电压试验。此种测试系依据相关的标准规范执行全波（full）或截断（chopped） 的闪电突波（L.I）

半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。
HNCJ-V 雷电冲击电压发生装置产品特征

本部分主要是控制冲击电压发生器的操作，手动或自动完成充放电过程，真正实现智慧化操作。

充电控制功能

系统采用恒流充电。

根据试验要求，调节充电电压、充电时间、延时时间，能够手动或者自动控制电压发生器的充电过程。采用自动控制方式充电时，根据设定值，自动充电并稳定在充电电压值上，延时3秒报警触发。充电电压的重复性和稳定度很好。

动作控制

本体球距大小能够自动跟踪设定充电电压值，也可手动控制调节球距大小。本体球距值在触摸屏或组态软件中有显示。

截波球距大小能够自动跟踪设定充电电压值，也可手动控制调节球距大小。截波球距值在触摸屏或组态软件中有显示。

可控制本体自动接地、充电极性切换、充电次数设定等功能。

手动/自动控制。

² 触发控制

系统能够手动、自动或报警触发冲击电压发生器点火。触发点火信号可以立延时

伺服系统是工业自动化的重要组成部分，是自动化行业中实现、运动必要途径。伺服系统关键技术的突破，将地提升智能制造的技术水平和市场竞争力。伺服市场规模对机器人行业以及“工业4.0”的积极推动，刺激了伺服的市场需求增长，特别是网络型伺服、总线型伺服系统得到了快速发展。整体来看，近几年来伺服市场仍保持着较高的增速。预计未来随着工业机器人行业的深化、工业自动化的进一步突进和智能制造的深入推进，伺服市场将会出现新一轮爆发式增长，到2020年，伺服市场规模将达到254亿元。