产品名称：三相交直流采样变送器校验仪 多表位电压监测仪校验装置 定制定做 三相交直流仪表校验仪

HN8001A三相交直流指示仪表，电测仪表检定装置 三相交直流采样变送器校验仪 多表位电压监测仪校验装置 定制定做 三相交直流仪表校验仪

车高平 13608980122/15689901059

输出交直流电压、电流、相位和功率均为高精度、高稳定度标准源，软件校准。各项输出均采用动态负载自动调整技术,降低了负载调整率。采用高速交流采样、高速数字信号处理器（DSP）、复杂可编程逻辑阵列（CPLD）、大功率集成功放、嵌入式计算机系统设计而成，将系统、测试和信号高度集成，体积小，重量轻，可靠性极高，功能性极强。用于检测数字仪表、指示仪表、电能表、互感器、数字测控装置、变送器、交流采样装置

对于CAN总线间的电抗，我们希望并联容抗越大越好，串联感抗越小越好，因为当信号线路寄生电容和寄生电感存在时，会导致信号的上升/下降沿跳变时间变长，同时也会导致信号幅值变小从而可能导致CAN信号通信过程中显隐性误判。测量方法阻抗测量有多种可选择的方法，每种方法都有优缺点，为了达到的测量效果需要考虑测量过程中的频率覆盖范围、测量量程、测量精度和操作的方便性。而在这里，我们选择普遍使用的电流-电压直接测量法作为例子。
 技术参数：

整机有效精度 0.05级

交直流电压输出

量限：660V、380V、220V、100V、57.735V  

调节范围：(0～120)%RG RG为量限,下同

准确度：0.05%RG

 交直流电流输出

量限： 20A、5A、1A、0.2A

调节范围:  (0～120)%RG   RG为量限,下同；

准确度： 0.05%RG

     三相交直流采样变送器校验仪 多表位电压监测仪校验装置 定制定做 三相交直流仪表校验仪半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。频率设置：在源关闭状态可通过鼠标选中液晶屏的频率编辑框设置频率。频率设置范围是40Hz～70Hz，分辨率为0.0001Hz 。超出范围将会自动按频率的值或者值输出频率值。也可通过面板按键编辑器进行频率设置：对交流源的频率信号进行调节。按键编辑器显示为F=××.××××Hz；若交流源处于关闭状态，则打开并输出交流源，源幅度为量限幅度。光标指示当前欲调节细度，按【←】键可左移光标，按【→】键可右移光标。确定好调节细度后旋转编码器可对频率信号进行升/降调节

内置DSP使用户能够将机器学习推向应用的前沿。Yole的Malquin补充表示，在一个组件中集成DSP、MCU和，带来了更低的互连损耗，以及更快的处理速度。TI毫米波雷达中使用的DSP是一款6MHz用户可编程的C674xDSP，以及一颗2MHz用户可编程的ARMCortex-R4F处理器。AWR1642毫米波雷达芯片的架构框图毫米波雷达探寻更广泛的汽车应用盲点监测和自适应巡航等基础ADAS（先进驾驶辅助系统）功能已经很常见了，利用24GHz侧方雷达和77GHz前方雷达就可以轻松实现。

直流标准源参数操作

当用鼠标选中标准源视窗中〖交直流〗单选按钮的〖直流〗选项时，标准源视窗将处于直流标准源状态。此时所有交流源参数将处于变灰无效状态。仅直流源参数可进行操作。

在直流标准源输出前可以对直流标准源的量限进行设置；设置完毕，按下〖源输出〗按钮或【F1】键，HN8005B将输出所设定的标准直流信号。

对于直流参数的设置与修改可以通过两种方式:

方式一：直接使用【百分比键】操作。直流源将按当前选择的量限百分比进行输出。若直流源处于关闭状态，则打开并输出直流源，若直流源已处于输出状态，则直接按量限百分比输出相应幅度。

红外测距的常用方法和原理时间差法测距原理时间差法测距原理是将红外测距传感器的红外发射端发送信号与接收端接受信号的时间差t写入单片机中，通过光传播距离公式来计算出传播距离L。L=C*t式中c是光的传播速度为3X108m/s。反射能量法测距原理反射能量法是由发射控制电路控制发光元件发出信号（通常为红外线）射向目标物体，经物体反射后传回系统的接收端，通过光电转换器接收的光能量大小进而计算出目标物体的距离L。