产品名称：脉冲加热电源 直流脉冲开关稳压电源 测试老化电源 5年保修

HNZDL系列可编程直流稳压电源 脉冲加热电源 直流脉冲开关稳压电源 测试老化电源 5年保修

联系人车高平13608980122/15689901059
直流输出 电压：0- 6000V连续可调  

电流：0- 100000A连续可调   

源电压效应 ≤0.2%有效值

负载效应 稳压精度：≤0.5%有效值（阻性负载）

恒流精度：≤0.5%有效值（阻性负载）半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。

电压电流设定 多圈电位器、按键式、液晶触摸屏（可选）

过压保护 内置O.V.P保护，保护值为额定值+5%，保护后关闭输出，重新开机解锁

过流保护 过载、短路、定电流输出在测试环境愈发复杂的今天，很多因素都会对测量结果产生比较大的影响，如何将测试中的干扰降到也是各测试工程师的难题。本文将简单的介绍一些功率仪测试时常见的干扰现象及处理方式。对于现阶段的测试系统来说，除待测信号以外，理论上还会有很多种信号出现在测试系统中。这些信号都会对测量结果产生影响。往往这些信号都属于外界干扰，机械干扰信号、热干扰信号、光干扰信号、化学干扰信号、电磁干扰信号等。在实验室测试时，测试环境比较优异，机械干扰、热干扰、光干扰都会比较小，但是鉴于实验室的设备，电场、电磁都会比较多，电磁干扰还是很有可能发生的。

功率直流电源主要由整流滤波电路，全桥变换电路，PWM控制电路，稳压、限压电路，稳流、限流保护电路，以及辅助电源电路等优化组合而成。

三相电网（或单相）电压经电源开关进入大功率直流电源后，进行整流滤波，得到的520VDC（单相为300VDC）的平滑直流电压供给逆变电路。机内控制电源自三相输入电压取一路380CAC（或单相220VAC）经变压器降压稳流后，再通过三端稳压器得到DC±12V电压供给各部分控制电路使用。

逆变电路主要由大功率IG模块（或场效应MOSFET模块）组成全桥变换电路。当PWM输出控制信号通过隔离驱动器分别驱动功率模块，两组对角管分别交替导通，在高频变压器初级产生高频脉冲电压，次级电压由高频变压器变压后整流向负载提供能量。

停机时把调节旋钮调至较小位置并切断电源开关，把启动、停止开关拨至停止位置。

10.8、自动计时功能（500A以下自动机型才有）：自动计时功能是检测输入电流是否大于5A，大于5A则开始记时，时控开关‘时控关’，到预置时间报警，并把电流降到10%额定电流以内，工件拿出后，时控不工作，待下一工件放下开始自动工作。当使用电流小于5A时