产品名称：加热电源 直流脉冲大电流恒流源 电器老化测试直流电源 30年经验

HNZDL系列可编程直流稳压电源 加热电源 直流脉冲大电流恒流源 电器老化测试直流电源 30年经验

联系人车高平13608980122/15689901059
直流输出 电压：0- 6000V连续可调  

电流：0- 100000A连续可调   

源电压效应 ≤0.2%有效值

负载效应 稳压精度：≤0.5%有效值（阻性负载）

恒流精度：≤0.5%有效值（阻性负载）半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。

电压电流设定 多圈电位器、按键式、液晶触摸屏（可选）

过压保护 内置O.V.P保护，保护值为额定值+5%，保护后关闭输出，重新开机解锁

过流保护 过载、短路、定电流输出使用组合透镜系统对物体成像，实现加电时液晶透镜区域清晰，具有大视场、局部高分辨率的效果。本文通过实验测量模组光圈与液晶透镜匹配、液晶透镜位置等对于成像质量的影响。研究方向：液晶透镜成像系统测试目的：展示成像系统对于局部区域的清晰成像效果，测量不同位置、不同光圈下成像系统的MTF，其对于成像质量的影响。测试设备:相机、镜头、函数发生器、功率放大器ATA-24组合透镜系统放大器型号:AigtekATA-242实验过程：1.实验室制备液晶透镜，并通过干涉法获取波前信息，得到zernike系数，得到液晶透镜的性能参数，以选择合适的驱动电压；组装成像系统，对不同区域的物体进行成像实验；使用ISO12233板对成像系统进行对焦测试，测试不同光圈、不同液晶透镜位置的MTF值。

功率直流电源主要由整流滤波电路，全桥变换电路，PWM控制电路，稳压、限压电路，稳流、限流保护电路，以及辅助电源电路等优化组合而成。

三相电网（或单相）电压经电源开关进入大功率直流电源后，进行整流滤波，得到的520VDC（单相为300VDC）的平滑直流电压供给逆变电路。机内控制电源自三相输入电压取一路380CAC（或单相220VAC）经变压器降压稳流后，再通过三端稳压器得到DC±12V电压供给各部分控制电路使用。

逆变电路主要由大功率IG模块（或场效应MOSFET模块）组成全桥变换电路。当PWM输出控制信号通过隔离驱动器分别驱动功率模块，两组对角管分别交替导通，在高频变压器初级产生高频脉冲电压，次级电压由高频变压器变压后整流向负载提供能量。

停机时把调节旋钮调至较小位置并切断电源开关，把启动、停止开关拨至停止位置。

10.8、自动计时功能（500A以下自动机型才有）：自动计时功能是检测输入电流是否大于5A，大于5A则开始记时，时控开关‘时控关’，到预置时间报警，并把电流降到10%额定电流以内，工件拿出后，时控不工作，待下一工件放下开始自动工作。当使用电流小于5A时