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HN2016智能sf6微水测试仪冷镜式露点仪 密度继电器校验仪 sf6气体检漏仪 30年经验
露点 |
测量范围 |
-80 ℃~+20 ℃ |
测量精度 |
±1℃(-80℃~+20℃) |
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测量时间 (+20℃) |
<3分钟。 |
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环境温度 |
-40℃~+60℃ |
三大功能的组合?FFT功能:可以有效地信号中的噪声的频域范围;?数字滤波功能:可以有效地过滤信号中的噪声成分;?自动测量功能:可以用于测量经过数算或者数字滤波后的波形的各个参数指标。如上所述,我们已经无形中就将“FFT+数字滤波+自动测量”组合成了一个可用于噪声、减少噪声、波形测量的利器,可有效地用于存在干扰的被测信号的干扰和快速测量。下面,我们就用这个利器来解决一个经常会遇到的信号测量的问题。1、连接SF6设备
将测量管道上螺纹端与开关接头连接好,用扳手拧紧,关闭测量管道上另一端的针型阀;
再把测试管道上的快速接头一端插入仪器上的采样口;
将排气管道连接到出气口。
后将开关接头与SF6电气设备测量接口连接好,用扳手拧紧;
2、检查电量
本仪器优先使用交流电。
使用直流电时,请查看右上角显示的电池电量,如果电量低于约20%,请关机充电后继续使用。
3、开始测量
打开仪测量管道上的针型阀,然后用面板上的流量阀调节流量,把流量调节到0.5L/M左右,开始测量SF6露点。
设备测量时间需要5~10分钟,其后每台设备需要3~5分钟。
4、存储数据
设备测量完成后,可以将数据保存在仪器中,按“确定”键调出操作菜单,具体操作方式见下节内容。晶振,是电路中重要的电子元件,控制着系统运行的节拍。基于不同的应用场景,晶振有多种类型,无源晶振是其中价格便宜而又应用广泛的一种。在使用示波器测量无源晶振输出频率时,常常会发现晶振有输出无信号、晶振不起振等异常情况。本文就此情况略谈一二。无源晶振简介无源晶振,准确来说应叫Crystal(晶体),有源晶振则叫Oscillator(振荡器)。无源晶振是在石英晶片的两端镀上电极而成,其两管脚是无极性的。
5、测量其他设备
一台设备测量后,关闭测量管道上的针型阀和微水仪上的调节阀。将转接头从SF6电气设备上取下。如果需要继续测量其他设备,按照上面步骤继续测量下一台设备。
6、测量结束
所有设备测量结束后,关闭仪器电源。
一、 菜单操作
在测量状态,通过确定键可以进入功能菜单,如图1。
系统总体结构在目前的观测网络系统中,采用的是直流输电系统。直流输电系统相对于交流供电系统主要有线路造价低、调节速度快等优点。在直流输电系统中又分为恒压供电和恒流供电两种方式。对于观测网络,部分系统采用恒压供电,但其供电系统复杂,设置有大量的控制装置和复杂庞大的电源变控系统,并且存在故障隔离难度大、不适合远距离供电、变换器复杂等缺点,没有得到广泛的应用。相对于恒压供电方式,恒流供电具有故障自动隔离、**可靠、供电距离远、可带负载多、转换电路简单、需高压转换电路等优点,本课题采用串联恒流供电方式。
1、保存数据
在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择“保存记录”菜单,按“确定”键,进入保存数据页面,保存数据时,可以根据设备进行编号。
设备编号多为六位,可以通过“上”、“下”键增加数值大小,“左”、“右”键调整数据位数。
输入编号后,按“确定”键,完成保存数据。按“返回”键可以返回上一页,此时不保存数据。
2、查看记录
在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择“查看记录”菜单,按“确定”键,进入查看记录页面。
显示时从后一个被保存的数据开始。
可以按“上”、“下”键翻看数据。实际使用中,仪体的安装环境,多少都会受到外部的温度变化或者其他干扰的影响。要确认记录仪在实测环境下的测量精度,并且尽量选择不容易受到外部影响的产品。高可靠性记录仪需要长时间连续信号测试,对可靠性和耐久性都有较高的要求。并且,记录仪经常需要长时间放置在比较恶劣的环境中使用,较高的环境耐用性也是其可靠性的重要表现。可靠性还体现在记录数据的存储上,为确保测试结果的可靠性,要求记录仪的记录数据能够**有效地存储并且不易被篡改。
3、删除记录
在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择“删除记录”菜单,按“确定”键,可删除所有数据。
4、修改时间
在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择修改时间,按“确定”键,进入修改时间页面。
通过“上”、“下”键可以增加时间数值,“左”、“右”键可以减小时间数值。
输入小时、分钟、秒后,按“确定”键可以转到下一个修改域内。
可控硅检测方案电控系统长时间运行后,电发动机会出现跳闸等故障。基于此,对可控硅性能好坏进行检测,对于系统的日常维护、保证正常运转具有十分重要的意义。通常对电气设备的检测设备及方法有万用表、漏电仪、摇表,另外,还可以利用示波器观测导通电流以判断可控硅导通情况。在实际生产中,仅采用万用表无法判断可控硅的故障。下面对几种检测方法进行对比,以得出可控硅检测的方法。漏电仪检测法(耐压试验)采用大电流发生器(简称升流器)对可控硅K两极之间进行漏电试验。