HN2016智能sf6微水测试仪sf6微量水分测试仪 SF6分解产物测试仪 sf6气体定量检漏仪 30年经验

露点	测量范围	－80 ℃～+20 ℃
	测量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	测量时间 （＋20℃）	<3分钟。
环境温度	－40℃～＋60℃

另外，LM71-Q1可以监测TCU模块的总体温度，当温度处于-40°C和+150°C之间时，测量精度可达+3/-2°C。如前所述，TCU采用来自变速箱的温度数据，作为其决策过程的一部分。LMT01-Q1是采用双引脚引线封装的一种易用型数字温度传感器，您可以把它安装在变速箱上。将导线与LMT01-Q1封装的引线压接在一起，即可把这些导线连接至TCU电路板。LMT01-Q1通过发送脉冲来传输温度数据，MCU/处理器会为脉冲计数。1、连接SF₆设备

将测量管道上螺纹端与开关接头连接好，用扳手拧紧，关闭测量管道上另一端的针型阀；

再把测试管道上的快速接头一端插入仪器上的采样口；

将排气管道连接到出气口。

后将开关接头与SF₆电气设备测量接口连接好，用扳手拧紧；

2、检查电量

本仪器优先使用交流电。

使用直流电时，请查看右上角显示的电池电量，如果电量低于约20％，请关机充电后继续使用。

3、开始测量

打开仪测量管道上的针型阀，然后用面板上的流量阀调节流量，把流量调节到0.5L/M左右，开始测量SF₆露点。

设备测量时间需要5～10分钟，其后每台设备需要3～5分钟。

4、存储数据

设备测量完成后，可以将数据保存在仪器中，按“确定”键调出操作菜单，具体操作方式见下节内容。当两个重载输出时，电流在整个1-D周期持续流动，输出电压平衡良好。然而，当一个重载输出和另一个轻载输出时，轻载输出上的输出电容倾向于从该基座电压发生峰值充电；因为电流迅速回升到零，其输出二极管将停止导通，。请参见中的波形。这些寄生电感的峰值充电交叉调节影响通常比整流器正向压降单引起的要差得多。当对两个输出施加重载时，在整个1-D周期内，次级绕组电流在两个次级绕组中流动。您可以看到上方红色迹线上的基座电压。

5、测量其他设备

一台设备测量后，关闭测量管道上的针型阀和微水仪上的调节阀。将转接头从SF₆电气设备上取下。如果需要继续测量其他设备，按照上面步骤继续测量下一台设备。

6、测量结束

所有设备测量结束后，关闭仪器电源。

一、 菜单操作

在测量状态，通过确定键可以进入功能菜单，如图1。

1、保存数据

在测量状态，通过按“确定”键可以进入功能菜单，按“上”、“下”键选择“保存记录”菜单，按“确定”键，进入保存数据页面，保存数据时，可以根据设备进行编号。

设备编号多为六位，可以通过“上”、“下”键增加数值大小，“左”、“右”键调整数据位数。

输入编号后，按“确定”键，完成保存数据。按“返回”键可以返回上一页，此时不保存数据。

2、查看记录

在测量状态，通过按“确定”键可以进入功能菜单，按“上”、“下”键选择“查看记录”菜单，按“确定”键，进入查看记录页面。

显示时从后一个被保存的数据开始。

可以按“上”、“下”键翻看数据。时间交错技术可使用多个相同的ADC（文中虽然仅讨论了ADC，但所有原理同样适用于DAC的时间交错特性），并以比每一个单数据转换器工作采样速率更高的速率来处理常规采样数据序列。简单说来，时间交错（IL）由时间多路复用M个相同的ADC并联阵列组成。如图1所示。这样可以得到更高的净采样速率fs（采样周期Ts=1/fs），哪怕阵列中的每一个ADC实际上以较低的速率进行采样（和转换），即fs/M。举例而言，通过交错四个10位/100MSPSADC，理论上可以实现10位/400MSPSADC。

3、删除记录

在测量状态，通过按“确定”键可以进入功能菜单，按“上”、“下”键选择“删除记录”菜单，按“确定”键，可删除所有数据。

4、修改时间

在测量状态，通过按“确定”键可以进入功能菜单，按“上”、“下”键选择修改时间，按“确定”键，进入修改时间页面。

通过“上”、“下”键可以增加时间数值，“左”、“右”键可以减小时间数值。

输入小时、分钟、秒后，按“确定”键可以转到下一个修改域内。

 当外界热激励时，缺陷的存在会影响热传导，导致表面温度分布异常或表面温度随时间的变化异常。采用红外热像仪测量被检复合材料构件表面温度变化，通过一定的信号处理，甚至借助于参块，获得其表面或内部缺陷的特征（包括缺陷的位置、大小及性质等）。一般来说，缺陷越大，越靠近被检表面，与基体材料的热性质差别越大，越容易被检测出来。1应用特点红外热像检测是无损检测方法之一，具有直观、快速、无污染、一次检测面积大等优点，适用于复合材料构件的现场、快速检测，如器结构的原位检测。