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HN2016智能sf6微水测试仪sf6微水测试仪 密度继电器测试仪 气体定量检漏仪 定制定做
露点 |
测量范围 |
-80 ℃~+20 ℃ |
测量精度 |
±1℃(-80℃~+20℃) |
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测量时间 (+20℃) |
<3分钟。 |
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环境温度 |
-40℃~+60℃ |
RS485接口标准特点:RS-485的电气特性:逻辑"1"以两线间的电压差为+(2-6)V表示;逻辑"0"以两线间的电压差为-(2-6)V表示。接口信号电平比RS-232-C降低了,就不易损坏接口电路的芯片,且该电平与TTL电平兼容,可方便与TTL电路连接。RS-485的数据传输速率为10MbpsRS-485接口是采用平衡驱动器和差分接收器的组合,抗共模干能力增强,即抗噪声干扰性好。1、连接SF6设备
将测量管道上螺纹端与开关接头连接好,用扳手拧紧,关闭测量管道上另一端的针型阀;
再把测试管道上的快速接头一端插入仪器上的采样口;
将排气管道连接到出气口。
后将开关接头与SF6电气设备测量接口连接好,用扳手拧紧;
2、检查电量
本仪器优先使用交流电。
使用直流电时,请查看右上角显示的电池电量,如果电量低于约20%,请关机充电后继续使用。
3、开始测量
打开仪测量管道上的针型阀,然后用面板上的流量阀调节流量,把流量调节到0.5L/M左右,开始测量SF6露点。
设备测量时间需要5~10分钟,其后每台设备需要3~5分钟。
4、存储数据
设备测量完成后,可以将数据保存在仪器中,按“确定”键调出操作菜单,具体操作方式见下节内容。拿出征能ES325E仪表。测量绝缘电阻的原理图及接线图如下。拿黑色线钳住电动机的外壳上。用红色表笔接触电动机电压输入端。对应的颜色插入仪表。将旋转开关转到Ω档,默认电压是25V。按黄色VSEL键选择电压档位。此时选择的是5V档位。按红色TEST键开始测量。电源指示灯一直在亮,证明检测中,稍等片刻。电源指示灯不亮了,测量完成,此时用征能ES325E数字绝缘电阻表(5V)测量出来的绝缘电阻值为:8.85KMΩ。
5、测量其他设备
一台设备测量后,关闭测量管道上的针型阀和微水仪上的调节阀。将转接头从SF6电气设备上取下。如果需要继续测量其他设备,按照上面步骤继续测量下一台设备。
6、测量结束
所有设备测量结束后,关闭仪器电源。
一、 菜单操作
在测量状态,通过确定键可以进入功能菜单,如图1。
在测试电子器件时,很难不提到示波器所具有的通用性。为了对电子电路进行验证,工程师需要能够查看和测量其设计中的信号。自动测试设备(ATE)通常不提供大量可视化故障诊断,这对于必须安装、校准并对系统进行故障诊断的用户来说是一大挑战。这些操作需要可视化工具,示波器便能提供这种工具。没有其他设备能比示波器提供更多种测量工具。为了在ATE环境中实现示波器功能,用户通常在数字化仪中使用SFP(软件前面板)示波器软件。
1、保存数据
在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择“保存记录”菜单,按“确定”键,进入保存数据页面,保存数据时,可以根据设备进行编号。
设备编号多为六位,可以通过“上”、“下”键增加数值大小,“左”、“右”键调整数据位数。
输入编号后,按“确定”键,完成保存数据。按“返回”键可以返回上一页,此时不保存数据。
2、查看记录
在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择“查看记录”菜单,按“确定”键,进入查看记录页面。
显示时从后一个被保存的数据开始。
可以按“上”、“下”键翻看数据。像ResearchIR一样,FLIRResearchStudio?允许您定制工作区,但是以一种全新的方式进行。我们可以选择一个布局,此布局可以只有一个窗格或多达4个不同的窗格,然后我们可以将实时码流从任何连接的摄像机和任何记录文件移动到这些不同的窗格中。我们甚至可以将多个相同类型的内容放在同一个窗格中,从而在窗格中添加了深度。当我们添加越来越多的图片、录像、实时码流和图标,有一个布局助手,帮助您选择在哪里放置一切。
3、删除记录
在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择“删除记录”菜单,按“确定”键,可删除所有数据。
4、修改时间
在测量状态,通过按“确定”键可以进入功能菜单,按“上”、“下”键选择修改时间,按“确定”键,进入修改时间页面。
通过“上”、“下”键可以增加时间数值,“左”、“右”键可以减小时间数值。
输入小时、分钟、秒后,按“确定”键可以转到下一个修改域内。
可控硅检测方案电控系统长时间运行后,电发动机会出现跳闸等故障。基于此,对可控硅性能好坏进行检测,对于系统的日常维护、保证正常运转具有十分重要的意义。通常对电气设备的检测设备及方法有万用表、漏电仪、摇表,另外,还可以利用示波器观测导通电流以判断可控硅导通情况。在实际生产中,仅采用万用表无法判断可控硅的故障。下面对几种检测方法进行对比,以得出可控硅检测的方法。漏电仪检测法(耐压试验)采用大电流发生器(简称升流器)对可控硅K两极之间进行漏电试验。