产品名称：直流大电流发生器HNDL JP柜温升试验设备 容量大 30年经验

HNDL20KA型直流开关试验装置 直流大电流发生器HNDL JP柜温升试验设备 容量大 30年经验
利用计算机控制技术和现代电力电子技术研究设计的一种大电流低电压直生装置，主要用于直流开关的检测试验，如直流开关大电流脱扣定值的校验、分流器及隔离放大器特性测试、开关动作时间测试等，并自动记录测试的有关数据。晚上看书的时候电灯突然一闪一闪的？又是闪变在作怪了。那什么是闪变呢？为什么会产生闪变呢？下面我们先从理论的方面来理性的认识闪变，然后通过一个实际的案例来感性的感受一下闪变在现实生活中的存在。闪变的定义闪变是人眼对灯光亮度变化所引起刺激的不稳定感。即人对亮度变化的不适感。IEC61000-4-15规定了“灯—眼—脑”模型来衡量，反映了大多数人如何受闪烁白炽灯的影响。闪变的影响闪变的产生多数是因为电网电压变动导致照明亮度发生变化。

应用：

    HNDL20KA型直流开关试验装置是专门设计用于对地铁及轻轨用DC1500V、DC750V直流开关及其隔离放大器、保护装置进行功能试验的设备，通过模拟输出故障电流或过负荷电流，测试直流开关的大电流脱扣特性或过热跳闸特性及延时特性，测试隔离放大器特性和保护装置特性。HIOKI冬季新产品，热流数据采集仪LR8432。该款数采与以往的便携式数采有着相似的外观，但在功能上却有着与不同的地方。“热流”测量功能，了解何为“热流。”热流：即“热流量”，是一定面积的物体两侧存在温差时，单位时间内由导热、对流、辐射方式通过该物体所传递的热量。通俗来讲，温度变化时，势必包含热能的移动。热能是温度变化所释放的能量，与水和电相同由高到低的转移。这种热能移动的程度即用“热流”来表示，单位时间单位面积流。

特点：

智能化及图形显示：HNDL20KA型直流开关试验装置由嵌入式微机系统控制，输出电流的波形、幅值可通过人机界面准确控制。输出电流在显示器上以图形方式显示，可方便计算、显示直流开关的动作时间，并能存储、打印测量结果。

多种输出波形选择：理论上输出波形可有任意多种。本试验装置标准波形配置为常用的指数曲线，该曲线的幅值、时间常数可设定。

输出准确：按预先设定的波形参数输出，综合误差只有2%。工业使用的仪器，使用一定时期后，将满足产品老化，老化的试验和环境试验，它可以检测早期文书的一个潜在故障，准备的解决方案和解决方案，尤其是可以发现的常见故障，所以相同的仪器设备早期通过修改电路和方法恢复，有助于提高耐久性和可靠性的工具。老化测试一般的老化测试时对部分仪器仪表进行长时间通电运行，并测量其平均无故障工作时间，总结这些仪器仪表的故障特点，找出它们的共性问题加以解决。环境试验环境试验一般根据仪器仪表的工作环境而确定具体的试验内容，并按照规定的方法进行试验。

测量及计时精度高：输出电流、开关接点动作状态通过测量回路测量并以图形方式在显示器上显示，准确计算有关参数，电流测量精度为2%，时间测量精度为1mS

保护电路完善：HNDL20KA型直流开关试验装置有完善的保护电路,如过流速断保护、过流超时保护等。

接线方便：HNDL20KA型直流开关试验装置通过随装置提供的电缆与被试开关主触头端子相连，注意不得随意采用其它电缆。

模块化设计：HNDL20KA型直流开关试验装置采用模块化设计，特别是2号柜的降压整流输出单元，每一个模块的输出电流为5000A，方便维护和使用。根据用户需要，可定制10000A、15000A、20000A、30000A、40000A等规格的直流开关试验装置（HNDL10KA 、HNDL20KA 30KA、 HNDL40KA）无论是实验室环境还是生产车间，都需要采用更的半导体测试方法。半导体测试是NI的战略重点。我们正在扩展我们的软件平台和PXI功能，以帮助芯片制造商应对他们面临的挑战，这一点通过NI的PXISMU可以完全体现出来。”由于其高吞吐量、高性价比和占地面积小，NI的半导体测试系统(STS)正在快速应用到芯片生产中。全新的PXIe-4163SMU则进一步增强了这些功能，它能提供更高的直流通道密度，使多站点应用具有更高的并行性，以及在生产中提供实验室级别的测量质量。