产品名称：地铁直流大电流电源HNDL 直流温升试验设备 容量大 5年保修

HNDL20KA型直流开关试验装置 地铁直流大电流电源HNDL 直流温升试验设备 容量大 5年保修
利用计算机控制技术和现代电力电子技术研究设计的一种大电流低电压直生装置，主要用于直流开关的检测试验，如直流开关大电流脱扣定值的校验、分流器及隔离放大器特性测试、开关动作时间测试等，并自动记录测试的有关数据。和微波暗室的测试目的一样，TEMCELL也是一个模拟理想空间的天线测试环境，金属箱能够提供足够的功能来消除外部干扰对天线的影响，而内部的吸波材料也能吸收入射波，减小反射波。TEMCELL不能对天线进行无源测试，只能对有源指标进行测试。由于空间限制，TEMCELL的吸波材料比较薄，而对于劈状吸波材料，是通过劈尖间的多次反射增加对入射波进行吸收，因此微波暗室里的吸波材料都比较厚，而TEMCELL的吸波材料都不购厚，因此对入射波的吸收都不是很充分，因此会导致测试的结果不。

应用：

    HNDL20KA型直流开关试验装置是专门设计用于对地铁及轻轨用DC1500V、DC750V直流开关及其隔离放大器、保护装置进行功能试验的设备，通过模拟输出故障电流或过负荷电流，测试直流开关的大电流脱扣特性或过热跳闸特性及延时特性，测试隔离放大器特性和保护装置特性。压电传感器在使用过程中几乎不会产生磨损，在整个工作温度范围内拥有几乎恒定的灵敏度和非常优异的刚度。压电传感器允许用户在两个立的测量范围之间选择—而分辨率几乎不会受到影响。可靠的无线数据传输KiRoadWirelessP1通过无线局域网络同步传输数据。每个KiRoad无线系统都建有立加密的无线局域网络，以便数个系统可以同时进行测试。“通过这项技术进步，我们将传输技术的可靠性和用户友好性提升到了一个全新的水平。

特点：

智能化及图形显示：HNDL20KA型直流开关试验装置由嵌入式微机系统控制，输出电流的波形、幅值可通过人机界面准确控制。输出电流在显示器上以图形方式显示，可方便计算、显示直流开关的动作时间，并能存储、打印测量结果。

多种输出波形选择：理论上输出波形可有任意多种。本试验装置标准波形配置为常用的指数曲线，该曲线的幅值、时间常数可设定。

输出准确：按预先设定的波形参数输出，综合误差只有2%。TI提供行业款也是一款规模量产的单芯片CMOS毫米波传感器。传统汽车雷达系统的局限性已经，传统雷达缺乏分辨率，无法分辨附近的物体。此外，雷达系统还常常发出警报，并且它们始终无法足够快地处理信息，以满足高速应用。不过，汽车专家也认识到雷达技术的优点，尤其是它们能够在天气条件下工作的优势。他们认为雷达可以和视觉传感器一起协作，作为高度自动化车辆中的关键传感技术。人们已经充分了解了雷达系统的优势和劣势，那么问题来了，雷达技术该往什么方向发展呢？TexasInstruments（TI，德州仪器）希望用基于其标准芯片来回答这个问题。

测量及计时精度高：输出电流、开关接点动作状态通过测量回路测量并以图形方式在显示器上显示，准确计算有关参数，电流测量精度为2%，时间测量精度为1mS

保护电路完善：HNDL20KA型直流开关试验装置有完善的保护电路,如过流速断保护、过流超时保护等。

接线方便：HNDL20KA型直流开关试验装置通过随装置提供的电缆与被试开关主触头端子相连，注意不得随意采用其它电缆。

模块化设计：HNDL20KA型直流开关试验装置采用模块化设计，特别是2号柜的降压整流输出单元，每一个模块的输出电流为5000A，方便维护和使用。根据用户需要，可定制10000A、15000A、20000A、30000A、40000A等规格的直流开关试验装置（HNDL10KA 、HNDL20KA 30KA、 HNDL40KA）LED日光灯电源发热到一定程度会导致烧坏，关于这个问题，也见到过有人在行业论坛发过贴讨论过。本文将从芯片发热、功率管发热、工作频率降频、电感或者变压器的选择、LED电流大小等方面讨论LED日光灯电源发热烧坏MOS管技术。芯片发热本次内容主要针对内置电源调制器的高压驱动芯片。假如芯片消耗的电流为2mA，300V的电压加在芯片上面，芯片的功耗为0.6W，当然会引起芯片的发热。驱动芯片的电流来自于驱动功率MOS管的消耗，简单的计算公式为I=cvf（考虑充电的电阻效益，实际I=2cvf，其中c为功率MOS管的cgs电容，v为功率管导通时的gate电压，所以为了降低芯片的功耗，必须想办法降低v和f.如果v和f不能改变，那么请想办法将芯片的功耗分到芯片外的器件，注意不要引入额外的功耗。