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HNDL800 JP柜 配电箱温升试验系统 配电箱温升试验装置HNDL JP柜温升试验设备 容量大 5年保修
联系人车高平13608980122/15689901059用于箱变,配电箱额定电流温升试验。温升试验装置技术性能需满足根据GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等试验标准对开关柜进行试验的要求。以双路输出为例,若主路带满载,而辅路带额定负载10%以下,将导致辅路输出电压比起额定值高出较多;若主路带额定负载10%以下,而辅路带满载,将导致辅路输出电压比额定输出值低较多。另外,值得注意的是,若主路突然由重载变为很轻负载或相反,将导致辅路电压出现下冲或上冲。很明显这意味着,主路的“大动作”将可能导致辅路工作异常。模块本身可以加更大的假负载,当然这也会增加其损耗。在选择电源模块设计系统时,特别对于多路输出模块,应考虑轻负载问题。
1.2 技术参数要求
恒流输出电流:AC范围 0到额定电流,连续可调, 且该输出电流为真有效值(指负载被试开关柜及相关标准规定的试验附件, 可输出的电流有效值, 电流稳定输出时间应满足工作时间要求)
输出波形:标准正弦波
输出频率: 50Hz (+5%, -2%)
输出电压:0-6V,且连续可调
工作时间:大电流输出不少于24小时
输出相数:三相 多路
工程师用四通道在线编程器P8-ISP对客户样机编程时,发现现象确如客户所说的一致。凭着丰富的编程调试经验,我们的工程师将问题为芯片被误操作,导致被加密,查阅芯片技术手册后将根源锁定到2个寄存器上。为了解决这个问题,工程师将P8-ISP的时序代码作相应的修改,在执行擦除、编程操作之前,将2个寄存器的置位顺序做了调整,使MCU处于解密状态,确保芯片在编程过程中不会被误加密。采用更新好时序的P8-ISP来烧写MCU后,客户的汽车电子标签(OBU)烧片效率和良品率都有了明显提高,百万套OBU量产也不再是难事。
1.3 恒流源配置列表:(按照客户具体需求配置)
序号 |
名称 |
数量 |
1 |
3回路三相0-100A电流调节器 |
1 |
2 |
3回路三相0-400A电流调节器 |
1 |
3 |
3回路三相0-630A电流调节器 |
1 |
4 |
3回路三相0-800A电流调节器 |
1 |
