产品详情
查看大图

  • 产品名称：三回路配电箱温升试验设备HNDL 三相大电流试验装置 容量大 定制定做

  • 产品型号：HNDL
  • 产品厂商：华能
  • 产品文档：
你添加了1件商品 查看购物车
简单介绍：
适用于JP柜,配电箱温升试验,电力系统技术人员检验电流互感器保护装置及二次回路电流试验。也可用于开关,电缆、直流电流传感器和其它电器设备作电流负载试验及温升试验。三回路配电箱温升试验设备HNDL 三相大电流试验装置 容量大 定制定做
详情介绍：

HNDL800 JP柜 配电箱温升试验系统 三回路配电箱温升试验设备HNDL 三相大电流试验装置 容量大 定制定做 

三回路配电箱温升试验设备HNDL 三相大电流试验装置 容量大 定制定做
联系人车高平13608980122/15689901059用于箱变,配电箱额定电流温升试验。温升试验装置技术性能需满足根据GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等试验标准对开关柜进行试验的要求。电感位移传感器被广泛应用于微小位移量检测中，但在一些工程中现有传感器的测量精度和灵敏度达不到测量要求。针对这一问题，对传感器前段信号处理电路进行改进，在传感器上下线圈并联电容形成LC电路，利用LC电路谐振效应改善电路的性能，以提高信号源头的灵敏度;采用Multisim软件对半桥和全桥电路在并联不同大小的电容后的性能进行仿真，并用Matlab对生成的曲线进行二乘拟合，比较得出使电路性能的电容值和并联方法。

三回路配电箱温升试验设备HNDL 三相大电流试验装置 容量大 定制定做1.2 技术参数要求

恒流输出电流：AC范围 0到额定电流，连续可调， 且该输出电流为真有效值（指负载被试开关柜及相关标准规定的试验附件， 可输出的电流有效值， 电流稳定输出时间应满足工作时间要求）

输出波形：标准正弦波

输出频率： 50Hz （+5%， -2%）

输出电压：0-6V，且连续可调

工作时间：大电流输出不少于24小时

输出相数：三相  多路

如果一段信号每隔8小时就出现若干次故障，但故障的位置和次数全都随机。你觉得，这种信号要怎么抓？针对空闲时间较长的脉冲信号、高频的串行总线信号、小概率的猝发或毛刺信号，如何做到既可以长时间监控，又可高采样率捕获呢？本文结合测试时长8小时振动试验，捕获小概率失效区信号的案例，对示波器分段存储的应用进行探讨。8小时振荡检测试验以振动试验的连接器测试为例，整个过程中，监测连接器可能出现次失效区的次数，进而检测产品是否合格。三回路配电箱温升试验设备HNDL 三相大电流试验装置 容量大 定制定做


1.3 恒流源配置列表：（按照客户具体需求配置）

序号

名称

数量

1

3回路三相0-100A电流调节器

1

2

3回路三相0-400A电流调节器

1

3

3回路三相0-630A电流调节器

1

4

3回路三相0-800A电流调节器

1

三回路配电箱温升试验设备HNDL 三相大电流试验装置 容量大 定制定做LED日光灯电源发热到一定程度会导致烧坏，关于这个问题，也见到过有人在行业论坛发过贴讨论过。本文将从芯片发热、功率管发热、工作频率降频、电感或者变压器的选择、LED电流大小等方面讨论LED日光灯电源发热烧坏MOS管技术。芯片发热本次内容主要针对内置电源调制器的高压驱动芯片。假如芯片消耗的电流为2mA，300V的电压加在芯片上面，芯片的功耗为0.6W，当然会引起芯片的发热。驱动芯片的电流来自于驱动功率MOS管的消耗，简单的计算公式为I=cvf（考虑充电的电阻效益，实际I=2cvf，其中c为功率MOS管的cgs电容，v为功率管导通时的gate电压，所以为了降低芯片的功耗，必须想办法降低v和f.如果v和f不能改变，那么请想办法将芯片的功耗分到芯片外的器件，注意不要引入额外的功耗。三回路配电箱温升试验设备HNDL 三相大电流试验装置 容量大 定制定做


姓名：
电话：
您的需求：