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HNDL800 JP柜 配电箱温升试验系统 三回路JP柜温升测试仪HNDL 交流温升试验设备 容量大 5年保修
联系人车高平13608980122/15689901059用于箱变,配电箱额定电流温升试验。温升试验装置技术性能需满足根据GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等试验标准对开关柜进行试验的要求。为了解决这个问题，必须制定一系列的内部接口标准，否则行业将成为碎片化的产业。2003年，由ARM,Nokia,ST,TI等公司联合成立了一个联盟——MIPI是，目的就是是把内部的接口如摄像头、显示屏接口、射频/基带接口等标准化，从而减少设计的复杂程度和增加设计灵活性。MIPI联盟下面有不同的WorkGroup，分别定义了一系列的内部接口标准，比如摄像头接口CS显示接口DS射频接口DigR麦克风/喇叭接口SLIMbus等。
1.2 技术参数要求
恒流输出电流：AC范围 0到额定电流，连续可调， 且该输出电流为真有效值（指负载被试开关柜及相关标准规定的试验附件， 可输出的电流有效值， 电流稳定输出时间应满足工作时间要求）
输出波形：标准正弦波
输出频率： 50Hz （+5%， -2%）
输出电压：0-6V，且连续可调
工作时间：大电流输出不少于24小时
输出相数：三相 多路
无论是实验室环境还是生产车间，都需要采用更的半导体测试方法。半导体测试是NI的战略重点。我们正在扩展我们的软件平台和PXI功能，以帮助芯片制造商应对他们面临的挑战，这一点通过NI的PXISMU可以完全体现出来。”由于其高吞吐量、高性价比和占地面积小，NI的半导体测试系统(STS)正在快速应用到芯片生产中。全新的PXIe-4163SMU则进一步增强了这些功能，它能提供更高的直流通道密度，使多站点应用具有更高的并行性，以及在生产中提供实验室级别的测量质量。
1.3 恒流源配置列表：（按照客户具体需求配置）
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序号 |
名称 |
数量 |
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1 |
3回路三相0-100A电流调节器 |
1 |
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2 |
3回路三相0-400A电流调节器 |
1 |
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3 |
3回路三相0-630A电流调节器 |
1 |
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4 |
3回路三相0-800A电流调节器 |
1 |
