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  • 产品名称：JP柜多回路温升试验装置HNDL 直流温升试验设备 容量大 30年经验

  • 产品型号：HNDL
  • 产品厂商：华能
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简单介绍：
适用于JP柜,配电箱温升试验,电力系统技术人员检验电流互感器保护装置及二次回路电流试验。也可用于开关,电缆、直流电流传感器和其它电器设备作电流负载试验及温升试验。JP柜多回路温升试验装置HNDL 直流温升试验设备 容量大 30年经验
详情介绍：

HNDL800 JP柜 配电箱温升试验系统 JP柜多回路温升试验装置HNDL 直流温升试验设备 容量大 30年经验 

JP柜多回路温升试验装置HNDL 直流温升试验设备 容量大 30年经验
联系人车高平13608980122/15689901059用于箱变,配电箱额定电流温升试验。温升试验装置技术性能需满足根据GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等试验标准对开关柜进行试验的要求。几何形状有多方面的适应性，可构成任意形状的光纤传感器。传输频带宽。光纤的带宽距离乘积为30MHz?km?10GHz?km。光纤传感器无可动部分、无电源，是一个电气无源系统。此外，光纤还有耐水性好、抗腐蚀性强、可高密度传输数据等优点。利用光纤能构成种类繁多的传感器，故有人称光纤传感器是传感器。它可测量许多物理量，应用范围遍布**、民用、商业、医学、工业控制等各个领域，如下表所列。表用光纤测量的物理量目前，已证明用光纤可构成检测加速度、速度、位移、角加速度、角速度、角位移、压力、弯曲、应变、转矩、温度、电压、电流、液面、流量、流速、浓度、PH值、磁、声、光、射线等多种物理量的传感器，这些传感器与以电为基础的传统传感器相比较，在测量原理上有本质的差别。

JP柜多回路温升试验装置HNDL 直流温升试验设备 容量大 30年经验1.2 技术参数要求

恒流输出电流：AC范围 0到额定电流，连续可调， 且该输出电流为真有效值（指负载被试开关柜及相关标准规定的试验附件， 可输出的电流有效值， 电流稳定输出时间应满足工作时间要求）

输出波形：标准正弦波

输出频率： 50Hz （+5%， -2%）

输出电压：0-6V，且连续可调

工作时间：大电流输出不少于24小时

输出相数：三相  多路

检测内孔直线度时，将平面反射镜伸入孔内，利用胀套保证反射镜与内孔垂直。当内孔有弯曲时反射镜将偏转一定的角度，通过反射镜的偏转角度可以计算出内孔的直线度。PSD芯片激光测量法激光器安装在激光器座上，激光器座的尾部有4个螺钉可以对激光的照射角度进行微调。其头部与定心套连接后插入炮管孔内。位置检测单元的激光位敏传感器安装在传感器座内，传感器座的头部与定心套连接，尾部与推杆连接。通过手动推动推杆可以使位置检测单元在炮管内孔内移动。JP柜多回路温升试验装置HNDL 直流温升试验设备 容量大 30年经验


1.3 恒流源配置列表：（按照客户具体需求配置）

序号

名称

数量

1

3回路三相0-100A电流调节器

1

2

3回路三相0-400A电流调节器

1

3

3回路三相0-630A电流调节器

1

4

3回路三相0-800A电流调节器

1

JP柜多回路温升试验装置HNDL 直流温升试验设备 容量大 30年经验由P区引出的电极为阳极，由N区引出的电极为阴极，如下图所示，温度对二极管的性能有较大的影响，这是由于半导体材料的特性所致，温度升高时，二极管的正向压降将减小，每增加1oC，正向压降减小约2mV，可以从下图看出，由半导体理论可以得出，PN结所加端电压u与流过它的电流i的关系为：其中，Is为反向饱和电流，对于硅材料来说，Is约为10pA;q为电子的电量，q=1.6*10-9C；k是玻耳茨曼常数，k=1.38*10-23J/K；T为温度，kT/q可以用UT来代替，则常温下，即T=300K时，UT约为26mV。JP柜多回路温升试验装置HNDL 直流温升试验设备 容量大 30年经验


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