产品名称：大电流直流电源 大电流温升试验装置 配电箱温升试验装置 30年经验

HNDL系列全自动大电流发生器测试系统大电流直流电源 大电流温升试验装置 配电箱温升试验装置 30年经验

是青岛华能远见有限公司自主研制开发的专业应用于母线槽、频率50Hz开关、电流互感器和其它电器设备的电流负载速断试验及温升试验。则有效的保证了测试数据的准确性。整机测试单元包括：高精度毫秒计、真有效值电流表、电流传感器（进口件）、调压器、大功率升流器、微电脑控制器等部分。自动调压输出电流。提出的这种基于马赫-曾德调制器（MZM）的有效的DMT信号调制结构不同于传统的调制方式，我们提出的方式对信号的强度和相位都进行调制。通过调节MZM的偏置电压，光载频的功率可以大大的降低。在接收端，利用相干检测和数字载频再生的方法来恢复DMT信号，而不需要载波频率和相位估计。通过数值防止验证了方案的可行性，如所示，我们的方案的Q-参数代价比传统的DCR小0.6dB以上，激光器线宽，方案的优势越大。

特点

1、 采用10英寸真彩大液晶触摸屏操作；测试无需外接任何辅助设备，全自动控制，式操作，简单方便。

2、 带有自动稳流系统，工控机可实现四遥控能

3、 采用当前电力电子技术，抗干扰能力强，输出精度高，纹波系数小于0.2％，准确度高于0.5%；。

4、 自动试验只需设置好目标电流即可，无需人工监控，仅需设定测试电流，省去手动调压，减小劳动强度，提高工作效率。运行时间可自由设定

5、绝缘耐压 1800/AC  1min,   绝缘等级：B级

 欠补偿或过补偿的会引入幅度、上升时间和被测信号波形失真测量的严重误差。为具体的测量任务选用合适的总会得到的测量结果。通常，对于通用测量，10:1就足够了;但对于低幅度信号测量，您可能要考虑使用1:1。在进行高速测量时，应该着重考虑电容。具有大电容值的会减缓上升和下降沿，而且在检测某些器件(高速运放)的输入或输出端时，甚至会引起这些器件产生振荡。测量高速电路的另外一点考虑是使用有源FET。

二、技术指标

1.输入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的输出0—20000A交流大电流。运行时段可自行设定。

3. 输出开口电压：0-20V.

4.电流精度 ：各电流均可平滑平稳连续可调，精度高于0.5级.电流电压表显示为真有效数值，精度高、稳定度高。

5.电流波形失真   THD 1%  设计标准远远高于国标<<GB14048.2-14>>.

6.保护设置  过流、过压

7.绝缘阻抗  20兆欧

8.绝缘耐压  1800/AC  1MIN

9.可测被测元件的电流动作时间。并可同步记录锁定动作时间。常开、常闭触点自动判别。测时范围：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.波形捕获率是相对于数字示波器来说的。数字示波器采样、处理数据到送显屏幕都是需要时间的，处理数据和送显屏幕这段时间称为死区时间。死区时间内示波器不采样，是探测不到信号发生的变化的，所以实际上不是所有波形我们都能在屏幕上看到，我们看到的波形其实是被死区时间分隔成一段一段的，因此就有了波形捕获率一说。采样时间+死区时间=波形捕获周期。而波形捕获率是指一秒内波形捕获的次数，也就是波形捕获周期的倒数，如下是示波器的一个捕获周期。

三、操作方法

1、仪器接入380V电压，在将仪器后面电流输出端子与被测品接通构成电流回路接线端子要紧固。面板上的常闭触点要接到被测品的辅助常闭触点上。

2、打开仪器侧面空气开关，等待几秒进入试验选择界面如下图：

电流输出线与常闭触点接入后，注急停按钮不要按下，直接按启动按钮，即可通过点击触控屏升降按钮来调节电流输出大小。(每次试验结束后，都要按下面板归零按钮让调压器自动归零位)。

2) 自动升流就选择进入“自动试验”界面如下图：

自动试验时，每次都要先选择“参数设置”来设置输出电流大小。做长时间运行可自由设定运行时间。如下图：复杂的多端口测试和非插入器件测量对测试精度而言是一个挑战。电子校准件连接方便、简单，在矢量网络仪多端口器件测量中具有特优势，其两个基本功能为：全自动电子校准电子与机械的混合校准前者单使用电子校准件完成校准，后者与机械校准件配合使用。本文重点介绍全电子与机械的混合校准。此方法相比前者略复杂，可兼容前者，且使用更加灵活。D矢量网络仪电子校准件是矢量网络仪新型校准件；机械校准是传统校准件。

1.在连接仪器测试线前，应先检查各项调压器是否归零。急停按钮是否关闭。

2.输出电流2500A以上时，电流输出线一定要紧固。试验时间≤300s。目前T/R组件测试大多采用串行顺序测试的模式，即执行完一个测试任务，再启动另一个测试任务，直至完成测试。这相当于要求几个人累计完成1千米的跑步，现在采用的是接力跑模式，为什么不能根据每个人的能力一起跑呢？岂不是更快？多T/R组件并行测试模式就是在同一时刻，不同的T/R组件以多线程的方式执行不同的测试任务，测试任务之间所需的仪器和通道并不冲突。并行测试难点不同于数字和低频测试仪器，当今射频微波测试仪器自身的测试通道还比较少，一般也只能完成某一类性能参数的测试。