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HNDL系列全自动大电流发生器测试系统直流开关试验装置 直流开关试验电源 断路器温升试验装置 5年保修
是青岛华能远见有限公司自主研制开发的专业应用于母线槽、频率50Hz开关、电流互感器和其它电器设备的电流负载速断试验及温升试验。则有效的保证了测试数据的准确性。整机测试单元包括:高精度毫秒计、真有效值电流表、电流传感器(进口件)、调压器、大功率升流器、微电脑控制器等部分。自动调压输出电流。概述在所有射频和微波系统中几乎都要用到放大器,放大器更是通信、雷达或卫星转发系统中不可或缺的组成部分。如此普遍的应用使放大器测量为工程师们所熟知,在平时的测量中,我们关注较多的是其线性参数,诸如增益和回波损耗,输入和输出功率等,但是当放大器的输入功率超过一定值之后,它的工作状态也在发生变化,比如增益下降,谐波增大,互调增大等,如果不注意这一点会对系统的设计带来麻烦甚至毁灭性的破坏,诸如稳定性、增益压缩、功率消耗(或者效率)和失真测量越来越引起工程师们的重视,本文主要介绍41所研制的3672系列矢量网络仪中放大器增益压缩测量功能如何快速准确地进行放大器增益压缩等参数的测量。
特点
1、 采用10英寸真彩大液晶触摸屏操作;测试无需外接任何辅助设备,全自动控制,式操作,简单方便。
2、 带有自动稳流系统,工控机可实现四遥控能
3、 采用当前电力电子技术,抗干扰能力强,输出精度高,纹波系数小于0.2%,准确度高于0.5%;。
4、 自动试验只需设置好目标电流即可,无需人工监控,仅需设定测试电流,省去手动调压,减小劳动强度,提高工作效率。运行时间可自由设定
5、绝缘耐压 1800/AC 1min, 绝缘等级:B级
另外,作为环境特性,也是随着传感器变化的。传感器的性能测试就是通过试验建立传感器的输入量和输出量之间的关系,确定出传感器在不同使用条件下的误差关系。性能测试的基本方法是利用标准设备产生已知的非电量(如标准力、压力、位移、速度、加速度、温度、流量等)作为输入量,输入到待测试的传感器中,通过测试系统,得到传感器的输出量。对传感器的输出量与输入的标准量按照规定的方法进行数据处理,从而得到一系列性能测试数据,这些数据就作为传感器的技术指标。
二、技术指标
1.输入 交流50Hz , 380V。
2.可三相平衡的输出0—20000A交流大电流。运行时段可自行设定。
3. 输出开口电压:0-20V.
4.电流精度 :各电流均可平滑平稳连续可调,精度高于0.5级.电流电压表显示为真有效数值,精度高、稳定度高。
5.电流波形失真 THD 1% 设计标准远远高于国标<<GB14048.2-14>>.
6.保护设置 过流、过压
7.绝缘阻抗 20兆欧
8.绝缘耐压 1800/AC 1MIN
9.可测被测元件的电流动作时间。并可同步记录锁定动作时间。常开、常闭触点自动判别。测时范围:0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.应用背景用频装备是现代化战争中的重要组成部分,在很多场合用频装备性能指标的高低直接决定了战争全局的胜败。然而,在的实际战区的电磁环境中,充斥着种类繁多的复杂电磁信号,雷达、导航、通信、敌方干扰、自然噪声等信号。同时由于电磁信号的传播受到实际地理环境的显著影响,导致战区电磁环境异常复杂。用频装备在复杂电磁环境下的性能测试成为其研制过程中的重要内容。概括来说,装备的电磁性能测试按环境不同可分为三类。
三、操作方法
1、仪器接入380V电压,在将仪器后面电流输出端子与被测品接通构成电流回路接线端子要紧固。面板上的常闭触点要接到被测品的辅助常闭触点上。
2、打开仪器侧面空气开关,等待几秒进入试验选择界面如下图:
电流输出线与常闭触点接入后,注急停按钮不要按下,直接按启动按钮,即可通过点击触控屏升降按钮来调节电流输出大小。(每次试验结束后,都要按下面板归零按钮让调压器自动归零位)。
2) 自动升流就选择进入“自动试验”界面如下图:
自动试验时,每次都要先选择“参数设置”来设置输出电流大小。做长时间运行可自由设定运行时间。如下图:假如我们同时在用两路通道进行测试,通道1与通道2之间的信号是否会互相干扰?干扰的程度有多大?将这些问题量化,就可以理解通道隔离度了。如何对通道隔离度进行测试?根据数字存储示波器通用规范规定,设置示波器干扰通道垂直灵敏度为较大档,设置扰通道垂直灵敏度为易受干扰档级,并将输入端。我们将通道1(干扰通道)垂直档位调节至500mV/div,通道2(扰通道)垂直档位调节至2mV/div,并将通道2输入端悬空。
1.在连接仪器测试线前,应先检查各项调压器是否归零。急停按钮是否关闭。
2.输出电流2500A以上时,电流输出线一定要紧固。试验时间≤300s。用网络仪测试时,测试端口是标准50Ω同轴线缆,因此在连接被测电缆时要求使用转接头或夹具,而这些接头和夹具的S参数未知,需要去除其影响,才能获得被测线缆的实际参数。目前常用的方法是去嵌入或夹具移除法,这些方法要求设计的夹具和微带校准件,校准后移除夹具的S参数。其难点在于夹具及其校准件的制作,通常校准件的参数是理论设计值,跟实际值有一定差距,并且校准和得到的夹具自身S参数,可能造成实测数据曲线的波动,甚至错误。