产品名称：智能型大电流发生器 母线槽温升试验设备 电缆热循环试验设备 定制定做

HNDL系列全自动大电流发生器测试系统智能型大电流发生器 母线槽温升试验设备 电缆热循环试验设备 定制定做

是青岛华能远见有限公司自主研制开发的专业应用于母线槽、频率50Hz开关、电流互感器和其它电器设备的电流负载速断试验及温升试验。则有效的保证了测试数据的准确性。整机测试单元包括：高精度毫秒计、真有效值电流表、电流传感器（进口件）、调压器、大功率升流器、微电脑控制器等部分。自动调压输出电流。工作原理：基于电磁波运动学、动力学原理和现在电子技术。HC-HD85楼板测厚仪主要由信号发射、接收、信号处理和信号显示等单元组成，当接收到发射电磁信号后，信号处理单元根据电磁波的运动学特性进行，自动计算出发射到接收的距离，该距离即为测试板的厚度，并完成厚度值得显示，存储和传输。测试方法：发射与接收分别置于被测楼板的上下两侧，仪器上显示的值即为两之间的距离，只需移动接收，当仪器显示为值时，即为楼板的厚度。

特点

1、 采用10英寸真彩大液晶触摸屏操作；测试无需外接任何辅助设备，全自动控制，式操作，简单方便。

2、 带有自动稳流系统，工控机可实现四遥控能

3、 采用当前电力电子技术，抗干扰能力强，输出精度高，纹波系数小于0.2％，准确度高于0.5%；。

4、 自动试验只需设置好目标电流即可，无需人工监控，仅需设定测试电流，省去手动调压，减小劳动强度，提高工作效率。运行时间可自由设定

5、绝缘耐压 1800/AC  1min,   绝缘等级：B级

 正确选用功率继电器的四个步骤测触点电阻用表的电阻档，测量常闭触点与动点电阻，其阻值应为0，(用更加方式可测得触点阻值在100毫欧以内);而常开触点与动点的阻值就为无穷大。由此可以区别出那个是常闭触点，那个是常开触点。测线圈电阻可用表R×10Ω档测量功率继电器线圈的阻值，从而判断该线圈是否存在着开路现象。测量吸合电压和吸合电流找来可调稳压电源和电流表，给功率继电器输入一组电压，且在供电回路中串入电流表进行监测。

二、技术指标

1.输入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的输出0—20000A交流大电流。运行时段可自行设定。

3. 输出开口电压：0-20V.

4.电流精度 ：各电流均可平滑平稳连续可调，精度高于0.5级.电流电压表显示为真有效数值，精度高、稳定度高。

5.电流波形失真   THD 1%  设计标准远远高于国标<<GB14048.2-14>>.

6.保护设置  过流、过压

7.绝缘阻抗  20兆欧

8.绝缘耐压  1800/AC  1MIN

9.可测被测元件的电流动作时间。并可同步记录锁定动作时间。常开、常闭触点自动判别。测时范围：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.HeliPod?红外热成像系统的高分辨率和高码流能力能在植物品种之间检测到较小的温度差异，使其成为大规模实验的功能强大的表型鉴定工具。成像农业研究对于管候变化并确保食品供应能够跟上日益增长的需求至关重要。“目前，我们每年使用这项技术筛选超过5万个地块，这项技术在研究领域和工业领域的需求也在稳步增长。如今我们的一些行业合作伙伴不会考虑在没有部署此项功能的情况下进行任何实验。”“从长远来看，控制植物蒸腾速率的基因位点将被打破，这将使得新作物品种的开发更能适应气候变化。

三、操作方法

1、仪器接入380V电压，在将仪器后面电流输出端子与被测品接通构成电流回路接线端子要紧固。面板上的常闭触点要接到被测品的辅助常闭触点上。

2、打开仪器侧面空气开关，等待几秒进入试验选择界面如下图：

电流输出线与常闭触点接入后，注急停按钮不要按下，直接按启动按钮，即可通过点击触控屏升降按钮来调节电流输出大小。(每次试验结束后，都要按下面板归零按钮让调压器自动归零位)。

2) 自动升流就选择进入“自动试验”界面如下图：

自动试验时，每次都要先选择“参数设置”来设置输出电流大小。做长时间运行可自由设定运行时间。如下图：测试方法：由于客户测试的心率测试模块可以外接蓝牙做及时监控记录，因此使用精密电源IT6412供电，串接一台高精度电表做为电流量测比对，以此来量测关机泄漏电流与待机功耗，工作电流与功耗等参数指标。4电子器件测试——磁保持继电器测试磁保持继电器的老化测试，就是重复让产品断开和闭合，进行老化测试。脉冲波形：+4.5V,5msV,5ms-4.5V,5msV,5ms。测试磁保持继电器的吸合电压和释放电压。

1.在连接仪器测试线前，应先检查各项调压器是否归零。急停按钮是否关闭。

2.输出电流2500A以上时，电流输出线一定要紧固。试验时间≤300s。用编程器不仅不能提供编程效率，反而出现了极高的率品，更要命的是很多率芯片已损坏，这不是赔了夫人又折兵吗（花钱买编程器编坏芯片）？其实客户的咨询及反馈，也印证着我们编程器技术一路以来的发展及变革史，细节决定成败。通常，使用编程器编写芯片出现品率，是有多因数造成的，比如芯片批次质量波动、编程烧录房环境及人员习惯素质、夹具使用寿命、编程器老化、编程器时序的兼容性等原因。解决这些基本问题，一般可以通过加强人员培训，设备维护升级或者及时更新芯片时序算法就可解决，并且也达到了一定的效果。