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HN9001地下管线探测仪
仪器特点
1) 便携轻巧,使用方便,充电电池供电,一人即可操作,四项测试一次完成。
2) 数字化设计,软件控制,性能稳定、可靠。
3)大屏液晶界面,中文显示,一看就懂,易学、易会。
4)所测信息以数字大小、光栅长短、声音缓急三种方式提供给操作者,使测试过程轻松自如。
是德科技拥有丰富的产品系列,而且鼎力支持开放接口和体系结构,能够为客户提供广泛的电子战场景仿真解决方案,从单一测试台测试到场景仿真应有尽有。这款现代化的电子战测试和评估解决方案具有出色的可扩展性,通过重新配置系统,能够实现对射频测试资产的利用。是德科技信息战事业部总经理GregPatschke表示:“是德科技深知,我们的客户需要强大的解决方案以便从容应对日新月异的电子战环境。我们将继续与客户携手合作,开发和交付能够快速适应新环境的解决方案,帮助客户提升实验室的测试水平。
2.2 仪器组成
2.2.1 标准配置:发射机、接收机、充电器、直连线、地钎
2.2.2 选 件:大耦合钳
在实际应用中测量的电阻电压越低,热电效应就越显著。所以这个电压的影响取决于具体的应用。用户的硬件系统很少有能力能消除热电动势电压,因为在用继电器系统模拟电阻时就应该考虑到这一点。基于继电器的高精度程控电阻模块具有热电动势的是40-260,40-261,40-262,40-263和40-265。40-297系列具有低的热电动势,因为它使用的设计方法可以尽量的减少热电效应,但是有更多的继电器串联。2.3 仪器参数
2.3.1 发射机
1)输出信号:输出四种频率的正弦交流信号,分别是低频、中频、高频、射频。
2)输出功率:恒功率输出,低、中、高三档(不小于6瓦)。
3)输出模式:直连法、耦合法、感应法。
4)阻抗显示:99999欧以内。
5)负载匹配:1—10000欧。
6)显示界面:大屏液晶中文、图形显示,自带背光。
7)电 源:标准1号1.2V充电电池6节,充放电500次。
8)待机时间:大于8小时,电量提示。
波形本质的图解示波器带宽的内涵奥林匹克的口号是“更快、更高、更强”,在示波器上的“更快”,则是对带宽的要求。示波器中的模拟通道,简化来看就是个低通滤波器。它对频率越高的信号,衰减就越严重。一般会把信号功率衰减了-3dB时的频率,定义为示波器的带宽。当然,目前示波器的模拟技术发展神速,在示波器标定的带宽频率点时,会有一定的裕量,所以在示波器的带宽频率点,幅度的衰减是-3dB以内的。特别说明的是,也是组成测量系统的重要一环,若测试中使用到,则必须考虑对带宽的影响。
2.3.2 接收机
1)接收频率:接收五种不同频率的正弦交流信号,分别是低频、中频、高频、射频、50HZ.
2)接收模式:波峰法(水平线圈)、 波谷法(竖直线圈)、 外接设备法(耦合钳)。
3)信号界面:数字大小、光栅长短、声音缓急三种界面同时提示信号强弱
4)显示界面:大屏液晶中文、图形显示,自带背光。
5)增益控制:手动调节,动态范围000——100db。
6) 探测长度:直连电缆时,长15KM。.
耦合电缆时,一次耦合可测3Km,多次耦合无限远。
感应电缆时,一次感应可测300m,多次感应无限远。
7)深度测量:直读探测深度,范围 000—250cm。
80%法测深度,范围 000—250cm(感应)\500cm(直连)
8)电流测量:直读电流,范围000—999mA.
9) 探测精度:埋深的5%你也可在高速应用中关闭抖动功能,这样就不用取平均值。16位数据采集板在设计正确时实际可以执行18位分辨率而无需抖动,通常16位板上的自然系统噪声情况比较好,可返回多个测量值取平均。另一个经常被忽略的是温度漂移误差,计算机或台式测量仪器的温度都会发生变动,计算机系统中的数据采集板一般工作在0到55℃温度范围,定制的电阻网络和高精度元件可以帮助把温度漂移维持在6ppm/℃以内。另外,数据采集板常常会调用一个自校正函数,将温度漂移维持在更低的水平(约0.6ppm/℃)。
2.4 工作原理
本仪器是以电磁感应原理为基础、以跨步电压理论为依据,结合数字滤波 、无线接收、软件控制而设计的高科技产品。
电磁感应:其基本工作原理是:由发射机产生电、磁波并通过不同的发射连接方式将发送信号传送到地下被探测金属管线上,地下金属管线感应到电磁波后,在地下金属管线表面产生感应电流,感应电流就会沿着金属管线向远处传播,在电流的传播过程中,又会通过该地下金属管线向地面辐射出电磁波,这样当地下管线探测仪接收机在地面探测时,就会在地下金属管线正上方的地面接收到电磁波信号,通过接收到的信号强弱变化就能判别地下金属管线的位置和走向。
此原理实现的条件:,要有能发出足够电能的信号源,在具备传输电能的线路中形成电流,电流在流动过程中又在该线周围产生磁场;其次,要有能接收这一特定磁场的电路,把磁场的变化过程以电信号形式显示出来。LED研发一LED光源半导体芯片发热利用热像仪,工程师可以根据得到的光源半导体芯片发热红外热图,出其芯片在工作时的温度,以及温度的分布情况,在此基础,达到提高LED产品寿命的目的。二LED模块驱动电路在LED产品研发中,需要工程师进行一部分驱动电路设计,整流器电路模块。利用红外热像仪,工程师可以迅速而便捷地发现电路上温度异常之处,便于完善电路设计。三光衰试验LED产品的光衰就是光在传输中的信号减弱,而现阶段的LED大厂们做出的LED产品光衰程度都不相同,大功率LED同样存在光衰,这和温度有着直接的关系,主要是由晶片、荧光粉和封装技术决定的。