产品名称：电缆故障综合测试仪 HN300系列 地下金属电缆故障定位仪现货供应

HN300电缆故障测试仪 电缆故障综合测试仪 HN300系列 地下金属电缆故障仪现货供应

 用于35kV及以下不同等级、不同截面、不同介质及材质的电力电缆的各类故障，包括：开路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻闪络性故障。可配合高压设备实现传统电缆故障测试的低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法。 全中文操作软件和使用界面，子菜单方式和文字提示实现人机互动。工业级10.4寸彩色触摸液晶屏显示，全中文操作软件和使用界面，子菜单方式和文字提示实现人机互动。否则,有可能造成光缆打滚折断纤芯。分纤将光纤穿过热缩管。将不同束管，不同颜色的光纤分开，穿过热缩管。剥去涂覆层的光纤很脆弱，使用热缩管，可以保护光纤熔接头。打开古河S176熔接机电源，采用预置的42种程式进行熔接，并在使用中和使用后及时去除熔接机中的灰尘，特别是夹具，各镜面和V型槽内的粉尘和光纤碎未。CATV使用的光纤有常规型单模光纤和色散位移单模光纤，工作波长也有1310nm和1550nm两种。

技术参数

1. 采样方法：低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法

2. 采样速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脉冲宽度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速设置：交联、聚氯、油浸纸、不滴油和未知类型自设定

5. 冲击高压：35kV及以下

6. 测试距离：＜60km，盲区≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 测试精度：1m

9. 显示方式：工业级10.4寸彩色触摸液晶屏

在客户前期污染场地调查中，明确了该场地的污染状况（主要污染物为铜，平均含量884mg/kg），通过实验室小试筛选了合适的增强试剂，在污染场地现场选择重度污染区开展电动修复示范。示范场地中采取平行成对的电极布设方式，通过选用可生物降解的增强试剂来提高土壤中重金属的去除率。试验现场外接民用交流电，通过直流电源转换成直流电提供给电动修复使用，电压梯度为7.5V/m，运行电流为.85-1.7A。整个电动修复包括电源/电极系统、自动监测/控制系统、药剂注入系统和废水处理系统。

 四、工作原理

       本产品采用的是时域反射（TDR）原理，即对电缆发射一电脉冲，电脉冲将在电缆中匀速传输，当遇到电缆阻抗发生变化的地方（故障点），电脉冲将产生反射。测距主机将电脉冲的发射和反射的变化以时域形式通过液晶屏显示出来，通过屏幕上的波形可直接判读故障距离。

① 开关按键：按下自锁接通电源，再按解锁断开电源。开机2分钟无任何操作时，屏幕将变暗进入屏保节能状态。既然瞬时阻抗像电阻，那我们就给负载并联一个电阻，让其阻值和特性阻抗相等，这样信号就不会反射回来，而是被电阻吸收。您的电路也就清净了。这种方法叫做终端匹配。的50Ω特性阻抗大小会影响信号传输功率、传输损耗、串扰等电气性能，而其板材和几何结构又影响制造成本，这种情况只能找一个折中值。而50Ω正是同轴线的传输功率、传输损耗以及制造成本的一个平衡点。所以大多数高速信号都会采用50Ω特性阻抗系统，形成标准并沿用至今，成为使用广泛的一种阻抗标准。

② 充电端口：用于连接充电器，给电池充电。

③ 中值旋钮：顺时针旋动中值向上走动；逆时针旋动中值向下走动。（需采样刷新才有变化）大；逆时针旋动幅度减小。（需采样刷新才有变化）

⑤ 采样端口：四芯座，用于连接采样线。博士能、纽康、图柏斯、欧尼卡、奥卡，镭创属于望远镜形式测量距仪，又可以望远、有可以测距。测量距离远，相对精度差，误差一般在1米，可以称呼为激光测距望远镜、测距望远镜、望远镜测距仪等。激光测距望远镜的细分博士能、纽康功能上以单纯的测量距离功能为主。测量精度以米为单位。图柏斯、欧尼卡、奥卡、镭创测量精度*高的图柏斯Trupulse2x可以达到4厘米、镭创Contourxlric可达1cm其次是Trupulse2、Trupulse36、奥卡的LH系列，3cm、欧尼卡的onickAS系列5cm。

⑥ 触摸式彩色液晶屏：详见“工作界面介绍”。

按“       ”键，弹出采样方式选择子菜单。子菜单中包括：“低压脉冲”、“闪络方法”和“速度测量”。仪器开机默认“低压脉冲”，根据测试需要，可选择相应的采样方式，再按“采样方式”键退出。

按“       ”键，弹出脉冲宽度选择子菜单。子菜单中包括7个选项，分别为：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根据测试距离选择合适的脉宽，按对应的子菜单键可以对脉冲宽度进行选择，仪器开机默认0.2μs，再按“脉宽”键退出此项功能。注意：在高压闪络法测试中此项不做选择。

测量误差的产生误差客观存在，但人们无法确定得到；且误差不可避免，相对误差可以尽量减少。误差组成成分可分为随机误差与系统误差，即：误差=测量结果-真值=随机误差+系统误差任意一个误差均可分解为系统误差和随机误差的代数和系统误差：系统误差（Systematicerror）定义：在重复性条件下，对同一被测量进行无限多次测量所得结果的平均值与被测量的真值之差。产生原因：由于测量工具（或测量仪器）本身固有误差、测量原理或测量方法本身理论的缺陷、实验操作及实验人员本身心理生理条件的制约而带来的测量误差。