产品名称：二次脉冲电缆故障测试仪 HN300系列 一体化电缆测试高压电源生产厂家

HN300电缆故障测试仪 二次脉冲电缆故障测试仪 HN300系列 一体化电缆测试高压电源生产厂家

 用于35kV及以下不同等级、不同截面、不同介质及材质的电力电缆的各类故障，包括：开路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻闪络性故障。可配合高压设备实现传统电缆故障测试的低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法。 全中文操作软件和使用界面，子菜单方式和文字提示实现人机互动。工业级10.4寸彩色触摸液晶屏显示，全中文操作软件和使用界面，子菜单方式和文字提示实现人机互动。同样，这样的改变也体现在“协议”上，新的方式将人们从“0”，“1”的世界中解放出来，大大提高了工作效率。0/1的世界下面，我们具体看一下示波器发展中协议方式的变化。初的协议初的示波器只是一个简单的波形显示兼数据测量，而我们需要获取协议波形深层次的含义，则需要一段一段去。：观察IIC协议，一个时钟信号，一个数据信号，我们需要按照时钟与数据信号一位一位对应，去进行0/1的组合转换，将其“翻译”成我们需要形式，再去对应相应的物理量。

技术参数

1. 采样方法：低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法

2. 采样速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脉冲宽度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速设置：交联、聚氯、油浸纸、不滴油和未知类型自设定

5. 冲击高压：35kV及以下

6. 测试距离：＜60km，盲区≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 测试精度：1m

9. 显示方式：工业级10.4寸彩色触摸液晶屏

标准中均涉及一项重要测试即振动（复合温度）试验，本文以下将重点介绍利用艾德克斯IT6400系列电源，对**气囊系统进行振动模拟测试。振动（复合温度）试验振动（复合温度）试验是将**气囊系统置于一定的温湿度条件下，同时按规定的周期将电振动应力施加到待测**气囊上，去模拟待测物在运输过程中或者汽车行驶在不同道路状况下对于**气囊的振动疲劳破坏，更客观评价**气囊在温湿度和振动复合环境下的适应能力。实际工作过程中，**气囊必须在通电状态下才能发挥作用，因此如上图表所示，检测标准中均规定需“模拟工作状态加载脉冲电流”。

 四、工作原理

       本产品采用的是时域反射（TDR）原理，即对电缆发射一电脉冲，电脉冲将在电缆中匀速传输，当遇到电缆阻抗发生变化的地方（故障点），电脉冲将产生反射。测距主机将电脉冲的发射和反射的变化以时域形式通过液晶屏显示出来，通过屏幕上的波形可直接判读故障距离。

① 开关按键：按下自锁接通电源，再按解锁断开电源。开机2分钟无任何操作时，屏幕将变暗进入屏保节能状态。电感器的集成不仅减小了开关节点的面积，还可以更轻松地实现布局。新型DC/DC转换器的开关频率显著提高，因此可以使用小型片式电感器和陶瓷电容器，使得DC/DC转换器成为外形的选择。新型LMZM23601电源模块将DC/DC转换器、电感器、Vcc滤波电容器和升压电容器集成到一个3mm*3.8mm*1.6mm的封装中。这样可以处理36V的输入电压，并将电压从15V降至2.5V(固定5V和3.3V可选)，同时输出电流高达1A。

② 充电端口：用于连接充电器，给电池充电。

③ 中值旋钮：顺时针旋动中值向上走动；逆时针旋动中值向下走动。（需采样刷新才有变化）大；逆时针旋动幅度减小。（需采样刷新才有变化）

⑤ 采样端口：四芯座，用于连接采样线。将天线、射频、模拟、数字处理器和适当的接口等准确地进行集成，需要昂贵和繁琐的设计。但是现在，我们的集成雷达芯片带来了许多性的即插即用解决方案。除了标准的汽车应用之外，许多工业和商业应用也可以从简单易用的TI毫米波传感器中获益。集成DSP和微控制器的效率和便利性将提供多种用途。它可以通过实时监控纠正前端异常情况来提高整体性能。此外，它还专门提供一个芯片上的平台用于本地应用程序和数据。，无人机上的嵌入式毫米波传感器可以检测农业土壤和作物的品质。

⑥ 触摸式彩色液晶屏：详见“工作界面介绍”。

按“       ”键，弹出采样方式选择子菜单。子菜单中包括：“低压脉冲”、“闪络方法”和“速度测量”。仪器开机默认“低压脉冲”，根据测试需要，可选择相应的采样方式，再按“采样方式”键退出。

按“       ”键，弹出脉冲宽度选择子菜单。子菜单中包括7个选项，分别为：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根据测试距离选择合适的脉宽，按对应的子菜单键可以对脉冲宽度进行选择，仪器开机默认0.2μs，再按“脉宽”键退出此项功能。注意：在高压闪络法测试中此项不做选择。

PID（PotentianInducedDegradation）是一种电势诱导衰减现象，是指组件长期在高电压下使得玻璃，封装材料之间存在漏电流，大量电荷聚集在电池表面。使得电池表面的钝化效果恶化，导致填充因子（FF），短路电流（Isc），开路电压（Voc）降低，使得组件的性能低于设计标准，发电能力也随之下降。2010年，NREL和Solon证实了无论组件采取何种技术的P型晶硅电池，组件在负偏压下都有PID的风险。