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HN300电缆故障测试仪 多脉冲电缆故障测试仪 HN300系列 电缆故障定点仪生产厂家
用于35kV及以下不同等级、不同截面、不同介质及材质的电力电缆的各类故障,包括:开路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻闪络性故障。可配合高压设备实现传统电缆故障测试的低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法。 全中文操作软件和使用界面,子菜单方式和文字提示实现人机互动。工业级10.4寸彩色触摸液晶屏显示,全中文操作软件和使用界面,子菜单方式和文字提示实现人机互动。性能配置:每个行业对于色差精度的要不一样的,也就是△Eab,若是△Eab在0-1之间,那么必须选择精度较高仪器;这些一般都是橡塑、涂料和喷漆行业等;如不需要精度比较高的也可以选择一般的色差仪就可以。测试孔径:一般色差仪的测试孔径是4mm或者8mm,如果自身产品是弧面或者尺寸非常小,那么需要考虑测试孔径问题,当然也可选择定制。计量认证:色差仪属于计量类仪器,要了解该产品是否可以达到计量要求,否则出现争论时,数据是没法参考的。

技术参数
1. 采样方法:低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法
2. 采样速率:200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz
3. 脉冲宽度:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs
4. 波速设置:交联、聚氯、油浸纸、不滴油和未知类型自设定
5. 冲击高压:35kV及以下
6. 测试距离:<60km,盲区≤1m
7. 分 辨 率:1m
8. 测试精度:1m
9. 显示方式:工业级10.4寸彩色触摸液晶屏
传感器在透析机中扮演着重要角色,传感器的平台化技术令设计人员受益颇多。为达到向患者提供温度与体温相同的流体,保障患者**,透析机中同时采用了温度管理解决方案与压力传感器。从单的一家配件制造商那里采购加热器组件和压力传感器,而不是从多家供应商处寻找多种温度技术和传感器,不仅可以精简制造工艺和供应链,还可简化装配,减少设计时间,让开发人员有更多时间和精力去研究其他系统。平台化传感可提供满足监管要求的完整组件,使系统达到相应质量标准。
四、工作原理
本产品采用的是时域反射(TDR)原理,即对电缆发射一电脉冲,电脉冲将在电缆中匀速传输,当遇到电缆阻抗发生变化的地方(故障点),电脉冲将产生反射。测距主机将电脉冲的发射和反射的变化以时域形式通过液晶屏显示出来,通过屏幕上的波形可直接判读故障距离。
① 开关按键:按下自锁接通电源,再按解锁断开电源。开机2分钟无任何操作时,屏幕将变暗进入屏保节能状态。我们再以万用表为例。如果表示位数为6,则其动态范围应为120dB(或6×20dB/十倍频程)。但要注意的是,后两位仍在摆动。真实动态范围只有80dB。这就是说,如果设计人员要测量1μV(或0.000001V)的电压,则该测量值的误差可能高达100μV,因为实际器件的精度仅为100μV(或0.0001V或0.0001XXV,其中,XX表示在摆动的后两位)。实际上,描述任何系统的整体精度的方法有两种:直流和交流。
② 充电端口:用于连接充电器,给电池充电。
③ 中值旋钮:顺时针旋动中值向上走动;逆时针旋动中值向下走动。(需采样刷新才有变化)大;逆时针旋动幅度减小。(需采样刷新才有变化)
⑤ 采样端口:四芯座,用于连接采样线。但在下方和上方中间的变化情况,以及它的线性度则需要后边仿真来确定。输出电压1.2全桥式改进电路普通全桥电路,传感器上下两线圈分别与匹配电阻R3和R4相连,在L1=L2时电桥平衡,当向上发生△X的位移时,铁芯上移,L1增大△L,L2减小△L,Uout的变化会比半桥方式增加近两倍,输出电压如和对上下两线圈分别采用并联和串联电容C1和C2的方式,形成谐振回路I和回路II,通过后续仿真观察这两种方式电路性能的变化情况。
⑥ 触摸式彩色液晶屏:详见“工作界面介绍”。
按“ ”键,弹出采样方式选择子菜单。子菜单中包括:“低压脉冲”、“闪络方法”和“速度测量”。仪器开机默认“低压脉冲”,根据测试需要,可选择相应的采样方式,再按“采样方式”键退出。
按“ ”键,弹出脉冲宽度选择子菜单。子菜单中包括7个选项,分别为:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根据测试距离选择合适的脉宽,按对应的子菜单键可以对脉冲宽度进行选择,仪器开机默认0.2μs,再按“脉宽”键退出此项功能。注意:在高压闪络法测试中此项不做选择。
严格地讲,流量仪表的离线检定结果只能说明其在检定条件下的计量特性,大多数的实际使用现场环境条件、仪表的安装条件和操作条件与检定条件相比有很大不同,这样会给流量仪表带来附加误差,而附加误差大小总是以一定的经验主观判断的,所以离线检定对于流量测量结果要求不高,或者说即使有附加误差也能满足预期的测量要求,不失为一种简单易行的选择。对物性参数影响的修正程度不同几乎所有流量测量仪表的测量结果都受到被测介质有关物性参数的影响,只是影响程度不一样。