产品名称：二次脉冲电缆故障测试仪 HN300系列 带电电缆识别仪现货供应

HN300电缆故障测试仪 二次脉冲电缆故障测试仪 HN300系列 带电电缆识别仪现货供应

 用于35kV及以下不同等级、不同截面、不同介质及材质的电力电缆的各类故障，包括：开路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻闪络性故障。可配合高压设备实现传统电缆故障测试的低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法。 全中文操作软件和使用界面，子菜单方式和文字提示实现人机互动。工业级10.4寸彩色触摸液晶屏显示，全中文操作软件和使用界面，子菜单方式和文字提示实现人机互动。复杂系统的调试和验证面临许多测试技术挑战，包括捕获和可视化多个不频繁或间断出现的事件，如串行数据包、激光脉冲和故障信号。为了准确测量和表征这些信号，必须在长时间内高采样率捕获它们。示波器的默认采集模式因为其有限的记录长度会强制在采样率和捕获时间进行妥协。使用更高的采样率可以更快地填充仪器的内存，减少数据采集的时间窗口。相反，捕获长时间的数据通常是以牺牲水平时间分辨率(采样率)为代价的。分段存储架构FastFrameTM分段存储允许将内存分割成多帧。

技术参数

1. 采样方法：低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法

2. 采样速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脉冲宽度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速设置：交联、聚氯、油浸纸、不滴油和未知类型自设定

5. 冲击高压：35kV及以下

6. 测试距离：＜60km，盲区≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 测试精度：1m

9. 显示方式：工业级10.4寸彩色触摸液晶屏

借助现场总线通信(HART、Profibus、FoundationFieldbus)，这些装置能提供被测仪器的quot;健康状态quot;信息，这种状态信息可由资产监测器加以利用。这些资产监测器(如ABB的80OXA扩展自动化系统)可探测到有关仪器性能的下降，通知相应的人员开展进一步调查，并在适当的情况下提供补救措施。无论作为简单的显示或报警信息执行，或是作为完整控制系统的一部分，这些功能都可让客户主动对资产使用情况进行优化，而非被动对突发事件做出反应。

 四、工作原理

       本产品采用的是时域反射（TDR）原理，即对电缆发射一电脉冲，电脉冲将在电缆中匀速传输，当遇到电缆阻抗发生变化的地方（故障点），电脉冲将产生反射。测距主机将电脉冲的发射和反射的变化以时域形式通过液晶屏显示出来，通过屏幕上的波形可直接判读故障距离。

① 开关按键：按下自锁接通电源，再按解锁断开电源。开机2分钟无任何操作时，屏幕将变暗进入屏保节能状态。其二，可以将隔离电源的输入地与输出地连接在一起变成非隔离，由于都是等电位，即不会出现打火拉弧现象。通过以上两种方法，均可以确定是否是由于隔离电源输入与输出之间的走线间距问题导致打火拉弧。整改过程：通过确定是隔离电源输入与输出之间走线间距不足，共模浪涌导致两端高压差问题。为此将打火处的走线断开，此处便不会再出现打火。同时如果其他地方有同样的问题，在断开前面的打火处后，则共模路径为转移到下一个间距不够的地方，因此需要将这些隔离间距都断开，并满足共模电压间距要求。

② 充电端口：用于连接充电器，给电池充电。

③ 中值旋钮：顺时针旋动中值向上走动；逆时针旋动中值向下走动。（需采样刷新才有变化）大；逆时针旋动幅度减小。（需采样刷新才有变化）

⑤ 采样端口：四芯座，用于连接采样线。将信号端和参考地连接到示波器面板上的参考输出，然后按Autoset。如果使用钩式前端附件，请将信号针前端牢固连接在上，确保正确连接。如组图一所示：-1-2组图一补偿调节2.检查所显示波形的形状。可能会出现的情况如图二。图二补偿过度，不足和正确补偿后半部的波形形状示意过度和不足都需要调节。以能更好的测试准确值。如果波形不正确，请调整。如下图三所示，直至波形为上面的补偿正确波形。

⑥ 触摸式彩色液晶屏：详见“工作界面介绍”。

按“       ”键，弹出采样方式选择子菜单。子菜单中包括：“低压脉冲”、“闪络方法”和“速度测量”。仪器开机默认“低压脉冲”，根据测试需要，可选择相应的采样方式，再按“采样方式”键退出。

按“       ”键，弹出脉冲宽度选择子菜单。子菜单中包括7个选项，分别为：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根据测试距离选择合适的脉宽，按对应的子菜单键可以对脉冲宽度进行选择，仪器开机默认0.2μs，再按“脉宽”键退出此项功能。注意：在高压闪络法测试中此项不做选择。

而如果C的容值越小，对电路的影响也就越小。但限于目前的测试系统，C3和串联后的电容值是几个pF的级别，而C1通常是20~30pF，所以仪器对负载电容量的影响在10%以上，终会导致测量结果产生几个ppm（单位，百万分之一）的频率偏差，通常电路设计对晶体频偏的要30ppm左右，所以这个影响还是不能忽视的。但如果使用频谱仪，配合近场测试，因为仅在空间上有电磁场的耦合，所以仪器的影响可以忽略。