产品名称：电缆故障综合测试仪 HN300系列 电缆试扎器（双控、双枪5年保修

HN300电缆故障测试仪 电缆故障综合测试仪 HN300系列 电缆试扎器（双控、双枪5年保修

 用于35kV及以下不同等级、不同截面、不同介质及材质的电力电缆的各类故障，包括：开路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻闪络性故障。可配合高压设备实现传统电缆故障测试的低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法。 全中文操作软件和使用界面，子菜单方式和文字提示实现人机互动。工业级10.4寸彩色触摸液晶屏显示，全中文操作软件和使用界面，子菜单方式和文字提示实现人机互动。实时频谱功能界面显示其中，荧光频谱图是基于频谱统计的二维图谱。在荧光频谱图中，横轴代表频率，纵轴代表幅度，像素点的色彩代表该频率点的幅度统计次数，如所示。通过荧光频谱图和无缝瀑布图对实现信号实现无丢失显示，实时频谱功能可以发现瞬态信号并显示信号的实时变化。荧光频谱原理示意图荧光频谱图的应用荧光频谱将一段时间内所统计的各个频率及相应幅度出现的次数转化为颜色，通过颜色揭示信号的概率。一般而言，荧光频谱图默认设置能够满足绝大数的信号显示要求。

技术参数

1. 采样方法：低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法

2. 采样速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脉冲宽度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速设置：交联、聚氯、油浸纸、不滴油和未知类型自设定

5. 冲击高压：35kV及以下

6. 测试距离：＜60km，盲区≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 测试精度：1m

9. 显示方式：工业级10.4寸彩色触摸液晶屏

输入电阻值应限制在10Ω以下。至少，选择电容器以地匹配分流电阻器及其电感的时间常数；或者，选择电容器以提供低于该点的极点。使输入滤波器时间常数等于或大于并联电阻及其电感时间常数：这简化为基于使用10Ω电阻来确定每个RFILT的CFILT值：如果主要目的是滤除高频噪声，则应将电容器增加至提供所需滤波的值。，100kHz的滤波频率需要一个80nF电容。该电容器可以有一个低额定电压值，但应具有良好的高频特性。

 四、工作原理

       本产品采用的是时域反射（TDR）原理，即对电缆发射一电脉冲，电脉冲将在电缆中匀速传输，当遇到电缆阻抗发生变化的地方（故障点），电脉冲将产生反射。测距主机将电脉冲的发射和反射的变化以时域形式通过液晶屏显示出来，通过屏幕上的波形可直接判读故障距离。

① 开关按键：按下自锁接通电源，再按解锁断开电源。开机2分钟无任何操作时，屏幕将变暗进入屏保节能状态。电源作为电子产品或者电池的供电设备，除了性能要满足供电产品的要求外，其自身的保护措施也非常重要。如过压、过流、过功率、过温保护等，过流保护点测试，也就是OCP测试。以前是手工去调整电流的大小，人工观察现像。但是手和眼睛的反应速度等因素导致要进行多次测量才能确定。全天科技研发设计的可编程直流电子负载自带OCP和OPP测试功能，很好的解决了此问题。在此菜单下使用者可以设置电流或功率开始值、结束值、步数、每步时间、并且还可以设定触发电压及规格上下限。

② 充电端口：用于连接充电器，给电池充电。

③ 中值旋钮：顺时针旋动中值向上走动；逆时针旋动中值向下走动。（需采样刷新才有变化）大；逆时针旋动幅度减小。（需采样刷新才有变化）

⑤ 采样端口：四芯座，用于连接采样线。接触式的测试方法中测温元件直接与被测介质接触，直接测得被测物体的温度，因而简单、可靠、测量精度高。经常用到的如所示：.功能单一的测温仪产品的温升试验也是安规要求的一个重要部分，那么我们在设计一款产品时，如何实现经济而且便捷的测量呢?开关电源中MOSFET和二极管会产生开关损耗以及传导损耗、电感损耗包括线圈损耗和磁芯损耗、电容等造成的损耗，这些损耗终都以热的形式展现出来，而过热又会降低元器件性能导致损耗加剧，所以了解无用功率损失在哪里很重要。

⑥ 触摸式彩色液晶屏：详见“工作界面介绍”。

按“       ”键，弹出采样方式选择子菜单。子菜单中包括：“低压脉冲”、“闪络方法”和“速度测量”。仪器开机默认“低压脉冲”，根据测试需要，可选择相应的采样方式，再按“采样方式”键退出。

按“       ”键，弹出脉冲宽度选择子菜单。子菜单中包括7个选项，分别为：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根据测试距离选择合适的脉宽，按对应的子菜单键可以对脉冲宽度进行选择，仪器开机默认0.2μs，再按“脉宽”键退出此项功能。注意：在高压闪络法测试中此项不做选择。

X射线光谱仪的好坏常常是以X射线强度测量的理论统计误差来表示的，BX系列波长色散X射线荧光仪的稳定性和再现性，已足以保证待测样品测量的精度，被样品的制样技术成为影响准确度的至关重要的因素，在样品制备方面所花的工夫将会反映在结果的质量上。X射线荧光仪器误差的来源主要有以下几个方面：1.采样误差：非均质材料样品的代表性2.样品的制备：制样技术的稳定性产生均匀样品的技术3.不适当的标样：待测样品是否在标样的组成范围内标样元素测定值的准确度标样与样品的稳定性4.仪器误差：计数的统计误差样品的位置灵敏度和漂移重现性5.不适当的定量数学模型：不正确的算法元素间的干扰效应未经校正颗粒效应纯物质的荧光强度随颗粒的减小而增大，在多元素体系中，已经证明一些元素的强度与吸收和增应有关，这些效应可以引起某些元素的强度增加和另一些元素的强度减小。