产品名称：电缆外护套故障定位仪 HN300系列 工频线路参数测试仪生产厂家

HN300电缆故障测试仪 电缆外护套故障仪 HN300系列 工频线路参数测试仪生产厂家

 用于35kV及以下不同等级、不同截面、不同介质及材质的电力电缆的各类故障，包括：开路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻闪络性故障。可配合高压设备实现传统电缆故障测试的低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法。 全中文操作软件和使用界面，子菜单方式和文字提示实现人机互动。工业级10.4寸彩色触摸液晶屏显示，全中文操作软件和使用界面，子菜单方式和文字提示实现人机互动。文中介绍一种基于DDFS(直接频率合成)技术的可编程音频仪器测试信号源设计。该系统采用单片机作为控制器，以FPGA(现场可编程门阵列)作为信号源的主要平台，利用DDFS技术产生一个按指数衰减的频率可调正弦衰减信号。测试结果表明，该系统产生的信号其幅度可以按指数规律衰减;其频率可以在1～4KHz频率范围内按1Hz步长步进。可以方便的用于测试音频仪器设备的放大和滤波性能。在音频仪器设备的设计和维护中，广泛利用音频信号源测试这些设备的工作状态和性能指标。

技术参数

1. 采样方法：低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法

2. 采样速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脉冲宽度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速设置：交联、聚氯、油浸纸、不滴油和未知类型自设定

5. 冲击高压：35kV及以下

6. 测试距离：＜60km，盲区≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 测试精度：1m

9. 显示方式：工业级10.4寸彩色触摸液晶屏

执行实际生产任务的控制器，可以跟踪工厂车间进度，以确保对生产制造时间的优化。它还可以跟踪物料的消耗。此信息可用于调整库存，以确保在需要时物料供应充足。通过在生产零件或产品时记录生产数据，这些功能还可用于跟踪产品从头到尾的状态。保存终产品的状态，数据库的内置日期/时间戳功能，可用于满足质量保证或审核要求。2通讯功能选择自动化控制器时需要考虑的另一个重要特性是通讯能力。应提供多个以太网和串行通讯端口，以便与人机界面（HMI）、电机驱动器和其它设备轻松集成（）。

 四、工作原理

       本产品采用的是时域反射（TDR）原理，即对电缆发射一电脉冲，电脉冲将在电缆中匀速传输，当遇到电缆阻抗发生变化的地方（故障点），电脉冲将产生反射。测距主机将电脉冲的发射和反射的变化以时域形式通过液晶屏显示出来，通过屏幕上的波形可直接判读故障距离。

① 开关按键：按下自锁接通电源，再按解锁断开电源。开机2分钟无任何操作时，屏幕将变暗进入屏保节能状态。有毒气体既可以存在于生产原料中，如大多数的有机化学物质（VOC），也可能存在于生产过程的各个环节的副产品中，如氨、一氧化碳、硫化氢等等。它们是对工作人员造成危害的危险因素。这种危害不仅包括立即的伤害，如身体不适、发、死亡等等，而且包括对于长期的危害，如致残、癌变等等。对于这些有毒有害气体的检测是我们发展家应当开始引起充分重视的问题。表：常见有毒有害气体的TWA（8小时统计权重平均值）、STEL（15分钟短期暴露水平）、IDLH（立即致死量）（ppm）和MAC（车间允许浓度）mg/m3。

② 充电端口：用于连接充电器，给电池充电。

③ 中值旋钮：顺时针旋动中值向上走动；逆时针旋动中值向下走动。（需采样刷新才有变化）大；逆时针旋动幅度减小。（需采样刷新才有变化）

⑤ 采样端口：四芯座，用于连接采样线。正坡度正坡度曲线是指在整个轴线长度上，误差呈线性正递增。这种现象的产生有以下可能：材料热膨胀补偿系数不正确、材料温度测量不正确或者波长补偿不正确。俯仰和扭摆造成阿贝偏置误差、机床的线性误差。针对这些问题，可采取以下措施：检查EC10和传感器是否已连接并有反应，或者检查输入的手动环境数据是否正确；检查材料传感器是否正确以及输入的膨胀系数是否正确；使用角度光学镜组重新做一次测量，检查机床的俯仰和扭摆误差。

⑥ 触摸式彩色液晶屏：详见“工作界面介绍”。

按“       ”键，弹出采样方式选择子菜单。子菜单中包括：“低压脉冲”、“闪络方法”和“速度测量”。仪器开机默认“低压脉冲”，根据测试需要，可选择相应的采样方式，再按“采样方式”键退出。

按“       ”键，弹出脉冲宽度选择子菜单。子菜单中包括7个选项，分别为：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根据测试距离选择合适的脉宽，按对应的子菜单键可以对脉冲宽度进行选择，仪器开机默认0.2μs，再按“脉宽”键退出此项功能。注意：在高压闪络法测试中此项不做选择。

PID（PotentianInducedDegradation）是一种电势诱导衰减现象，是指组件长期在高电压下使得玻璃，封装材料之间存在漏电流，大量电荷聚集在电池表面。使得电池表面的钝化效果恶化，导致填充因子（FF），短路电流（Isc），开路电压（Voc）降低，使得组件的性能低于设计标准，发电能力也随之下降。2010年，NREL和Solon证实了无论组件采取何种技术的P型晶硅电池，组件在负偏压下都有PID的风险。