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HN300电缆故障测试仪 电缆外护套故障测试仪 HN300系列 电缆刺扎器现货供应
用于35kV及以下不同等级、不同截面、不同介质及材质的电力电缆的各类故障,包括:开路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻闪络性故障。可配合高压设备实现传统电缆故障测试的低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法。 全中文操作软件和使用界面,子菜单方式和文字提示实现人机互动。工业级10.4寸彩色触摸液晶屏显示,全中文操作软件和使用界面,子菜单方式和文字提示实现人机互动。据悉,一般测控系统有传感器、中间变换器和显示记录仪组成。传感器将被测量检出并转换成已与测量的物理量,中间变换器对传感器的输出量进行、处理、转换成后级仪表能接受的信号,输出给其他系统,或由显示记录仪对测量结果进行显示、记录。传感器是测量系统的的环节,对于控制系统来说,如果把计算机比作大脑,那么传感器就相当于五官,直接影响到系统的控制精度。传感器一般由敏感元件、转换文件、转换电路组成。由敏感元件直接感受被测量,同时它自身的某一参数值变化与被测量值的变化有确定的关系,且这一参数容易测量输出;然后由转换元件将敏感元件的输出转换成电参数;后又转换电路将转换元件输出的电参数放大,转换成便于显示、记录、处理、控制的有用电信号。

技术参数
1. 采样方法:低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法
2. 采样速率:200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz
3. 脉冲宽度:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs
4. 波速设置:交联、聚氯、油浸纸、不滴油和未知类型自设定
5. 冲击高压:35kV及以下
6. 测试距离:<60km,盲区≤1m
7. 分 辨 率:1m
8. 测试精度:1m
9. 显示方式:工业级10.4寸彩色触摸液晶屏
新一代“万人迷”——2018年2月1日,版本的LabVIEWNXG,是LabVIEW工程系统设计软件的下一代版本,引发业内震动。工程师都需要面对一个直接但复杂到难以想象的挑战:解决尚未解决的难题。甚至,人们还期望他们能以更快的速度更少的资源,来解决问题。,测试家用温控器。温控器仅由双金属线圈构成的年代已经一去不复返了。从湿度和温度传感器到无线电路和动作感应,如今的温控器融合了先进技术。系统的验证需要各样的仪器、传感器和软件专业知识,面对这些挑战,工程师应当从何入手?在工程中,尽可能找到省力的途径来测量和测试复杂系统让人感到十分困难。
四、工作原理
本产品采用的是时域反射(TDR)原理,即对电缆发射一电脉冲,电脉冲将在电缆中匀速传输,当遇到电缆阻抗发生变化的地方(故障点),电脉冲将产生反射。测距主机将电脉冲的发射和反射的变化以时域形式通过液晶屏显示出来,通过屏幕上的波形可直接判读故障距离。
① 开关按键:按下自锁接通电源,再按解锁断开电源。开机2分钟无任何操作时,屏幕将变暗进入屏保节能状态。为了描述物理层结构的特征,还必须进行频域。S参数模型说明了这些数字电路结构所展示出来的模拟特点包括:不连续点反射、频率相关损耗、串扰和EMI等性能。为使设备性能符合标准,眼图增加了重要的统计功能。为利用特性检定技术改善仿真能力,可以采用基于测试结果的S参数或RLCG模型提取技术。随着在多种工作模式下进行数字和模拟综合(时域和频域)变得越来越重要,要完成这些测试功能,通常需要使用多种测试仪表,同时操作多种仪表正变得越来越困难。
② 充电端口:用于连接充电器,给电池充电。
③ 中值旋钮:顺时针旋动中值向上走动;逆时针旋动中值向下走动。(需采样刷新才有变化)大;逆时针旋动幅度减小。(需采样刷新才有变化)
⑤ 采样端口:四芯座,用于连接采样线。综上所述,对音频仪器设备的测试源的设计和选择有幅度可变、频率可调两个基本要求。通常的激励源只能做到单一的幅度可调(而频率不变)或者频率可调(而幅度不变),没有二者皆同时可调,这样就导致了测试效率极低。为了提高测试效率,可以采用以正弦为载波包络按指数衰减的信号作为测试源。1原理及仿真1.1设计原理如所示,该信号为按指数衰减的正弦信号,即其包络为单边衰减的指数信号,包络内是按正弦载波振荡的。这样指数衰减的包络能反映出信号由大到小的变换规律,能满足放大性能动态范围的测试;而频率可调可以方便频率响应的测试。
⑥ 触摸式彩色液晶屏:详见“工作界面介绍”。
按“ ”键,弹出采样方式选择子菜单。子菜单中包括:“低压脉冲”、“闪络方法”和“速度测量”。仪器开机默认“低压脉冲”,根据测试需要,可选择相应的采样方式,再按“采样方式”键退出。
按“ ”键,弹出脉冲宽度选择子菜单。子菜单中包括7个选项,分别为:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根据测试距离选择合适的脉宽,按对应的子菜单键可以对脉冲宽度进行选择,仪器开机默认0.2μs,再按“脉宽”键退出此项功能。注意:在高压闪络法测试中此项不做选择。
泰克科技公司日前宣布,为Keithley4200A-SCS参数仪推出两款源测量单元(SMU)模块,即使在由于长电缆和复杂的测试设置而产生高负载电容时,其仍能执行低电流测量。许多主要测试应用都面临着这一挑战,如LCD显示器制造和卡盘上的纳米FET器件测试。在被测器件本身电容很小的情况下,许多低电流测量应用中所需要的测试设置也会增加SMU输出端的电容。当测试连接电容太大时,终的低电流测量结果可能会变得不稳定。