产品详情
  • 产品名称:电缆外护套故障测试仪 HN300系列 高压电桥测距仪30年经验

  • 产品型号:HNDL
  • 产品厂商:华能
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简单介绍:
适用于JP柜,配电箱温升试验,电力系统技术人员检验电流互感器保护装置及二次回路电流试验。也可用于开关,电缆、直流电流传感器和其它电器设备作电流负载试验及温升试验。电缆外护套故障测试仪 HN300系列 高压电桥测距仪30年经验
详情介绍:


HN300电缆故障测试仪 电缆外护套故障测试仪 HN300系列 高压电桥测距仪30年经验
电缆外护套故障测试仪 HN300系列 高压电桥测距仪30年经验
 
用于35kV及以下不同等级、不同截面、不同介质及材质的电力电缆的各类故障,包括:开路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻闪络性故障。可配合高压设备实现传统电缆故障测试的低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法。 全中文操作软件和使用界面,子菜单方式和文字提示实现人机互动。工业级10.4寸彩色触摸液晶屏显示,全中文操作软件和使用界面,子菜单方式和文字提示实现人机互动。否则,有可能造成光缆打滚折断纤芯。分纤将光纤穿过热缩管。将不同束管,不同颜色的光纤分开,穿过热缩管。剥去涂覆层的光纤很脆弱,使用热缩管,可以保护光纤熔接头。打开古河S176熔接机电源,采用预置的42种程式进行熔接,并在使用中和使用后及时去除熔接机中的灰尘,特别是夹具,各镜面和V型槽内的粉尘和光纤碎未。CATV使用的光纤有常规型单模光纤和色散位移单模光纤,工作波长也有1310nm和1550nm两种。

电缆外护套故障测试仪 HN300系列 高压电桥测距仪30年经验
技术参数


1. 采样方法:低压脉冲法、冲击闪络法、速度测量法

2. 采样速率:200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脉冲宽度:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速设置:交联、聚氯、油浸纸、不滴油和未知类型自设定

5. 冲击高压:35kV及以下

6. 测试距离:<60km,盲区≤1m

7.  率:1m

8. 测试精度:1m

9. 显示方式:工业级10.4寸彩色触摸液晶屏

电缆外护套故障测试仪 HN300系列 高压电桥测距仪30年经验上升和下降时间决定脉冲行为,因此也决定着雕刻速度。混合气体中的氮会降低脉冲频率至1kHz左右。这对于过去的很多应用已经足够,但对于未来的需求来说是不够的。典型的激光功率和时间关系图显示出±5~1%的偏差值。这不适合控制3D雕刻材料。被测试的激光器的激光指向稳定性出奇的好,这对于声光调制器的使用(对入射角非常敏感)将起着直接的影响。在接近声光调制器的功率极限时,锗晶体对的激光场模式非常敏感。

 四、工作原理

       本产品采用的是时域反射(TDR)原理,即对电缆发射一电脉冲,电脉冲将在电缆中匀速传输,当遇到电缆阻抗发生变化的地方(故障点),电脉冲将产生反射。测距主机将电脉冲的发射和反射的变化以时域形式通过液晶屏显示出来,通过屏幕上的波形可直接判读故障距离。

① 开关按键:按下自锁接通电源,再按解锁断开电源。开机2分钟无任何操作时,屏幕将变暗进入屏保节能状态。先测试出可控硅的峰值电压,将电线正负极连接至K两极,接地线接至室内主接地上,逐渐升压,测试其漏电流数值。进行漏电测试后,逐渐升压,观测漏电流,当数值超过其额定峰值电压后,可控硅被击穿,但采用此方法可能会破坏其PN结,并且只能测试其是否导通,而不能测试其导通是否良好,故不再采用此法进行测试。摇表测试法用摇表对可控硅进行测量,参照之前使用的漏电检测法。为防止摇表法测试过程中击穿或损坏可控硅,改变摇表操作方法,即要对摇表电压和转速进行控制,两笔端链接K极对其进行测试。

② 充电端口:用于连接充电器,给电池充电。

③ 中值旋钮:顺时针旋动中值向上走动;逆时针旋动中值向下走动。(需采样刷新才有变化)大;逆时针旋动幅度减小。(需采样刷新才有变化)

⑤ 采样端口:四芯座,用于连接采样线。超级电容在电动车领域有着广阔的应用前景,将是未来电动车发展的重要方向之一。超级电容的机理与特点超级电容是近期发展起来的一种新型储能元件,是一种具有超级储电能力、可提供强大脉动功率的物理二次电源,它与常规电容器不同,其容量可达数万法。超级电容按储能机理主要分为三类:由碳电极和电解液界面上电荷分离产生的双电层电容;采用金属氧化物作为电极,在电极表面和体相发生氧化还原反应而产生可逆化学吸附的法拉第电容;由导电聚合物作为电极而发生氧化还原反应的电容。电缆外护套故障测试仪 HN300系列 高压电桥测距仪30年经验

⑥ 触摸式彩色液晶屏:详见“工作界面介绍”。

“       ”键,弹出采样方式选择子菜单。子菜单中包括:“低压脉冲”、“闪络方法”和“速度测量”。仪器开机默认“低压脉冲”,根据测试需要,可选择相应的采样方式,再按“采样方式”键退出。

“       ”键,弹出脉冲宽度选择子菜单。子菜单中包括7个选项,分别为:0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根据测试距离选择合适的脉宽,按对应的子菜单键可以对脉冲宽度进行选择,仪器开机默认0.2μs,再按“脉宽”键退出此项功能。注意:在高压闪络法测试中此项不做选择

当总线变为空闲时,若RXD引脚输出低电平,则可能导致MCU接收到错误数据或MCU在正常数据后误接收1个000。RSM485PCHT门限电平数据发生了什么变化?如所示,1在AB差分电压处于±200mV门限电平之内时输出高电平,2在AB差分电压处于±200mV门限电平之内时输出低电平,可以看出,2可能导致MCU接收到错误的数据,并且在数据后误接收到1个000数据。数据后多000如所示,若总线上持续存在数据信号或连续发送多个字节数据,在数据之间存在的空闲状态可能会被2识别为1个起始位,从而导致数据连续错误。电缆外护套故障测试仪 HN300系列 高压电桥测距仪30年经验



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