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HN1015A蓄电池充放电,活化测试仪 单体蓄电池放电测试仪 HN1016B 直流接地故障查找仪试验方法
本仪器是针对整组蓄电池系列测试,不同规格型号对整组要求不同,具体根据仪表为准。单体电池电压为2V\12V(根据具体指标定)的铅酸蓄电池组进行测试的仪器。
测试步骤介绍半导体生产流程由晶圆制造,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆制造和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT(WaferAcceptanceTest)测试,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),对Wafer划片槽(ScribeLine)测试键(TestKey)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定,CMOS的电容,电阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据,测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT测试机台上,由WATRecipe自动控制测试位置和内容,测完某条TestKey后,ProbeCard会自动移到下一条TestKey,直到整片Wafer测试完成。
1.4.1在线监测测试:
步:连接单体电压采集器。(详见章节2.4)
步:把整组电压测试线连接到电池组两端。(详见章节2.5)
步:插入电源,主机开机。
第四步:进入在线监测参数设置。(详见章节3.1)
第五步:“确定”开始测试。
1.4.2 放电测试:同时,还需要解决相关的测试效率选优算法和评价体系等问题。系统建模问题并行测试系统具有复杂的网状特征,系统建模除了要描述包含哪些UUT、哪些测试任务、测试任务和仪器之间的耦合关系等之外,更重要的是要描述清楚并行测试任务之间的控制相关性和时序相关性。信号链路动态建立问题再好的车也得跑在平坦舒适的路上方能彰显其性能的和不凡。并行测试不但要提供“路”,而且需要提供“多车道路”,更需要根据车型提供“个性化道路”。
步:连接单体电压采集器(详见章节2.4)。纯负载不具此功能
步:放电开关,拨到分的位置(防止放电电缆反接,损坏仪器;反接告警提示)。
步:把放电线一端连到主机,另一端连到电池组两端。(注意红正黑负)。接反会告警提示。(详见章节2.5)
第四步:把整组电压测试线连接到电池组2端。
第五步:插入电源(电池组供电不用接AC220V电源,直接将放电开关拨到合的位置),主机开机。
第六步:进入放电参数设置。(详见章节3.2)
第七步:将放电开关拨到合的位置(电池组供电省略此步骤)。
第八步:“确定”开始测试。
1.4.3容量快测(选配功能)因为使用了以低电阻、高速开关为特点的SiC和GaN等新型功率元件的PWM变频器和AC/DC转换器、DC/DC转换器,其应用系统的普及正在不断加速。构成这些系统的变频器转换器马达等装置的开发与测试则需要相较以前有着更高精度、更宽频带、更高稳定性的能够迅速测量损耗和效率的测量系统。各装置的损耗和效率与装置的输入功率和输出功率同时测量,利用它们的差和比计算。功率通过电压和电流测量,机械输出通过扭矩和转速测量并计算。
步:连接单体电压采集器(详见章节2.4)。
步:放电开关,拨到分的位置(防止放电电缆反接,损坏仪器;反接告警提示)。
步:把放电线一端连到主机,另一端连到电池组两端。(注意红正黑负)。接反会告警提示。(详见章节2.5)
第四步:把整组电压测试线连接到电池组2端。
第五步:插入电源,主机开机。
第六步:进入容量快测参数设置。(详见章节3.3)
第七步:将放电开关拨到合的位置。
第八步:“确定”开始测试。精度误差可以称为灵敏度错误。分辨率就是测得值的表示或显示精细度。即使系统的分辨率为12位,也并不意味着它能测量精度为12位的值。,假设一块万用表可以用6位数来表示测量值。则该万用表的分辨率为6位,如果后一位或两位数似乎在测量值之间摆动,则分辨率会受到影响,测量精度同样会受到影响。系统或信号链里的误差会一直累积,使原始测量值失真。了解系统的动态范围也很关键,以便衡量要设计的信号链的精度和分辨率。单体蓄电池放电测试仪 HN1016B 直流接地故障查找仪试验方法