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  • 产品名称:单体蓄电池充电放电测试仪 HN1016B 直流系统接地故障测试仪定制定做

  • 产品型号:HNDL
  • 产品厂商:华能
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简单介绍:
适用于JP柜,配电箱温升试验,电力系统技术人员检验电流互感器保护装置及二次回路电流试验。也可用于开关,电缆、直流电流传感器和其它电器设备作电流负载试验及温升试验。单体蓄电池充电放电测试仪 HN1016B 直流系统接地故障测试仪定制定做
详情介绍:

HN1015A蓄电池充放电,活化测试仪 单体蓄电池充电放电测试仪 HN1016B 直流系统接地故障测试仪定制定做

单体蓄电池充电放电测试仪 HN1016B 直流系统接地故障测试仪定制定做

本仪器是针对整组蓄电池系列测试,不同规格型号对整组要求不同,具体根据仪表为准。单体电池电压为2V\12V(根据具体指标定)的铅酸蓄电池组进行测试的仪器。

测试步骤介绍但也不排除由于浮子导向杆与止动环不同心,造成浮子卡死。处理时可将仪表拆下,将变形的止动器取下整形,并检查与导向杆是否同心,如不同心可进行校正,然后将浮子装好,手推浮子,感觉浮子上下通畅无阻卡即可,另外,在浮子流量计安装时一定要垂直或水平安装,不能倾斜,否则也容易引起卡表并给测量带来误差。测量误差大安装不符合要求;对于垂直安装浮子流量计要保持垂直,倾角不大于20度;对于水平安装浮子流量计要保持水平,倾角不大于20度;浮子流量计周围100mm空间不得有铁磁性物体;安装位置要远离阀门变径口、泵出口、工艺管线转弯口等。

1.4.1在线监测测试:

步:连接单体电压采集器。(详见章节2.4)

步:把整组电压测试线连接到电池组两端。(详见章节2.5)

步:插入电源,主机开机。

第四步:进入在线监测参数设置。(详见章节3.1)

第五步:“确定”开始测试。

1.4.2 放电测试:单体蓄电池充电放电测试仪 HN1016B 直流系统接地故障测试仪定制定做摩尔定律美国人高登摩尔提出摩尔定律,即微处理器的速度每18个月翻一翻。这意味着同等价位的微处理器速度会变得越来越快,同等速度的微处理器会变得越来越便宜。作为迄今为止半导体发展意义深远的摩尔定律,集成电路数十年的发展历程,令人信服地证实了它的正确性。它并不是严格的物理定律,而是基于一种几乎不可思议的技术进步现象所做出的总结。在过去10年中,摩尔定律所描述的技术进步不断冲击着计算机工业:晶体管越做越小,芯片性能越来越高,计算能力呈指数增长,生产成本和使用费用不断降低。

步:连接单体电压采集器(详见章节2.4)。纯负载不具此功能

步:放电开关,拨到分的位置(防止放电电缆反接,损坏仪器;反接告警提示)。

步:把放电线一端连到主机,另一端连到电池组两端。(注意红正黑负)。接反会告警提示。(详见章节2.5)

第四步:把整组电压测试线连接到电池组2端。

第五步:插入电源(电池组供电不用接AC220V电源,直接将放电开关拨到合的位置),主机开机。

第六步:进入放电参数设置。(详见章节3.2)

第七步:将放电开关拨到合的位置(电池组供电省略此步骤)。

第八步:“确定”开始测试。

1.4.3容量快测(选配功能)单体蓄电池充电放电测试仪 HN1016B 直流系统接地故障测试仪定制定做但一般有哪些行之有效的降低纹波噪声的对策呢?下面我们抛砖引玉,简单讨论常用的八个方法。电源PCB走线和布局反馈线路应避开磁性元件、开关管及功率二极管。输出滤波电容放置及走线对纹波噪声至关重要,如所示,传统设计中由于到达每个电容的阻抗不一样,所以高频电流在三个电容中分配不均匀,改进设计中可以看出每个回路长度相当即高频电流会均匀分配到每个电容中。如果PCB是多层板,可以选择和主电流回路层近一层覆地,覆地可以有效的解决噪声问题,注意,尽量保证覆地的完整性。

步:连接单体电压采集器(详见章节2.4)。

步:放电开关,拨到分的位置(防止放电电缆反接,损坏仪器;反接告警提示)。

步:把放电线一端连到主机,另一端连到电池组两端。(注意红正黑负)。接反会告警提示。(详见章节2.5)

第四步:把整组电压测试线连接到电池组2端。

第五步:插入电源,主机开机。

第六步:进入容量快测参数设置。(详见章节3.3)

第七步:将放电开关拨到合的位置。

第八步:“确定”开始测试。按照存储芯片MicroSD卡供电要求的范围:2.7V-3.6V;不允许超出此范围,否则,芯片在不稳定的电压下工作会有比较大的风险,甚至会对卡片的正常工作带来影响。需要考虑的是示波器的设置,究竟是否需要进行20MHZ的带宽限制?详细的使用环境如下图所示:如何去测试“高频开关电源”噪声IPAD刚引出来的那个端口可以当做电源的源端,而通过后端的外围模块后在末端进行测试的时候,电源通过了一段PCB走线,包括一些芯片回路,应该存在高频的噪声,如果采用20MHZ的带宽限制,实际上是将原本属于模块的噪声给滤掉了,为此,我们进行了对比测试进行验证:步,我先验证IPAD的供电端在工作时的输出,如下图:通过直接验证IPAD的输出口的电压,保证源端的供电是正常的;通过测试,我们发现在源端测量的电压值在3.4V(500MHZ带宽测量)左右,峰峰值29mV,是非常稳定的供电;可以排除源端供电的问题,接下来,我们直接在通过整个模块后在MicroSD卡的供电脚SDVCC对电行测量,如下图:当我们在图片上的点进行测试的时候,发现在高频开关电源上有相当大的噪声,使得电压超出了规范要求的范围,值达到了3.814V,峰峰值达854mV;但当我们将示波器设置为20MHZ带宽的时候,高频开关电源变的非常好,完全在供电要求的范围内;正如在本文开头描述的,在本次高频开关电源测试过程中,已经不是高频开关电源纹波测量,而应该是噪声。单体蓄电池充电放电测试仪 HN1016B 直流系统接地故障测试仪定制定做单体蓄电池充电放电测试仪 HN1016B 直流系统接地故障测试仪定制定做

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