产品名称：整组蓄电池充电放电测试仪 HN1016B 直流系统故障测试仪试验方法

HN1015A蓄电池充放电，活化测试仪 整组蓄电池充电放电测试仪 HN1016B 直流系统故障测试仪试验方法

本仪器是针对整组蓄电池系列测试，不同规格型号对整组要求不同，具体根据仪表为准。单体电池电压为2V\12V（根据具体指标定）的铅酸蓄电池组进行测试的仪器。

测试步骤介绍另外，重心法需要使用至少两根谱线，而且受窗函数主瓣宽度限制，频率重心法所能支持的频率下限只能达到频率分辨率的三倍以上。由于频率重心法没有反馈过程，不依赖于信号，模拟电路实现简单，理论上只要采样率和使用的数据点足够，就能得到正确的结果。特别地，因为同步采样需要硬件电路，受限与成本与体积，大部分测量仪器只支持一到两个PLL源，而频率重心法无此限制，甚至可任意定义基波源（对应于PLL源，用于确定基波）。应用实例PA功率仪提供了三种谐波模式：常规谐波、谐波和IEC谐波。

1.4.1在线监测测试：

步：连接单体电压采集器。（详见章节2.4）

步：把整组电压测试线连接到电池组两端。（详见章节2.5）

步：插入电源，主机开机。

第四步：进入在线监测参数设置。(详见章节3.1）

第五步：“确定”开始测试。

1.4.2 放电测试：半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。

步：连接单体电压采集器（详见章节2.4）。纯负载不具此功能

步：放电开关，拨到分的位置(防止放电电缆反接，损坏仪器；反接告警提示)。

步：把放电线一端连到主机，另一端连到电池组两端。（注意红正黑负）。接反会告警提示。（详见章节2.5）

第四步：把整组电压测试线连接到电池组2端。

第五步：插入电源(电池组供电不用接AC220V电源，直接将放电开关拨到合的位置)，主机开机。

第六步：进入放电参数设置。(详见章节3.2）

第七步：将放电开关拨到合的位置（电池组供电省略此步骤）。

第八步：“确定”开始测试。

1.4.3容量快测（选配功能）先前，我们介绍过几种主要的测距/距离传感器的原理及特点，其中，激光测距传感器因其抗干扰能力强，精度高的优势，自诞生以来，得到了的发展，在各行各业都发挥着巨大的作用。年世界上台红宝石激光器问世不久，以精密测距为主要功能的激光测距技术便随之诞生了。台红宝石激光器经过了5多年的发展，其发展大致表现在两个方面：是应用新技术和设备提高测距精度和观测数据量；其次是提高测距系统的自动化程度，减小人力和物力的消耗。

步：连接单体电压采集器（详见章节2.4）。

步：放电开关，拨到分的位置(防止放电电缆反接，损坏仪器；反接告警提示)。

步：把放电线一端连到主机，另一端连到电池组两端。（注意红正黑负）。接反会告警提示。（详见章节2.5）

第四步：把整组电压测试线连接到电池组2端。

第五步：插入电源，主机开机。

第六步：进入容量快测参数设置。(详见章节3.3）

第七步：将放电开关拨到合的位置。

第八步：“确定”开始测试。关于光谱入门光谱是一种测量技术；它通过测量材料与不同波长光的相互作用情况来检查材料的属性。有几种不同的交互作用可被测量，包括材料对光的吸收、反射和透射。材料的特性可通过测量有多少光能被吸收以及哪些波长的能量被吸收进行。吸收的波长取决于材料成分——脂肪、蛋白质和不同类型的糖分子——而吸收的强度由材料的内部成分的浓度决定。根据由材料表面层反射光的强度和波长，也可以对材料进行定性，而反射光的强度和波长由成分和表面本身的属性决定。整组蓄电池充电放电测试仪 HN1016B 直流系统故障测试仪试验方法