产品名称：蓄电池充放电机 HN1016B 直流接地故障查找仪试验方法

HN1015A蓄电池充放电，活化测试仪 蓄电池充放电机 HN1016B 直流接地故障查找仪试验方法

本仪器是针对整组蓄电池系列测试，不同规格型号对整组要求不同，具体根据仪表为准。单体电池电压为2V\12V（根据具体指标定）的铅酸蓄电池组进行测试的仪器。

测试步骤介绍下面针对某高铁通讯问题进行简要的实例讲解。总线延迟产生原因CAN总线主要制约其传输距离，由于高铁列车的车身较长通讯点较多，就会导致数据传输和响应的延迟。导线在传输数据时是存在延迟的，一般通常延迟为5ns/m，同时隔离器件的不同也会导致不同的延迟。其中还与导线材质（镀金的0.2平方米相当于1.0平方米的铜线）、CAN与隔离方式有关，：光耦隔离延迟要比磁耦隔离大得多。如果CAN的重同步不能弥补传输中所产生的延迟，就会导致应答定界符的位宽变大，终导致应答定界符在识别过程中识别出错，将隐性电平识别为显性电平，出现定界符错误。

1.4.1在线监测测试：

步：连接单体电压采集器。（详见章节2.4）

步：把整组电压测试线连接到电池组两端。（详见章节2.5）

步：插入电源，主机开机。

第四步：进入在线监测参数设置。(详见章节3.1）

第五步：“确定”开始测试。

1.4.2 放电测试：当总线接口受到静电放电时，由于总线侧悬空，能量只能通过隔离栅的等效电容Ciso进行泄放，由于Ciso非常小，仅有几皮法至十几皮法，Ciso被迅速充电，两端电压Viso会非常高，几乎等同于放电电压。电压施加在隔离接口模块的隔离栅，若电压超出了隔离栅的电压承受范围，则会导致内部隔离栅损坏。图3对于一般的隔离接口模块，隔离栅可承受的静电放电电压只有4kV，对于更高等级的6kV或8kV的静电来说是非常脆弱的，极易出现损坏情况。

步：连接单体电压采集器（详见章节2.4）。纯负载不具此功能

步：放电开关，拨到分的位置(防止放电电缆反接，损坏仪器；反接告警提示)。

步：把放电线一端连到主机，另一端连到电池组两端。（注意红正黑负）。接反会告警提示。（详见章节2.5）

第四步：把整组电压测试线连接到电池组2端。

第五步：插入电源(电池组供电不用接AC220V电源，直接将放电开关拨到合的位置)，主机开机。

第六步：进入放电参数设置。(详见章节3.2）

第七步：将放电开关拨到合的位置（电池组供电省略此步骤）。

第八步：“确定”开始测试。

1.4.3容量快测（选配功能）?位移量同步比较动态测量仪器。如测量线位移和角位移的渐开线齿形检査仪、丝杠动态检査仪，以及测量角位移和角位移的齿形单面啮合检査仪、传动链测量仪等。在这类仪器中，测量角位移绝大多数用光栅式传感器，测量线位移也多数用光栅式传感器。?髙精度机床上的线位移和角位移测量。如高精度的光学坐标镗床、长刻线机和圆刻线机等。?数控机床上的位移测量。当前在数控机床的检测系统中，光栅式传感器用得很普遍，如数控车床、数控铣床，以及数控滚齿机等。

步：连接单体电压采集器（详见章节2.4）。

步：放电开关，拨到分的位置(防止放电电缆反接，损坏仪器；反接告警提示)。

步：把放电线一端连到主机，另一端连到电池组两端。（注意红正黑负）。接反会告警提示。（详见章节2.5）

第四步：把整组电压测试线连接到电池组2端。

第五步：插入电源，主机开机。

第六步：进入容量快测参数设置。(详见章节3.3）

第七步：将放电开关拨到合的位置。

第八步：“确定”开始测试。一般来说，时钟频率跑的越快，则CPU每秒所能完成的运算次数就越多，性能自然更好，随着时钟频率的增加，CPU就会变得越来越热，这是CPU内部CMOS管耗散功率加大的体现，过高的温度会影响系统的运行，所以有必要采取措施来“监控”CPU的温度，把它限制在一定温度范围内，以确保CPU的可靠运行。由于二极管制造工艺的性，我们可以利用二极管的伏安特性来测量CPU的温度，它的伏安特性如下图：，将PN结用外壳封装起来，并加上电极引线就构成了半导体二极管，简称为二极管。蓄电池充放电机 HN1016B 直流接地故障查找仪试验方法