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HN10A互感器特性综合测试仪青岛华能供应 极速多台互感器检定装置 厂家发货

HN12A变频式互感器综合仪（CT/PT仪）

测量校核型号的CT、PT，包括保护CT、计量CT、TP级暂态CT、励磁饱和电压达到40KV的CT、变压器套管CT、各电压级PT等. 点电压/电流、10%(5%)误差曲线、准确限值系数、仪表保安系数、二次时间常数、剩磁系数、准确级、饱和和不饱和电感等CT、PT参数的测量.CAN测试问题：只使用示波器测量CAN边沿时间，需要人为操作记录多次时间。整车CAN总线拥有多个零部件，测试CAN边沿时间需要花费大量时间以及人力，而这还只是整车CAN一致性测试的其中一项，完成测试要求，需要一个人测试三天。随着效率要求越来越高，整车厂更希望将时间花费在研发汽车应用新技术。CANDT基于汽车行业对CAN总线测试手段繁杂，致远电子自主研发的CANDT一致性测试系统，可构建CAN总线**保障体系，自动化完成CAN总线物理层、链路层及应用层自动化测试。

自动给出点电压/电流、 10％误差曲线、 5％误差曲线、准确限值系数（ALF）、 仪表保安系数（FS）、 二次时间常数(Ts)、剩磁系数(Kr)、准确级、饱和和不饱和电感等参数。你也可在高速应用中关闭抖动功能，这样就不用取平均值。16位数据采集板在设计正确时实际可以执行18位分辨率而无需抖动，通常16位板上的自然系统噪声情况比较好，可返回多个测量值取平均。另一个经常被忽略的是温度漂移误差，计算机或台式测量仪器的温度都会发生变动，计算机系统中的数据采集板一般工作在0到55℃温度范围，定制的电阻网络和高精度元件可以帮助把温度漂移维持在6ppm/℃以内。另外，数据采集板常常会调用一个自校正函数，将温度漂移维持在更低的水平(约0.6ppm/℃)。

具体接线步骤和说明如下：

断开电力线与CT一次侧的连接，未接地的电力线较长，会给CT一次侧的测量引入较大干扰，参见图3.4。

将CT一次侧一端连接至CTPT仪CT一次侧/PT二次侧黑色端子将CT一次侧另一端连接至CTPT仪CT一次侧/PT二次侧红色端子将CTPT仪的接地柱连接到保护地PE将按照图3.3所示，断开被测CT二次侧和二次负荷的连接在对变比值相同的多绕组电流互感器进行CT或CT比差角差测试时，没有测试的二次绕组应短接，否则测试误差将会偏大保护10P10，当前电机测试方法随着电机行业的飞速发展，电机测试项目越来越多，测功机的功能也随之丰富起来，电机行业当前需要对电机与驱动器进行完整的测试与性能，电机性能，驱动器以及对控制特性瞬态波形与控制响应的，传统的测功机是无法做到的，电机测试可以分为两大类，即工厂试验和研发试验，为电机行业测试的新需求。电机行业测试新需求利用PA功率仪，可对电机的输入电参数进行高精度测量;配合电机传感器，PA功率仪可对电机的输出机械特性参数进行测量，并求出其机械功率大小;lPA功率仪还可提供矢量图、谐波、周期等特色功能，电机的性能特性。暂态TPY三个绕组的2000/1的CT，进行0.5级绕组的比差角差测量时应按照图3地线可靠性地线回路的可靠性主要由以下几个主要关键因素决定：接地金属的连接面，包括接地板之间、接地线和接地板之间的连接情况；涂覆层及润滑油对传导地线连接板及其紧固件的影响；潜在的腐蚀；潜在的机械退化。汽车上接地的符号以及接地回路见下整车电气地：主要为DC回路中发电机和蓄电池，以及AC回路中所有产品RF地；整车结构地：标识为汽车结构件（发动机、白车身等）接地标识；产品电路接地：产品电路接地，包括模拟地、数字地都可以使用此符号；实车使用的接地结构图图1实车的接地结构图此为实车使用的接地结构图，其中所有的接地终回到蓄电池和发电机的负。.4.1进行接线具体接线步骤和说明如下：将CTPT仪的接地柱连接到保护地PE将按照图3.6所示，断开PT二次侧和二次回路的连接将CTPT仪功率输出和CT二次侧/PT一次侧的黑色端子连接至二次负荷的一端，参见图3.6将CTPT功率输出和CT二次侧/PT一次侧的红色端子连接至二次负荷的另一端为了消除接触电阻的影响，在连接CTPT仪的端子时，CT二次侧/PT一次侧的连接端子应保持在功率输出端子的内侧半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。青岛华能供应 极速多台互感器检定装置 厂家发货