产品名称：青岛华能专业定制 温升试验设备 定制定做

HNWDL-8000温升三相大电流发生器 青岛华能专业定制 温升试验设备 定制定做

又称：大电流温升试验设备，大电流温升试验系统，大电流温升试验装置

功能简介：

     HNWDL-10000温升三相大电流发生器主要用于母线槽，开关，开关柜和其它电器设备作电流负载试验及温升试验。

功能特点：

1）内置高配置工控机，采用可编程控制器西门子S730PLC作为中心处理器，对交流信号进行实时扫描,实现监测和闭环控制，并设计设置管理，只有获得相应操作权限的人员，才能进行某些功能的操作。从特性来说，PCA82C250/251在高速波特率下过冲很严重，在进行CE认证时通不过认证标准，而TJA1040/1050的电磁辐射就小的多，可以通过CE认证。因为世界上CAN的需求量增大，TI公司、Freescale公司、美信公司、Microhip公司纷纷推出了自己的高速CAN。本文对NXP的新旧两类，以及SN65HVD251(TI公司生产)和MC33901(Freescale公司生产)进行对比测试。

2）进口PC机15英寸真彩大液晶触摸工业平板电脑操作，采用支持现场总线技术的智能型传感器，实现数据传送的全数字化，显示操作单元选用了触摸式彩色液晶显示屏，全中文菜单，界面清晰直观，操作简单方便。测试无需外接任何辅助设备，全自动控制，式操作，快捷、简单、方便

3）本仪器测试方法有全自动测试与手动测试两种方法，只需设置简单的试验电流与时间即可。带有自动稳流系统，配有4个USB口，轻松U盘、打印机等多种设备。并以通过鼠标接口直接操作。提供RS232和RS485两种通讯接口选择，可与后台计算机连接，通过RS232接口可以直接与电脑PC机通讯，可以打印曲线，提供电脑通讯软件；实现数据和温度曲线打印；远端无法接收到数据——地电势差存在许多实际应用中，通信距离可达几千米，节点之间的距离很远。设计者常常直接将每个节点的参考地接于本地的大地，作为信号的返回地，看似正常可靠的做法，却存在的隐患。即使调试正常的系统，也可能在使用一段时间后出现问题。常常被忽略的问题是：两个节点之间大地也可能存在很大的电势差。。。实际的大地并不是理想的“0”电位，大地也是导体，也存在阻抗。当大的电流流过大地时，流过电流的大地两端也会存在电势差。

4）只需设置好目标电流即可，无需人工监控，仅需设定测试、电流和步长，省去手动调压、人工记录、描绘曲线等烦琐劳动，减小劳动强度，提高工作效率也可工作结束后把数据读到电脑上查看即可。

5）有超过限定值自动报功能具有可靠的过热、过流、过压及短路自我保护功能。交流调压装置保护应采用微机自动保护控制和机械微动限位开关双重保护，确保恒流电源正常工作，提高产品的**性、可靠性。

且检测精度，工作稳定性和使用寿命都有很高的要求，因此直插式氧很难采用传统氧化锆氧的整体氧化锆管状结构，而多采取技术要求较高的氧化锆和氧化铝管连接的结构。密封性能是这种氧化锆氧的关键技术之一。目前上进的连接方式，是将氧化锆与氧化铝管的焊接在一起，其密封性能，与采样式检测方式比，直插式检测有显而易见的优点：氧化锆直接接触气体，检测精度高，反应速度快，维护量较小。当测量烟气温度高于700℃时，传感器组成中省去加热器和测温热电偶。

主要技术指标：电流值由客户根据需要确定

型号		HNWDL-8000A
大输出电流		交流单相8000A  3组
电路方式		电动柱式调压器
交流输入	相线	3Φ4W +G
	电压	380V±10%，50Hz±2%三相四线
	输入电流	834A
输出	相线	1Φ2W +G
	开路电压	0-20V自动转换
	电流	AC  0-8000A连续可调   准度：0.5
	稳流准度	输出电流≤±0.2%
	输出端子	接线端子
	保护	电子电路快速侦测过电压、过电流、过高温自动跳脱保护及告装置 非测试状态电压为零，电流为零

青岛华能专业定制 温升试验设备 定制定做半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。